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Trabalho de evento
Obtencao do perfil de impurezas utilizando a tecnica de resistencia de espraiamento (1994)
Perez Lisboa, Mauricio Oscar; Pereira, C T; Peres, Henrique Estanislau Maldonado ; Ramírez Fernandez, Francisco Javier
Source: Cbecimat: Anais. Conference titles: Congresso Brasileiro de Engenharia e Ciencia dos Materiais. Unidade: EP
Assunto: SEMICONDUTORES
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ABNT
PEREZ LISBOA, Mauricio Oscar et al. Obtencao do perfil de impurezas utilizando a tecnica de resistencia de espraiamento. 1994, Anais.. Sao Paulo: Ifusp/Epusp/Ipt, 1994. . Acesso em: 01 nov. 2024.
APA
Perez Lisboa, M. O., Pereira, C. T., Peres, H. E. M., & Ramírez Fernandez, F. J. (1994). Obtencao do perfil de impurezas utilizando a tecnica de resistencia de espraiamento. In Cbecimat: Anais. Sao Paulo: Ifusp/Epusp/Ipt.
NLM
Perez Lisboa MO, Pereira CT, Peres HEM, Ramírez Fernandez FJ. Obtencao do perfil de impurezas utilizando a tecnica de resistencia de espraiamento. Cbecimat: Anais. 1994 ;[citado 2024 nov. 01 ]
Vancouver
Perez Lisboa MO, Pereira CT, Peres HEM, Ramírez Fernandez FJ. Obtencao do perfil de impurezas utilizando a tecnica de resistencia de espraiamento. Cbecimat: Anais. 1994 ;[citado 2024 nov. 01 ]
Trabalho de evento
Caracterizacao do envelhecimento de filmes de silicio poroso (1994)
Salcedo, Walter Jaimes ; Ramírez Fernandez, Francisco Javier
Source: Cbecimat: Anais. Conference titles: Congresso Brasileiro de Engenharia e Ciencia dos Materiais. Unidade: EP
Assunto: SEMICONDUTORES
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ABNT
SALCEDO, Walter Jaimes e RAMÍREZ FERNANDEZ, Francisco Javier. Caracterizacao do envelhecimento de filmes de silicio poroso. 1994, Anais.. São Paulo: Ifusp/Epusp/Ipt, 1994. . Acesso em: 01 nov. 2024.
APA
Salcedo, W. J., & Ramírez Fernandez, F. J. (1994). Caracterizacao do envelhecimento de filmes de silicio poroso. In Cbecimat: Anais. São Paulo: Ifusp/Epusp/Ipt.
NLM
Salcedo WJ, Ramírez Fernandez FJ. Caracterizacao do envelhecimento de filmes de silicio poroso. Cbecimat: Anais. 1994 ;[citado 2024 nov. 01 ]
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Salcedo WJ, Ramírez Fernandez FJ. Caracterizacao do envelhecimento de filmes de silicio poroso. Cbecimat: Anais. 1994 ;[citado 2024 nov. 01 ]
Trabalho de evento
Obtencao de perfis de impurezas em silicio (1994)
Pereira, C T G; Perez Lisboa, M O; Ramírez Fernandez, Francisco Javier
Source: Cbecimat: Anais. Conference titles: Congresso Brasileiro de Engenharia e Ciencia dos Materiais. Unidade: EP
Assunto: SEMICONDUTORES
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ABNT
PEREIRA, C T G e PEREZ LISBOA, M O e RAMÍREZ FERNANDEZ, Francisco Javier. Obtencao de perfis de impurezas em silicio. 1994, Anais.. Sao Paulo: Ifusp/Epusp/Ipt, 1994. . Acesso em: 01 nov. 2024.
APA
Pereira, C. T. G., Perez Lisboa, M. O., & Ramírez Fernandez, F. J. (1994). Obtencao de perfis de impurezas em silicio. In Cbecimat: Anais. Sao Paulo: Ifusp/Epusp/Ipt.
NLM
Pereira CTG, Perez Lisboa MO, Ramírez Fernandez FJ. Obtencao de perfis de impurezas em silicio. Cbecimat: Anais. 1994 ;[citado 2024 nov. 01 ]
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Pereira CTG, Perez Lisboa MO, Ramírez Fernandez FJ. Obtencao de perfis de impurezas em silicio. Cbecimat: Anais. 1994 ;[citado 2024 nov. 01 ]
Trabalho de evento
Contribuicao ao modelamento de transporte de cargas eletricas em filmes de silicio poroso (1994)
Salcedo, Walter Jaimes ; Ramírez Fernandez, Francisco Javier
Source: Cbecimat: Anais. Conference titles: Congresso Brasileiro de Engenharia e Ciencia dos Materiais. Unidade: EP
Assunto: SEMICONDUTORES
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ABNT
SALCEDO, Walter Jaimes e RAMÍREZ FERNANDEZ, Francisco Javier. Contribuicao ao modelamento de transporte de cargas eletricas em filmes de silicio poroso. 1994, Anais.. São Paulo: Ifusp/Epusp/Ipt, 1994. . Acesso em: 01 nov. 2024.
