ReP USP - Resultado da busca

Artigo de periodico
Phonon scattering mechanism in thermoelectric materials revised via resonant x-ray dynamical diffraction (2020)
Valerio, Adriana; Penacchio, Rafaela Felix da Silva ; Estradiote, Maurício B.; Cantarino, Marli dos Reis ; Garcia, Fernando Assis ; Morelhão, Sérgio Luiz ; Rafter, Niamh; Kycia, Stefan W.; Calligaris, Guilherme A.; Remédios, Cláudio M.R.
Source: MRS Communications. Unidade: IF
Subjects: CRISTALOGRAFIA FÍSICA, TERMOANÁLISE, RAIOS X
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
VALERIO, Adriana et al. Phonon scattering mechanism in thermoelectric materials revised via resonant x-ray dynamical diffraction. MRS Communications, v. 10, n. 2, p. 265-271, 2020Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1557/mrc.2020.37. Acesso em: 27 nov. 2025.
APA
Valerio, A., Penacchio, R. F. da S., Estradiote, M. B., Cantarino, M. dos R., Garcia, F. A., Morelhão, S. L., et al. (2020). Phonon scattering mechanism in thermoelectric materials revised via resonant x-ray dynamical diffraction. MRS Communications, 10( 2), 265-271. doi:10.1557/mrc.2020.37
NLM
Valerio A, Penacchio RF da S, Estradiote MB, Cantarino M dos R, Garcia FA, Morelhão SL, Rafter N, Kycia SW, Calligaris GA, Remédios CMR. Phonon scattering mechanism in thermoelectric materials revised via resonant x-ray dynamical diffraction [Internet]. MRS Communications. 2020 ; 10( 2): 265-271.[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1557/mrc.2020.37
Vancouver
Valerio A, Penacchio RF da S, Estradiote MB, Cantarino M dos R, Garcia FA, Morelhão SL, Rafter N, Kycia SW, Calligaris GA, Remédios CMR. Phonon scattering mechanism in thermoelectric materials revised via resonant x-ray dynamical diffraction [Internet]. MRS Communications. 2020 ; 10( 2): 265-271.[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1557/mrc.2020.37
Relatorio tecnico
Phonon scattering mechanism in thermoelectric materials revised via resonant x-ray dynamical diffraction (2020)
Valerio, Adriana; Penacchio, Rafaela F.S.; Estradiote, Maurício B.; Cantarino, Marli ; Garcia, Fernando Assis ; Morelhão, Sérgio Luiz ; Rafter, Niamh; Kycia, Stefan W.; Calligaris, Guilherme A.; Remédios, Cláudio M.R.
Unidade: IF
Subjects: CRISTALOGRAFIA FÍSICA, TERMOANÁLISE, RAIOS X
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
VALERIO, Adriana et al. Phonon scattering mechanism in thermoelectric materials revised via resonant x-ray dynamical diffraction. . São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2006/2006.12747.pdf. Acesso em: 27 nov. 2025. , 2020
APA
Valerio, A., Penacchio, R. F. S., Estradiote, M. B., Cantarino, M., Garcia, F. A., Morelhão, S. L., et al. (2020). Phonon scattering mechanism in thermoelectric materials revised via resonant x-ray dynamical diffraction. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2006/2006.12747.pdf
NLM
Valerio A, Penacchio RFS, Estradiote MB, Cantarino M, Garcia FA, Morelhão SL, Rafter N, Kycia SW, Calligaris GA, Remédios CMR. Phonon scattering mechanism in thermoelectric materials revised via resonant x-ray dynamical diffraction [Internet]. 2020 ;[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2006/2006.12747.pdf
Vancouver
Valerio A, Penacchio RFS, Estradiote MB, Cantarino M, Garcia FA, Morelhão SL, Rafter N, Kycia SW, Calligaris GA, Remédios CMR. Phonon scattering mechanism in thermoelectric materials revised via resonant x-ray dynamical diffraction [Internet]. 2020 ;[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2006/2006.12747.pdf
Artigo de periodico
Automatic x-ray crystallographic phasing at LNLS (2005)
Morelhão, Sérgio Luiz ; Avanci, Luis Humberto; Kycia, S
Source: Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B-Beam Interactions with Materials and Atoms. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA ATÔMICA, FÍSICA MOLECULAR, DIFRAÇÃO POR RAIOS X, CRISTALOGRAFIA FÍSICA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
