Single event effects studies on 3N163 MOSFET (2014)
- Authors:
- Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de
- Seixas Jr, L.E.
- Silveira, M.A.G. - Centro Universitário FEI (FEI)
- Santos, R.B. - Centro Universitário FEI (FEI)
- Melo, M.A.A. - Centro Universitário FEI (FEI)
- Giacomini, R. - Centro Universitário FEI (FEI)
- Leite, F.G. - Centro Universitário FEI (FEI)
- Cunha, F.G. - Centro Universitário FEI (FEI)
- Oliveira, J.A. - Centro Universitário FEI (FEI)
- Rallo, A. - Centro Universitário FEI (FEI)
- Macchione, Eduardo Luiz Augusto
- Aguirre, Fernando Rodrigues
- Medina, Nilberto Heder
- Added, Nemitala
- USP affiliated authors: MACCHIONE, EDUARDO LUIZ AUGUSTO - IF ; MEDINA, NILBERTO HEDER - IF ; ADDED, NEMITALA - IF
- Unidade: IF
- Subjects: FÍSICA NUCLEAR; ACELERADOR DE PARTÍCULAS
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Source:
- Título do periódico: SBF
- Conference titles: Reunião de Trabalho sobre Física Nuclear no Brasil
-
ABNT
AGUIAR, Vitor Ângelo Paulino de et al. Single event effects studies on 3N163 MOSFET. 2014, Anais.. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo, 2014. Disponível em: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xxxvii/sys/resumos/R0100-1.pdf. Acesso em: 28 mar. 2024. -
APA
Aguiar, V. Â. P. de, Seixas Jr, L. E., Silveira, M. A. G., Santos, R. B., Melo, M. A. A., Giacomini, R., et al. (2014). Single event effects studies on 3N163 MOSFET. In SBF. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xxxvii/sys/resumos/R0100-1.pdf -
NLM
Aguiar VÂP de, Seixas Jr LE, Silveira MAG, Santos RB, Melo MAA, Giacomini R, Leite FG, Cunha FG, Oliveira JA, Rallo A, Macchione ELA, Aguirre FR, Medina NH, Added N. Single event effects studies on 3N163 MOSFET [Internet]. SBF. 2014 ;[citado 2024 mar. 28 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xxxvii/sys/resumos/R0100-1.pdf -
Vancouver
Aguiar VÂP de, Seixas Jr LE, Silveira MAG, Santos RB, Melo MAA, Giacomini R, Leite FG, Cunha FG, Oliveira JA, Rallo A, Macchione ELA, Aguirre FR, Medina NH, Added N. Single event effects studies on 3N163 MOSFET [Internet]. SBF. 2014 ;[citado 2024 mar. 28 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xxxvii/sys/resumos/R0100-1.pdf - Lockstep dual-core ARM A9: implementation and resilience analysis under heavy ion-induced soft errors
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