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Trabalho de evento-resumo
Variability in the electrical parameters of power devices by total ionizing dose radiation effects (2018)
Barros, Felipe; Silveira, Marcilei Aparecida Guazzelli da; Medina, Nilberto Heder; Added, Nemitala; Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de
Source: Abstracts. Conference titles: Brazilian Meeting on Nuclear Physics. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA NUCLEAR, RADIAÇÃO IONIZANTE
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ABNT
BARROS, Felipe et al. Variability in the electrical parameters of power devices by total ionizing dose radiation effects. 2018, Anais.. São Paulo: SBF, 2018. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0023-3.pdf. Acesso em: 31 out. 2024.
APA
Barros, F., Silveira, M. A. G. da, Medina, N. H., Added, N., & Aguiar, V. Â. P. de. (2018). Variability in the electrical parameters of power devices by total ionizing dose radiation effects. In Abstracts. São Paulo: SBF. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0023-3.pdf
NLM
Barros F, Silveira MAG da, Medina NH, Added N, Aguiar VÂP de. Variability in the electrical parameters of power devices by total ionizing dose radiation effects [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2024 out. 31 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0023-3.pdf
Vancouver
Barros F, Silveira MAG da, Medina NH, Added N, Aguiar VÂP de. Variability in the electrical parameters of power devices by total ionizing dose radiation effects [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2024 out. 31 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0023-3.pdf
Artigo de periodico
Reliability–Performance Analysis of Hardware and Software Co-Designs in SRAM-Based APSoCs (2018)
Tambara, Lucas Antunes; Kastensmidt, Fernanda Lima; Rech, Paolo; Lins, Filipe; Medina, Nilberto Heder; Added, Nemitala; Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de ; Silveira, Marcilei Aparecida Guazzelli da
Source: IEEE Transactions on Nuclear Science. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA NUCLEAR, ESPECTROSCOPIA DE RAIO GAMA
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ABNT
TAMBARA, Lucas Antunes et al. Reliability–Performance Analysis of Hardware and Software Co-Designs in SRAM-Based APSoCs. IEEE Transactions on Nuclear Science, v. 65, n. 8, p. 1935 - 1942, 2018Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1109/TNS.2018.2844250. Acesso em: 31 out. 2024.
APA
Tambara, L. A., Kastensmidt, F. L., Rech, P., Lins, F., Medina, N. H., Added, N., et al. (2018). Reliability–Performance Analysis of Hardware and Software Co-Designs in SRAM-Based APSoCs. IEEE Transactions on Nuclear Science, 65( 8), 1935 - 1942. doi:10.1109/TNS.2018.2844250
NLM
Tambara LA, Kastensmidt FL, Rech P, Lins F, Medina NH, Added N, Aguiar VÂP de, Silveira MAG da. Reliability–Performance Analysis of Hardware and Software Co-Designs in SRAM-Based APSoCs [Internet]. IEEE Transactions on Nuclear Science. 2018 ; 65( 8): 1935 - 1942.[citado 2024 out. 31 ] Available from: https://doi.org/10.1109/TNS.2018.2844250
Vancouver
Tambara LA, Kastensmidt FL, Rech P, Lins F, Medina NH, Added N, Aguiar VÂP de, Silveira MAG da. Reliability–Performance Analysis of Hardware and Software Co-Designs in SRAM-Based APSoCs [Internet]. IEEE Transactions on Nuclear Science. 2018 ; 65( 8): 1935 - 1942.[citado 2024 out. 31 ] Available from: https://doi.org/10.1109/TNS.2018.2844250
Trabalho de evento-resumo
Destructive single-event effects in semiconductor devices (2018)
Alberton, Saulo Gabriel Pereira Nascimento ; Medina, Nilberto Heder; Added, Nemitala; Menegasso, Ricardo; Macchione, Eduardo Luiz Augusto ; Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de ; Escudeiro, Rafael; Ribas, Roberto Vicençotto; Silveira, Marcilei Aparecida Guazzelli da
Source: Abstracts. Conference titles: Brazilian Meeting on Nuclear Physics. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA NUCLEAR, RADIAÇÃO IONIZANTE
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ABNT
ALBERTON, Saulo Gabriel Pereira Nascimento et al. Destructive single-event effects in semiconductor devices. 2018, Anais.. São Paulo: SBF, 2018. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0031-1.pdf. Acesso em: 31 out. 2024.
