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  • Source: Journal of Integrated Circuits and Systems. Unidade: EP

    Subjects: FRACTAIS, SIMULAÇÃO, AVALIAÇÃO DE DESEMPENHO

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    • ABNT

      FERNANDES, Lucas Almir dos Santos e ALAYO CHÁVEZ, Marco Isaías e MARTINO, João Antonio. Fractional-order MOS capacitor: experimental results and Monte Carlo analysis. Journal of Integrated Circuits and Systems, v. 18, n. 1, p. 1-5, 2023Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.29292/jics.v18i1.660. Acesso em: 14 set. 2024.
    • APA

      Fernandes, L. A. dos S., Alayo Chávez, M. I., & Martino, J. A. (2023). Fractional-order MOS capacitor: experimental results and Monte Carlo analysis. Journal of Integrated Circuits and Systems, 18( 1), 1-5. doi:10.29292/jics.v18i1.660
    • NLM

      Fernandes LA dos S, Alayo Chávez MI, Martino JA. Fractional-order MOS capacitor: experimental results and Monte Carlo analysis [Internet]. Journal of Integrated Circuits and Systems. 2023 ; 18( 1): 1-5.[citado 2024 set. 14 ] Available from: https://doi.org/10.29292/jics.v18i1.660
    • Vancouver

      Fernandes LA dos S, Alayo Chávez MI, Martino JA. Fractional-order MOS capacitor: experimental results and Monte Carlo analysis [Internet]. Journal of Integrated Circuits and Systems. 2023 ; 18( 1): 1-5.[citado 2024 set. 14 ] Available from: https://doi.org/10.29292/jics.v18i1.660
  • Source: Proceedings Science BWSP. Conference titles: Brazilian Workshop on Semiconductor Physics. Unidades: IF, EP

    Subjects: CRISTALOGRAFIA FÍSICA, FILMES FINOS, ESPECTROSCOPIA DE RAIO X

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    • ABNT

      CASSIMIRO, Vinicius Roberto de Sylos et al. The structural properties of the protective layer of microlamps under polarization. Proceedings Science BWSP. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://doi.org/10.17648/bwsp-2017-70051. Acesso em: 14 set. 2024. , 2017
    • APA

      Cassimiro, V. R. de S., Fantini, M. C. de A., Pereyra, I., Páez Carreño, M. N., Alayo Chávez, M. I., Rehder, G. P., et al. (2017). The structural properties of the protective layer of microlamps under polarization. Proceedings Science BWSP. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. doi:10.17648/bwsp-2017-70051
    • NLM

      Cassimiro VR de S, Fantini MC de A, Pereyra I, Páez Carreño MN, Alayo Chávez MI, Rehder GP, Cunha Junior RM, Trcera N. The structural properties of the protective layer of microlamps under polarization [Internet]. Proceedings Science BWSP. 2017 ; 1 4 .[citado 2024 set. 14 ] Available from: https://doi.org/10.17648/bwsp-2017-70051
    • Vancouver

      Cassimiro VR de S, Fantini MC de A, Pereyra I, Páez Carreño MN, Alayo Chávez MI, Rehder GP, Cunha Junior RM, Trcera N. The structural properties of the protective layer of microlamps under polarization [Internet]. Proceedings Science BWSP. 2017 ; 1 4 .[citado 2024 set. 14 ] Available from: https://doi.org/10.17648/bwsp-2017-70051
  • Unidade: EP

    Subjects: DISPOSITIVOS ÓPTICOS, ÓPTICA, MICROELETRÔNICA

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    • ABNT

      ALAYO CHÁVEZ, Marco Isaías. Desenvolvimento de dipositivos ópticos integrados. 2009. Tese (Livre Docência) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2009. Disponível em: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/livredocencia/3/tde-18052022-145052/. Acesso em: 14 set. 2024.
    • APA

      Alayo Chávez, M. I. (2009). Desenvolvimento de dipositivos ópticos integrados (Tese (Livre Docência). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/livredocencia/3/tde-18052022-145052/
    • NLM

      Alayo Chávez MI. Desenvolvimento de dipositivos ópticos integrados [Internet]. 2009 ;[citado 2024 set. 14 ] Available from: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/livredocencia/3/tde-18052022-145052/
    • Vancouver

