Source: Anais. Conference titles: Congresso da Sociedade Brasileira de Microeletrônica. Unidade: EP
Assunto: MICROELETRÔNICA
ABNT
FURLAN, Rogério e SWART, Jacobus Willibrordus. Verificação da redistribuição de arsenio no processo de formação de siliceto de titanio por rtp em vacuo. 1988, Anais.. São Paulo: Sbmicro/Epusp, 1988. . Acesso em: 09 out. 2024.APA
Furlan, R., & Swart, J. W. (1988). Verificação da redistribuição de arsenio no processo de formação de siliceto de titanio por rtp em vacuo. In Anais. São Paulo: Sbmicro/Epusp.NLM
Furlan R, Swart JW. Verificação da redistribuição de arsenio no processo de formação de siliceto de titanio por rtp em vacuo. Anais. 1988 ;[citado 2024 out. 09 ]Vancouver
Furlan R, Swart JW. Verificação da redistribuição de arsenio no processo de formação de siliceto de titanio por rtp em vacuo. Anais. 1988 ;[citado 2024 out. 09 ]