Novos métodos para a determinação de parâmetros da tecnologia SOI através de capacitores (2001)
Unidade: EPAssunto: MICROELETRÔNICA
ABNT
SONNENBERG, Victor. Novos métodos para a determinação de parâmetros da tecnologia SOI através de capacitores. 2001. Tese (Doutorado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2001. . Acesso em: 06 set. 2024.APA
Sonnenberg, V. (2001). Novos métodos para a determinação de parâmetros da tecnologia SOI através de capacitores (Tese (Doutorado). Universidade de São Paulo, São Paulo.NLM
Sonnenberg V. Novos métodos para a determinação de parâmetros da tecnologia SOI através de capacitores. 2001 ;[citado 2024 set. 06 ]Vancouver
Sonnenberg V. Novos métodos para a determinação de parâmetros da tecnologia SOI através de capacitores. 2001 ;[citado 2024 set. 06 ]