Influence of chromium concentration on the optical-electronic properties of ruby microstructures (2010)
- Authors:
- Autor USP: ZANATTA, ANTONIO RICARDO - IFSC
- Unidade: IFSC
- DOI: 10.1088/0022-3727/43/1/015302
- Subjects: FILMES FINOS; CROMO; ÓPTICA (PROPRIEDADES); TRATAMENTO TÉRMICO; RUBI
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Source:
- Título: Journal of Physics D
- ISSN: 0022-3727
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 43, p. 015302-1-015302-9, 2010
- Este periódico é de acesso aberto
- Este artigo NÃO é de acesso aberto
-
ABNT
COSSOLINO, L. C. e ZANATTA, Antonio Ricardo. Influence of chromium concentration on the optical-electronic properties of ruby microstructures. Journal of Physics D, v. 43, p. 015302-1-015302-9, 2010Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1088/0022-3727/43/1/015302. Acesso em: 25 jan. 2026. -
APA
Cossolino, L. C., & Zanatta, A. R. (2010). Influence of chromium concentration on the optical-electronic properties of ruby microstructures. Journal of Physics D, 43, 015302-1-015302-9. doi:10.1088/0022-3727/43/1/015302 -
NLM
Cossolino LC, Zanatta AR. Influence of chromium concentration on the optical-electronic properties of ruby microstructures [Internet]. Journal of Physics D. 2010 ; 43 015302-1-015302-9.[citado 2026 jan. 25 ] Available from: https://doi.org/10.1088/0022-3727/43/1/015302 -
Vancouver
Cossolino LC, Zanatta AR. Influence of chromium concentration on the optical-electronic properties of ruby microstructures [Internet]. Journal of Physics D. 2010 ; 43 015302-1-015302-9.[citado 2026 jan. 25 ] Available from: https://doi.org/10.1088/0022-3727/43/1/015302 - Erbium luminescence in a-Si : H
- Optical and micro-Raman characterizations of Co3O4 films aiming photovoltaic and photocatalytic applications
- Influence of film thickness on the crystallization of Ni-doped amorphous silicon samples
- Photoelectron spectroscopic investigation of Mn-containing amorphous silicon and germanium films
- Pulsed laser crystallization of Er-doped amorphous GeN films
- Determinação numérica da espessura e das constantes ópticas de filmes de silício amorfo dopados com níquel através de espectroscopia de transmissão
- AIN aloys prepared by reactive radio frequency sputtering
- Estudo dos efeitos da diluição da atmosfera precursora de metano por gases nobres na estrutura e propriedades mecânicas de filmes de carbono amorfo hidrogenado
- Nitrogen in germanium
- Compositional, structural, morphological and optical characterization of cobalt oxide thin films prepared by sputtering
Informações sobre o DOI: 10.1088/0022-3727/43/1/015302 (Fonte: oaDOI API)
How to cite
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
