Carbon-modified titanium dioxide deposited by e-beam aiming hydrogen sensing (2010)
- Authors:
- Autor USP: SANTOS FILHO, SEBASTIAO GOMES DOS - EP
- Unidade: EP
- DOI: 10.1149/1.3474189
- Assunto: ELETROQUÍMICA
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Publisher place: New Jersey
- Date published: 2010
- Source:
- Título: Microelectronics Technology and Devices - SBMicro 2010
- ISSN: 1938-5862
- Volume/Número/Paginação/Ano: v.31, n.1, p. 433-439, 2010
- Este periódico é de assinatura
- Este artigo NÃO é de acesso aberto
- Cor do Acesso Aberto: closed
-
ABNT
STEM, Nair e SANTOS FILHO, Sebastião Gomes dos. Carbon-modified titanium dioxide deposited by e-beam aiming hydrogen sensing. Microelectronics Technology and Devices - SBMicro 2010, v. 31, n. 1, p. 433-439, 2010Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1149/1.3474189. Acesso em: 28 dez. 2025. -
APA
Stem, N., & Santos Filho, S. G. dos. (2010). Carbon-modified titanium dioxide deposited by e-beam aiming hydrogen sensing. Microelectronics Technology and Devices - SBMicro 2010, 31( 1), 433-439. doi:10.1149/1.3474189 -
NLM
Stem N, Santos Filho SG dos. Carbon-modified titanium dioxide deposited by e-beam aiming hydrogen sensing [Internet]. Microelectronics Technology and Devices - SBMicro 2010. 2010 ;31( 1): 433-439.[citado 2025 dez. 28 ] Available from: https://doi.org/10.1149/1.3474189 -
Vancouver
Stem N, Santos Filho SG dos. Carbon-modified titanium dioxide deposited by e-beam aiming hydrogen sensing [Internet]. Microelectronics Technology and Devices - SBMicro 2010. 2010 ;31( 1): 433-439.[citado 2025 dez. 28 ] Available from: https://doi.org/10.1149/1.3474189 - Formation and stability of Ni(Pt)Si/Poly-Si layered structure
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Informações sobre o DOI: 10.1149/1.3474189 (Fonte: oaDOI API)
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