Defeitos complexos relacionados ao oxigenio em silicio (1985)
- Authors:
- USP affiliated authors: LEITE, JOSE ROBERTO - IF ; GOMES, VIVILI MARIA SILVA - IF
- Unidade: IF
- Language: Português
- Source:
- Título: Ciencia e Cultura
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 37, n. 7 supl., p. 251, jul. 1985
- Conference titles: Reunião Anual da SBPC
-
ABNT
GOMES, V M S e LEITE, J. R. e ASSALI, Lucy Vitoria Credidio. Defeitos complexos relacionados ao oxigenio em silicio. Ciencia e Cultura. [S.l.]: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. . Acesso em: 11 mar. 2026. , 1985 -
APA
Gomes, V. M. S., Leite, J. R., & Assali, L. V. C. (1985). Defeitos complexos relacionados ao oxigenio em silicio. Ciencia e Cultura. Instituto de Física, Universidade de São Paulo. -
NLM
Gomes VMS, Leite JR, Assali LVC. Defeitos complexos relacionados ao oxigenio em silicio. Ciencia e Cultura. 1985 ; 37( 7 supl.): 251.[citado 2026 mar. 11 ] -
Vancouver
Gomes VMS, Leite JR, Assali LVC. Defeitos complexos relacionados ao oxigenio em silicio. Ciencia e Cultura. 1985 ; 37( 7 supl.): 251.[citado 2026 mar. 11 ] - Microscopic models of 'HG POT.+', 'AU POT.0' and 'PT POT.-' Isoelectronic interstitial impurities in silicon
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