APA
Alberton, S. G. P. N., Medina, N. H., Added, N., Menegasso, R., Macchione, E. L. A., Aguiar, V. Â. P. de, et al. (2018). Destructive single-event effects in semiconductor devices. In Abstracts. São Paulo: SBF. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0031-1.pdf
NLM
Alberton SGPN, Medina NH, Added N, Menegasso R, Macchione ELA, Aguiar VÂP de, Escudeiro R, Ribas RV, Silveira MAG da. Destructive single-event effects in semiconductor devices [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2024 out. 31 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0031-1.pdf
Vancouver
Alberton SGPN, Medina NH, Added N, Menegasso R, Macchione ELA, Aguiar VÂP de, Escudeiro R, Ribas RV, Silveira MAG da. Destructive single-event effects in semiconductor devices [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2024 out. 31 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0031-1.pdf
Trabalho de evento-resumo
Corrections in Single Event Effects cross section (2018)
Added, Nemitala; Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de ; Aguirre, Fernando Rodrigues; Medina, Nilberto Heder; Silveira, Marcilei Aparecida Guazzelli da
Source: Abstracts. Conference titles: Brazilian Meeting on Nuclear Physics. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA NUCLEAR, RADIAÇÃO IONIZANTE
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ABNT
ADDED, Nemitala et al. Corrections in Single Event Effects cross section. 2018, Anais.. São Paulo: SBF, 2018. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0068-1.pdf. Acesso em: 31 out. 2024.
APA
Added, N., Aguiar, V. Â. P. de, Aguirre, F. R., Medina, N. H., & Silveira, M. A. G. da. (2018). Corrections in Single Event Effects cross section. In Abstracts. São Paulo: SBF. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0068-1.pdf
NLM
Added N, Aguiar VÂP de, Aguirre FR, Medina NH, Silveira MAG da. Corrections in Single Event Effects cross section [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2024 out. 31 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0068-1.pdf
Vancouver
Added N, Aguiar VÂP de, Aguirre FR, Medina NH, Silveira MAG da. Corrections in Single Event Effects cross section [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2024 out. 31 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0068-1.pdf
Trabalho de evento-resumo
Study of radiation effects in embedded systems (2018)
Medina, Nilberto Heder; Added, Nemitala; Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de ; Alberton, Saulo Gabriel Pereira Nascimento; Macchione, Eduardo Luiz Augusto ; Silveira, Marcilei Aparecida Guazzelli da
Source: Abstracts. Conference titles: Brazilian Meeting on Nuclear Physics. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA NUCLEAR, REATORES NUCLEARES, ACELERADOR DE PARTÍCULAS
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ABNT
MEDINA, Nilberto Heder et al. Study of radiation effects in embedded systems. 2018, Anais.. São Paulo: SBF, 2018. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0006-1.pdf. Acesso em: 31 out. 2024.
