Obtencao de perfis de impurezas em silicio (1994)
- Authors:
- Autor USP: FERNANDEZ, FRANCISCO JAVIER RAMIREZ - EP
- Unidade: EP
- Assunto: SEMICONDUTORES
- Language: Português
- Imprenta:
- Publisher: Ifusp/Epusp/Ipt
- Publisher place: Sao Paulo
- Date published: 1994
- Source:
- Título: Cbecimat: Anais
- Conference titles: Congresso Brasileiro de Engenharia e Ciencia dos Materiais
-
ABNT
PEREIRA, C T G e PEREZ LISBOA, M O e RAMÍREZ FERNANDEZ, Francisco Javier. Obtencao de perfis de impurezas em silicio. 1994, Anais.. Sao Paulo: Ifusp/Epusp/Ipt, 1994. . Acesso em: 17 nov. 2024. -
APA
Pereira, C. T. G., Perez Lisboa, M. O., & Ramírez Fernandez, F. J. (1994). Obtencao de perfis de impurezas em silicio. In Cbecimat: Anais. Sao Paulo: Ifusp/Epusp/Ipt. -
NLM
Pereira CTG, Perez Lisboa MO, Ramírez Fernandez FJ. Obtencao de perfis de impurezas em silicio. Cbecimat: Anais. 1994 ;[citado 2024 nov. 17 ] -
Vancouver
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