Optimized-geometry ARROW waveguides using TiO2 as anti-resonant layer (2010)
- Authors:
- Autor USP: CHÁVEZ, MARCO ISAÍAS ALAYO - EP
- Unidade: EP
- DOI: 10.1002/pssc.200982795
- Assunto: PROCESSOS DE MICROELETRÔNICA
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Source:
- Título do periódico: Physica Status Solidi (c)
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 7, n. 3-4, p. 719-719, 2010
- Este periódico é de assinatura
- Este artigo NÃO é de acesso aberto
- Cor do Acesso Aberto: closed
-
ABNT
CARVALHO, Daniel Orquiza de e ALBERTIN, Katia Franklin e ALAYO CHÁVEZ, Marco Isaías. Optimized-geometry ARROW waveguides using TiO2 as anti-resonant layer. Physica Status Solidi (c), v. 7, n. 3-4, p. 719-719, 2010Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1002/pssc.200982795. Acesso em: 26 abr. 2024. -
APA
Carvalho, D. O. de, Albertin, K. F., & Alayo Chávez, M. I. (2010). Optimized-geometry ARROW waveguides using TiO2 as anti-resonant layer. Physica Status Solidi (c), 7( 3-4), 719-719. doi:10.1002/pssc.200982795 -
NLM
Carvalho DO de, Albertin KF, Alayo Chávez MI. Optimized-geometry ARROW waveguides using TiO2 as anti-resonant layer [Internet]. Physica Status Solidi (c). 2010 ; 7( 3-4): 719-719.[citado 2024 abr. 26 ] Available from: https://doi.org/10.1002/pssc.200982795 -
Vancouver
Carvalho DO de, Albertin KF, Alayo Chávez MI. Optimized-geometry ARROW waveguides using TiO2 as anti-resonant layer [Internet]. Physica Status Solidi (c). 2010 ; 7( 3-4): 719-719.[citado 2024 abr. 26 ] Available from: https://doi.org/10.1002/pssc.200982795 - Deposição e caracterização de filmes de 'SI''O IND.2' crescidos pela técnica de pecvd a baixa temperatura
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Informações sobre o DOI: 10.1002/pssc.200982795 (Fonte: oaDOI API)
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