APA
Medina, N. H., Added, N., Aguiar, V. Â. P. de, Alberton, S. G. P. N., Macchione, E. L. A., & Silveira, M. A. G. da. (2018). Study of radiation effects in embedded systems. In Abstracts. São Paulo: SBF. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0006-1.pdf
NLM
Medina NH, Added N, Aguiar VÂP de, Alberton SGPN, Macchione ELA, Silveira MAG da. Study of radiation effects in embedded systems [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2024 out. 31 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0006-1.pdf
Vancouver
Medina NH, Added N, Aguiar VÂP de, Alberton SGPN, Macchione ELA, Silveira MAG da. Study of radiation effects in embedded systems [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2024 out. 31 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0006-1.pdf
Trabalho de evento-resumo
Lifetime measurements in odd and odd-odd nuclei (2018)
Escudeiro, Rafael; Medina, Nilberto Heder; Oliveira, José Roberto Brandão de; Allegro, Paula Rangel Pestana; Alcantara-Nunez, Juan Antonio; Ribas, Roberto Vicençotto; Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de ; Added, Nemitala; Macchione, Eduardo Luiz Augusto ; Scarduelli, Valdir Brunetti; Alberton, Saulo Gabriel Pereira Nascimento
Source: Abstracts. Conference titles: Brazilian Meeting on Nuclear Physics. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA NUCLEAR, REAÇÕES NUCLEARES
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
ESCUDEIRO, Rafael et al. Lifetime measurements in odd and odd-odd nuclei. 2018, Anais.. São Paulo: SBF, 2018. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0017-1.pdf. Acesso em: 31 out. 2024.
APA
Escudeiro, R., Medina, N. H., Oliveira, J. R. B. de, Allegro, P. R. P., Alcantara-Nunez, J. A., Ribas, R. V., et al. (2018). Lifetime measurements in odd and odd-odd nuclei. In Abstracts. São Paulo: SBF. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0017-1.pdf
NLM
Escudeiro R, Medina NH, Oliveira JRB de, Allegro PRP, Alcantara-Nunez JA, Ribas RV, Aguiar VÂP de, Added N, Macchione ELA, Scarduelli VB, Alberton SGPN. Lifetime measurements in odd and odd-odd nuclei [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2024 out. 31 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0017-1.pdf
Vancouver
Escudeiro R, Medina NH, Oliveira JRB de, Allegro PRP, Alcantara-Nunez JA, Ribas RV, Aguiar VÂP de, Added N, Macchione ELA, Scarduelli VB, Alberton SGPN. Lifetime measurements in odd and odd-odd nuclei [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2024 out. 31 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0017-1.pdf
Trabalho de evento-resumo
Lifetime measurements in odd and odd-odd nuclei (2018)
Escudeiro, R.; Medina, Nilberto Heder; Oliveira, José Roberto Brandão de; Allegro, Paula Rangel Pestana; Núñez, J. A. A.; Ribas, Roberto Vicençotto; Added, Nemitala; Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de ; Macchione, Eduardo Luiz Augusto ; Scarduelli, Valdir Brunetti; Alberton, Saulo Gabriel Pereira Nascimento
Source: Resumos. Conference titles: Brazilian Meeting on Nuclear Physics. Unidade: IF
Subjects: MODELO NUCLEAR, FÍSICA NUCLEAR
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
ESCUDEIRO, R. et al. Lifetime measurements in odd and odd-odd nuclei. 2018, Anais.. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo, 2018. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/programa/trabalhos.asp?sesId=22. Acesso em: 31 out. 2024.
APA
Escudeiro, R., Medina, N. H., Oliveira, J. R. B. de, Allegro, P. R. P., Núñez, J. A. A., Ribas, R. V., et al. (2018). Lifetime measurements in odd and odd-odd nuclei. In Resumos. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/programa/trabalhos.asp?sesId=22
NLM
Escudeiro R, Medina NH, Oliveira JRB de, Allegro PRP, Núñez JAA, Ribas RV, Added N, Aguiar VÂP de, Macchione ELA, Scarduelli VB, Alberton SGPN. Lifetime measurements in odd and odd-odd nuclei [Internet]. Resumos. 2018 ;[citado 2024 out. 31 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/programa/trabalhos.asp?sesId=22
Vancouver
Escudeiro R, Medina NH, Oliveira JRB de, Allegro PRP, Núñez JAA, Ribas RV, Added N, Aguiar VÂP de, Macchione ELA, Scarduelli VB, Alberton SGPN. Lifetime measurements in odd and odd-odd nuclei [Internet]. Resumos. 2018 ;[citado 2024 out. 31 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/programa/trabalhos.asp?sesId=22
Trabalho de evento-resumo
A proposal to study long-lived isotopes produced by thermal neutron irradiation in digital systems (2018)
Zahn, Guilherme Soares; Genezini, Frederico Antonio ; Moralles, Mauricio; Siqueira, Paulo de Tarso Dalledone; Medina, Nilberto Heder; Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de ; Macchione, Eduardo Luiz Augusto ; Added, Nemitala; Silveira, Marcilei Aparecida Guazzelli da
Source: Abstracts. Conference titles: Brazilian Meeting on Nuclear Physics. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA NUCLEAR, REAÇÕES NUCLEARES
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
ZAHN, Guilherme Soares et al. A proposal to study long-lived isotopes produced by thermal neutron irradiation in digital systems. 2018, Anais.. São Paulo: SBF, 2018. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0008-2.pdf. Acesso em: 31 out. 2024.