APA
Salcedo, W. J., & Ramírez Fernandez, F. J. (1994). Contribuicao ao modelamento de transporte de cargas eletricas em filmes de silicio poroso. In Cbecimat: Anais. São Paulo: Ifusp/Epusp/Ipt.
NLM
Salcedo WJ, Ramírez Fernandez FJ. Contribuicao ao modelamento de transporte de cargas eletricas em filmes de silicio poroso. Cbecimat: Anais. 1994 ;[citado 2024 nov. 01 ]
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Salcedo WJ, Ramírez Fernandez FJ. Contribuicao ao modelamento de transporte de cargas eletricas em filmes de silicio poroso. Cbecimat: Anais. 1994 ;[citado 2024 nov. 01 ]
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Formacao de microporos de silicio (1994)
Salcedo, Walter Jaimes ; Ramírez Fernandez, Francisco Javier
Source: Cbecimat: Anais. Conference titles: Congresso Brasileiro de Engenharia e Ciencia dos Materiais. Unidade: EP
Assunto: SEMICONDUTORES
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ABNT
SALCEDO, Walter Jaimes e RAMÍREZ FERNANDEZ, Francisco Javier. Formacao de microporos de silicio. 1994, Anais.. São Paulo: Ifusp/Epusp/Ipt, 1994. . Acesso em: 01 nov. 2024.
APA
Salcedo, W. J., & Ramírez Fernandez, F. J. (1994). Formacao de microporos de silicio. In Cbecimat: Anais. São Paulo: Ifusp/Epusp/Ipt.
NLM
Salcedo WJ, Ramírez Fernandez FJ. Formacao de microporos de silicio. Cbecimat: Anais. 1994 ;[citado 2024 nov. 01 ]
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Salcedo WJ, Ramírez Fernandez FJ. Formacao de microporos de silicio. Cbecimat: Anais. 1994 ;[citado 2024 nov. 01 ]
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Estudo da adsorcao de hidrogenio usando um transistor mos com porta de paladio (1992)
Baratto, G; Ramírez Fernandez, Francisco Javier
Source: Cbecimat: Anais. Conference titles: Congresso Brasileiro de Engenharia e Ciencia dos Materiais. Unidade: EP
Assunto: SEMICONDUTORES
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ABNT
BARATTO, G e RAMÍREZ FERNANDEZ, Francisco Javier. Estudo da adsorcao de hidrogenio usando um transistor mos com porta de paladio. 1992, Anais.. Campinas: Unicamp, 1992. . Acesso em: 01 nov. 2024.
APA
Baratto, G., & Ramírez Fernandez, F. J. (1992). Estudo da adsorcao de hidrogenio usando um transistor mos com porta de paladio. In Cbecimat: Anais. Campinas: Unicamp.
NLM
Baratto G, Ramírez Fernandez FJ. Estudo da adsorcao de hidrogenio usando um transistor mos com porta de paladio. Cbecimat: Anais. 1992 ;[citado 2024 nov. 01 ]
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Baratto G, Ramírez Fernandez FJ. Estudo da adsorcao de hidrogenio usando um transistor mos com porta de paladio. Cbecimat: Anais. 1992 ;[citado 2024 nov. 01 ]
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Mecanismos de falha em oxidos de silicio e juncoes pn dependentes da solicitacao eletrica (1992)
Perez Lisboa, M O; Ramírez Fernandez, Francisco Javier
Source: Cbecimat: Anais. Conference titles: Congresso Brasileiro de Engenharia e Ciencia dos Materiais. Unidade: EP
Assunto: SEMICONDUTORES
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
PEREZ LISBOA, M O e RAMÍREZ FERNANDEZ, Francisco Javier. Mecanismos de falha em oxidos de silicio e juncoes pn dependentes da solicitacao eletrica. 1992, Anais.. Campinas: Unicamp, 1992. . Acesso em: 01 nov. 2024.
APA
Perez Lisboa, M. O., & Ramírez Fernandez, F. J. (1992). Mecanismos de falha em oxidos de silicio e juncoes pn dependentes da solicitacao eletrica. In Cbecimat: Anais. Campinas: Unicamp.