      Alayo Chávez MI. Desenvolvimento de dipositivos ópticos integrados [Internet]. 2009 ;[citado 2024 set. 14 ] Available from: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/livredocencia/3/tde-18052022-145052/
  • Source: Invited and Oral Presentations. Conference titles: International Conference on the Physics of Non-Crystalline Solids. Unidades: IF, EP

    Subjects: FILMES FINOS, GUIAS DE ONDA

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    • ABNT

      CACHO, Vanessa Duarte del et al. Deposition and characterization of germanate glass optical waveguides. 2009, Anais.. São Carlos, SP: UFSC, 2009. Disponível em: http://www.pncs-crystallization.com.br/arquivos/book_of_abstracts.pdf. Acesso em: 14 set. 2024.
    • APA

      Cacho, V. D. del, Kassab, L. R. P., Santos, A. D. dos, Alayo Chávez, M. I., Silva, D. M. da, & Siarkowski, A. L. (2009). Deposition and characterization of germanate glass optical waveguides. In Invited and Oral Presentations. São Carlos, SP: UFSC. Recuperado de http://www.pncs-crystallization.com.br/arquivos/book_of_abstracts.pdf
    • NLM

      Cacho VD del, Kassab LRP, Santos AD dos, Alayo Chávez MI, Silva DM da, Siarkowski AL. Deposition and characterization of germanate glass optical waveguides [Internet]. Invited and Oral Presentations. 2009 ;[citado 2024 set. 14 ] Available from: http://www.pncs-crystallization.com.br/arquivos/book_of_abstracts.pdf
    • Vancouver

      Cacho VD del, Kassab LRP, Santos AD dos, Alayo Chávez MI, Silva DM da, Siarkowski AL. Deposition and characterization of germanate glass optical waveguides [Internet]. Invited and Oral Presentations. 2009 ;[citado 2024 set. 14 ] Available from: http://www.pncs-crystallization.com.br/arquivos/book_of_abstracts.pdf
  • Source: Program. Conference titles: Encontro da SBPMat. Unidades: IF, EP

    Subjects: MATERIAIS, FILMES FINOS, ESPECTROSCOPIA DE RAIO X

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    • ABNT

      CRIADO, Denise et al. Xanes characterization in PECVD-SiOxNy films. 2004, Anais.. São Carlos: SBPMat, 2004. Disponível em: http://www.sbpmat.org.br/3meeting/simposio_b.pdf. Acesso em: 14 set. 2024.
    • APA

      Criado, D., Alayo Chávez, M. I., Pereyra, I., & Fantini, M. C. de A. (2004). Xanes characterization in PECVD-SiOxNy films. In Program. São Carlos: SBPMat. Recuperado de http://www.sbpmat.org.br/3meeting/simposio_b.pdf
    • NLM

      Criado D, Alayo Chávez MI, Pereyra I, Fantini MC de A. Xanes characterization in PECVD-SiOxNy films [Internet]. Program. 2004 ;[citado 2024 set. 14 ] Available from: http://www.sbpmat.org.br/3meeting/simposio_b.pdf
    • Vancouver

      Criado D, Alayo Chávez MI, Pereyra I, Fantini MC de A. Xanes characterization in PECVD-SiOxNy films [Internet]. Program. 2004 ;[citado 2024 set. 14 ] Available from: http://www.sbpmat.org.br/3meeting/simposio_b.pdf
  • Source: Program. Conference titles: Encontro da SBPMat. Unidades: IF, EP

    Subjects: MATERIAIS, FILMES FINOS

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    • ABNT

      CRIADO, Denise et al. Study of silicon oxynitride films with low mechanical stress. 2004, Anais.. São Carlos: SBPMat, 2004. Disponível em: http://www.sbpmat.org.br/3meeting/simposio_b.pdf. Acesso em: 14 set. 2024.
    • APA

      Criado, D., Alayo Chávez, M. I., Pereyra, I., & Fantini, M. C. de A. (2004). Study of silicon oxynitride films with low mechanical stress. In Program. São Carlos: SBPMat. Recuperado de http://www.sbpmat.org.br/3meeting/simposio_b.pdf
    • NLM