APA
Zahn, G. S., Genezini, F. A., Moralles, M., Siqueira, P. de T. D., Medina, N. H., Aguiar, V. Â. P. de, et al. (2018). A proposal to study long-lived isotopes produced by thermal neutron irradiation in digital systems. In Abstracts. São Paulo: SBF. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0008-2.pdf
NLM
Zahn GS, Genezini FA, Moralles M, Siqueira P de TD, Medina NH, Aguiar VÂP de, Macchione ELA, Added N, Silveira MAG da. A proposal to study long-lived isotopes produced by thermal neutron irradiation in digital systems [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2024 out. 31 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0008-2.pdf
Vancouver
Zahn GS, Genezini FA, Moralles M, Siqueira P de TD, Medina NH, Aguiar VÂP de, Macchione ELA, Added N, Silveira MAG da. A proposal to study long-lived isotopes produced by thermal neutron irradiation in digital systems [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2024 out. 31 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0008-2.pdf
Trabalho de evento-resumo
Passivation layer and charge collection depth in electronic devices (2018)
Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de ; Medina, Nilberto Heder; Added, Nemitala; Macchione, Eduardo Luiz Augusto ; Leite, Alisson Rodolfo; Silva, Tiago Fiorini da; Rodrigues, Cleber Lima; Escudeiro, Rafael; Allegro, Paula Rangel Pestana; Santos, Hellen Cristine dos; Alberton, Saulo Gabriel Pereira Nascimento; Scarduelli, Valdir Brunetti; Silveira, Marcilei Aparecida Guazzelli da; Melo, M A A de; Santos, R B B; Giacomini, Renato; Oliveira, J A; Leite, F G H
Source: Abstracts. Conference titles: Brazilian Meeting on Nuclear Physics. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA NUCLEAR, ÍONS PESADOS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
AGUIAR, Vitor Ângelo Paulino de et al. Passivation layer and charge collection depth in electronic devices. 2018, Anais.. São Paulo: SBF, 2018. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0013-1.pdf. Acesso em: 31 out. 2024.
APA
Aguiar, V. Â. P. de, Medina, N. H., Added, N., Macchione, E. L. A., Leite, A. R., Silva, T. F. da, et al. (2018). Passivation layer and charge collection depth in electronic devices. In Abstracts. São Paulo: SBF. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0013-1.pdf
NLM
Aguiar VÂP de, Medina NH, Added N, Macchione ELA, Leite AR, Silva TF da, Rodrigues CL, Escudeiro R, Allegro PRP, Santos HC dos, Alberton SGPN, Scarduelli VB, Silveira MAG da, Melo MAA de, Santos RBB, Giacomini R, Oliveira JA, Leite FGH. Passivation layer and charge collection depth in electronic devices [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2024 out. 31 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0013-1.pdf
Vancouver
Aguiar VÂP de, Medina NH, Added N, Macchione ELA, Leite AR, Silva TF da, Rodrigues CL, Escudeiro R, Allegro PRP, Santos HC dos, Alberton SGPN, Scarduelli VB, Silveira MAG da, Melo MAA de, Santos RBB, Giacomini R, Oliveira JA, Leite FGH. Passivation layer and charge collection depth in electronic devices [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2024 out. 31 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0013-1.pdf

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