MORELHÃO, Sérgio Luiz e AVANCI, Luis Humberto e KYCIA, S. Automatic x-ray crystallographic phasing at LNLS. Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B-Beam Interactions with Materials and Atoms, v. 238, n. 1-4, p. 180-184, 2005Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2005.06.044. Acesso em: 27 nov. 2025.
APA
Morelhão, S. L., Avanci, L. H., & Kycia, S. (2005). Automatic x-ray crystallographic phasing at LNLS. Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B-Beam Interactions with Materials and Atoms, 238( 1-4), 180-184. doi:10.1016/j.nimb.2005.06.044
NLM
Morelhão SL, Avanci LH, Kycia S. Automatic x-ray crystallographic phasing at LNLS [Internet]. Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B-Beam Interactions with Materials and Atoms. 2005 ; 238( 1-4): 180-184.[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2005.06.044
Vancouver
Morelhão SL, Avanci LH, Kycia S. Automatic x-ray crystallographic phasing at LNLS [Internet]. Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B-Beam Interactions with Materials and Atoms. 2005 ; 238( 1-4): 180-184.[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2005.06.044
Artigo de periodico
An x-ray diffractometer for accurate structural invariant phase determination (2003)
Morelhão, Sérgio Luiz ; Morelhão, Sérgio Luiz
Source: Journal of Synchroton Radiation. Unidade: IF
Subjects: CRISTALOGRAFIA FÍSICA, DIFRAÇÃO POR RAIOS X
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
MORELHÃO, Sérgio Luiz e MORELHÃO, Sérgio Luiz. An x-ray diffractometer for accurate structural invariant phase determination. Journal of Synchroton Radiation, v. 10 pt. 3, p. 236-241, 2003Tradução . . Disponível em: http://journals.iucr.org/s/issues/2003/03/00/he0303/he0303.pdf. Acesso em: 27 nov. 2025.
APA
Morelhão, S. L., & Morelhão, S. L. (2003). An x-ray diffractometer for accurate structural invariant phase determination. Journal of Synchroton Radiation, 10 pt. 3, 236-241. Recuperado de http://journals.iucr.org/s/issues/2003/03/00/he0303/he0303.pdf
NLM
Morelhão SL, Morelhão SL. An x-ray diffractometer for accurate structural invariant phase determination [Internet]. Journal of Synchroton Radiation. 2003 ; 10 pt. 3 236-241.[citado 2025 nov. 27 ] Available from: http://journals.iucr.org/s/issues/2003/03/00/he0303/he0303.pdf
Vancouver
Morelhão SL, Morelhão SL. An x-ray diffractometer for accurate structural invariant phase determination [Internet]. Journal of Synchroton Radiation. 2003 ; 10 pt. 3 236-241.[citado 2025 nov. 27 ] Available from: http://journals.iucr.org/s/issues/2003/03/00/he0303/he0303.pdf
Artigo de periodico
Two-dimensional intensity profiles of effective satellites (2002)
Morelhão, Sérgio Luiz ; Avanci, L H; Quivy, Alain André ; Abramog, E
Source: Journal of Applied Crystallography. Unidade: IF
Subjects: DIFRAÇÃO POR RAIOS X, CRISTALOGRAFIA FÍSICA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
MORELHÃO, Sérgio Luiz et al. Two-dimensional intensity profiles of effective satellites. Journal of Applied Crystallography, v. 35, p. 69-74, 2002Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1107/s0021889801018921. Acesso em: 27 nov. 2025.
APA
Morelhão, S. L., Avanci, L. H., Quivy, A. A., & Abramog, E. (2002). Two-dimensional intensity profiles of effective satellites. Journal of Applied Crystallography, 35, 69-74. doi:10.1107/s0021889801018921
NLM
Morelhão SL, Avanci LH, Quivy AA, Abramog E. Two-dimensional intensity profiles of effective satellites [Internet]. Journal of Applied Crystallography. 2002 ; 35 69-74.[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1107/s0021889801018921
Vancouver
Morelhão SL, Avanci LH, Quivy AA, Abramog E. Two-dimensional intensity profiles of effective satellites [Internet]. Journal of Applied Crystallography. 2002 ; 35 69-74.[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1107/s0021889801018921

USP Schools

ReP

Filtros

Authors

USP affiliated authors

Subjects

Non normalized affiliation