      Criado D, Alayo Chávez MI, Pereyra I, Fantini MC de A. Study of silicon oxynitride films with low mechanical stress [Internet]. Program. 2004 ;[citado 2024 set. 14 ] Available from: http://www.sbpmat.org.br/3meeting/simposio_b.pdf
    • Vancouver

      Criado D, Alayo Chávez MI, Pereyra I, Fantini MC de A. Study of silicon oxynitride films with low mechanical stress [Internet]. Program. 2004 ;[citado 2024 set. 14 ] Available from: http://www.sbpmat.org.br/3meeting/simposio_b.pdf
  • Source: SIICUSP 2004: resumos.. Conference titles: Simpósio Internacional de Iniciação Científica da Universidade de São Paulo. Unidade: EP

    Assunto: DISPOSITIVOS ÓPTICOS

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    • ABNT

      SIQUEIRA, Vinícius Valério de et al. Otimização dos processos de lixamento e polimento em dispositivos ópticos integrados. 2004, Anais.. São Paulo: USP, 2004. Disponível em: http://www.usp.br/siicusp/12osiicusp/index_2004.htm. Acesso em: 14 set. 2024.
    • APA

      Siqueira, V. V. de, Alayo Chávez, M. I., Iguchi, K., & Pereyra, I. (2004). Otimização dos processos de lixamento e polimento em dispositivos ópticos integrados. In SIICUSP 2004: resumos.. São Paulo: USP. Recuperado de http://www.usp.br/siicusp/12osiicusp/index_2004.htm
    • NLM

      Siqueira VV de, Alayo Chávez MI, Iguchi K, Pereyra I. Otimização dos processos de lixamento e polimento em dispositivos ópticos integrados [Internet]. SIICUSP 2004: resumos. 2004 ;[citado 2024 set. 14 ] Available from: http://www.usp.br/siicusp/12osiicusp/index_2004.htm
    • Vancouver

      Siqueira VV de, Alayo Chávez MI, Iguchi K, Pereyra I. Otimização dos processos de lixamento e polimento em dispositivos ópticos integrados [Internet]. SIICUSP 2004: resumos. 2004 ;[citado 2024 set. 14 ] Available from: http://www.usp.br/siicusp/12osiicusp/index_2004.htm
  • Source: 11 SIICUSP 2003 : resumos. Conference titles: Simpósio Internacional de Iniciação Científica da Universidade de São Paulo (SIICUSP. Unidade: EP

    Assunto: DISPOSITIVOS ÓPTICOS

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      SILVA, Bárbara Dariano et al. Influência dos parâmetros de corrosão em filmes de oxinitreto de silício depositados por PECVD para utilização em óptica integrada. 2003, Anais.. São Paulo: USP, 2003. Disponível em: http://www.usp.br/siicusp/11osiicusp/index01.htm. Acesso em: 14 set. 2024.
    • APA

      Silva, B. D., Alayo Chávez, M. I., Iguchi, K., & Pereyra, I. (2003). Influência dos parâmetros de corrosão em filmes de oxinitreto de silício depositados por PECVD para utilização em óptica integrada. In 11 SIICUSP 2003 : resumos. São Paulo: USP. Recuperado de http://www.usp.br/siicusp/11osiicusp/index01.htm
    • NLM

      Silva BD, Alayo Chávez MI, Iguchi K, Pereyra I. Influência dos parâmetros de corrosão em filmes de oxinitreto de silício depositados por PECVD para utilização em óptica integrada [Internet]. 11 SIICUSP 2003 : resumos. 2003 ;[citado 2024 set. 14 ] Available from: http://www.usp.br/siicusp/11osiicusp/index01.htm
    • Vancouver

      Silva BD, Alayo Chávez MI, Iguchi K, Pereyra I. Influência dos parâmetros de corrosão em filmes de oxinitreto de silício depositados por PECVD para utilização em óptica integrada [Internet]. 11 SIICUSP 2003 : resumos. 2003 ;[citado 2024 set. 14 ] Available from: http://www.usp.br/siicusp/11osiicusp/index01.htm
  • Source: Resumos. Conference titles: Reunião Anual de Usuários do LNLS. Unidades: IF, EP