NLM
Perez Lisboa MO, Ramírez Fernandez FJ. Mecanismos de falha em oxidos de silicio e juncoes pn dependentes da solicitacao eletrica. Cbecimat: Anais. 1992 ;[citado 2024 nov. 01 ]
Vancouver
Perez Lisboa MO, Ramírez Fernandez FJ. Mecanismos de falha em oxidos de silicio e juncoes pn dependentes da solicitacao eletrica. Cbecimat: Anais. 1992 ;[citado 2024 nov. 01 ]
Trabalho de evento
Engenharia reversa: uma tecnica de projeto e formacao de recursos humanos em microeletronica (1990)
Ramírez Fernandez, Francisco Javier ; Perez Lisboa, M O; Galup Montoro, C
Source: Anais. Conference titles: Congresso Brasileiro de Engenharia e Ciencia dos Materiais. Unidade: EP
Subjects: ENGENHARIA ELÉTRICA (EDUCAÇÃO;TREINAMENTO), CIRCUITOS INTEGRADOS
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ABNT
RAMÍREZ FERNANDEZ, Francisco Javier e PEREZ LISBOA, M O e GALUP MONTORO, C. Engenharia reversa: uma tecnica de projeto e formacao de recursos humanos em microeletronica. 1990, Anais.. São Paulo: Ipen/ Cnen-Sp/Dema-Ufscar, 1990. . Acesso em: 01 nov. 2024.
APA
Ramírez Fernandez, F. J., Perez Lisboa, M. O., & Galup Montoro, C. (1990). Engenharia reversa: uma tecnica de projeto e formacao de recursos humanos em microeletronica. In Anais. São Paulo: Ipen/ Cnen-Sp/Dema-Ufscar.
NLM
Ramírez Fernandez FJ, Perez Lisboa MO, Galup Montoro C. Engenharia reversa: uma tecnica de projeto e formacao de recursos humanos em microeletronica. Anais. 1990 ;[citado 2024 nov. 01 ]
Vancouver
Ramírez Fernandez FJ, Perez Lisboa MO, Galup Montoro C. Engenharia reversa: uma tecnica de projeto e formacao de recursos humanos em microeletronica. Anais. 1990 ;[citado 2024 nov. 01 ]
Trabalho de evento
Mecanismos de falha e indicadores da confiabilidade de dispositivos semicondutores (1990)
Ramírez Fernandez, Francisco Javier
Source: Anais. Conference titles: Congresso Brasileiro de Engenharia e Ciencia dos Materiais. Unidade: EP
Subjects: ENGENHARIA ELÉTRICA (CONFIABILIDADE), SEMICONDUTORES
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
RAMÍREZ FERNANDEZ, Francisco Javier. Mecanismos de falha e indicadores da confiabilidade de dispositivos semicondutores. 1990, Anais.. São Paulo: Ipen/Cnen-Sp/Dema-Ufscar, 1990. . Acesso em: 01 nov. 2024.
APA
Ramírez Fernandez, F. J. (1990). Mecanismos de falha e indicadores da confiabilidade de dispositivos semicondutores. In Anais. São Paulo: Ipen/Cnen-Sp/Dema-Ufscar.
NLM
Ramírez Fernandez FJ. Mecanismos de falha e indicadores da confiabilidade de dispositivos semicondutores. Anais. 1990 ;[citado 2024 nov. 01 ]
Vancouver
Ramírez Fernandez FJ. Mecanismos de falha e indicadores da confiabilidade de dispositivos semicondutores. Anais. 1990 ;[citado 2024 nov. 01 ]
Trabalho de evento
Transducao magneto eletrica com tecnologia cmos (1990)
Galeazzo, Elisabete ; Perez Lisboa, M O; Ramírez Fernandez, Francisco Javier
Source: Anais. Conference titles: Congresso Brasileiro de Engenharia e Ciencia dos Materiais. Unidade: EP
Subjects: SEMICONDUTORES, CIRCUITOS INTEGRADOS MOS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
GALEAZZO, Elisabete e PEREZ LISBOA, M O e RAMÍREZ FERNANDEZ, Francisco Javier. Transducao magneto eletrica com tecnologia cmos. 1990, Anais.. Sao Paulo: Ipen/Cnen-Sp/Dema-Ufscar, 1990. . Acesso em: 01 nov. 2024.
APA
Galeazzo, E., Perez Lisboa, M. O., & Ramírez Fernandez, F. J. (1990). Transducao magneto eletrica com tecnologia cmos. In Anais. Sao Paulo: Ipen/Cnen-Sp/Dema-Ufscar.
NLM
Galeazzo E, Perez Lisboa MO, Ramírez Fernandez FJ. Transducao magneto eletrica com tecnologia cmos. Anais. 1990 ;[citado 2024 nov. 01 ]
Vancouver
Galeazzo E, Perez Lisboa MO, Ramírez Fernandez FJ. Transducao magneto eletrica com tecnologia cmos. Anais. 1990 ;[citado 2024 nov. 01 ]

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