Mecanismos de falha em oxidos de silicio e juncoes pn dependentes da solicitacao eletrica (1992)
- Authors:
- Autor USP: FERNANDEZ, FRANCISCO JAVIER RAMIREZ - EP
- Unidade: EP
- Assunto: SEMICONDUTORES
- Language: Português
- Imprenta:
- Source:
- Título do periódico: Cbecimat: Anais
- Conference titles: Congresso Brasileiro de Engenharia e Ciencia dos Materiais
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ABNT
PEREZ LISBOA, M O e RAMÍREZ FERNANDEZ, Francisco Javier. Mecanismos de falha em oxidos de silicio e juncoes pn dependentes da solicitacao eletrica. 1992, Anais.. Campinas: Unicamp, 1992. . Acesso em: 23 abr. 2024. -
APA
Perez Lisboa, M. O., & Ramírez Fernandez, F. J. (1992). Mecanismos de falha em oxidos de silicio e juncoes pn dependentes da solicitacao eletrica. In Cbecimat: Anais. Campinas: Unicamp. -
NLM
Perez Lisboa MO, Ramírez Fernandez FJ. Mecanismos de falha em oxidos de silicio e juncoes pn dependentes da solicitacao eletrica. Cbecimat: Anais. 1992 ;[citado 2024 abr. 23 ] -
Vancouver
Perez Lisboa MO, Ramírez Fernandez FJ. Mecanismos de falha em oxidos de silicio e juncoes pn dependentes da solicitacao eletrica. Cbecimat: Anais. 1992 ;[citado 2024 abr. 23 ] - Sensores inteligentes - nariz eletrônico
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