    Subjects: MATÉRIA CONDENSADA, INSTRUMENTAÇÃO (FÍSICA), LUZ

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    • ABNT

      SCOPEL, Wanderla Luis et al. Estrutura de ordem local em filmes de oxi-nitreto de silício ricos em nitrogênio submetidos a tratamento térmico. 2003, Anais.. Campinas: Laboratório Nacional de Luz Sincrotron, 2003. . Acesso em: 14 set. 2024.
    • APA

      Scopel, W. L., Fantini, M. C. de A., Alayo Chávez, M. I., & Pereyra, I. (2003). Estrutura de ordem local em filmes de oxi-nitreto de silício ricos em nitrogênio submetidos a tratamento térmico. In Resumos. Campinas: Laboratório Nacional de Luz Sincrotron.
    • NLM

      Scopel WL, Fantini MC de A, Alayo Chávez MI, Pereyra I. Estrutura de ordem local em filmes de oxi-nitreto de silício ricos em nitrogênio submetidos a tratamento térmico. Resumos. 2003 ;[citado 2024 set. 14 ]
    • Vancouver

      Scopel WL, Fantini MC de A, Alayo Chávez MI, Pereyra I. Estrutura de ordem local em filmes de oxi-nitreto de silício ricos em nitrogênio submetidos a tratamento térmico. Resumos. 2003 ;[citado 2024 set. 14 ]
  • Unidade: EP

    Subjects: PLASMA, SILÍCIO, MICROELETRÔNICA

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    • ABNT

      ALAYO CHÁVEZ, Marco Isaías. Estudo e otimização das propriedades estruturais, ópticas e elétricas de películas de SiOxNy depositadas por PECVD para aplicações em dispositivos MOS, microestruturas e guias de onda. 2000. Tese (Doutorado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2000. Disponível em: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-17052022-095615/. Acesso em: 14 set. 2024.
    • APA

      Alayo Chávez, M. I. (2000). Estudo e otimização das propriedades estruturais, ópticas e elétricas de películas de SiOxNy depositadas por PECVD para aplicações em dispositivos MOS, microestruturas e guias de onda (Tese (Doutorado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-17052022-095615/
    • NLM

      Alayo Chávez MI. Estudo e otimização das propriedades estruturais, ópticas e elétricas de películas de SiOxNy depositadas por PECVD para aplicações em dispositivos MOS, microestruturas e guias de onda [Internet]. 2000 ;[citado 2024 set. 14 ] Available from: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-17052022-095615/
    • Vancouver

      Alayo Chávez MI. Estudo e otimização das propriedades estruturais, ópticas e elétricas de películas de SiOxNy depositadas por PECVD para aplicações em dispositivos MOS, microestruturas e guias de onda [Internet]. 2000 ;[citado 2024 set. 14 ] Available from: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-17052022-095615/
  • Unidade: EP

    Subjects: FILMES FINOS, MICROELETRÔNICA

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      ALAYO CHÁVEZ, Marco Isaías. Deposição e caracterização de filmes de 'SI''O IND.2' crescidos pela técnica de pecvd a baixa temperatura. 1996. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 1996. Disponível em: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-17052022-090901/pt-br.php. Acesso em: 14 set. 2024.
    • APA

      Alayo Chávez, M. I. (1996). Deposição e caracterização de filmes de 'SI''O IND.2' crescidos pela técnica de pecvd a baixa temperatura (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-17052022-090901/pt-br.php
    • NLM

      Alayo Chávez MI. Deposição e caracterização de filmes de 'SI''O IND.2' crescidos pela técnica de pecvd a baixa temperatura [Internet]. 1996 ;[citado 2024 set. 14 ] Available from: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-17052022-090901/pt-br.php
    • Vancouver

      Alayo Chávez MI. Deposição e caracterização de filmes de 'SI''O IND.2' crescidos pela técnica de pecvd a baixa temperatura [Internet]. 1996 ;[citado 2024 set. 14 ] Available from: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-17052022-090901/pt-br.php

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