Effect of the substrate on the structural properties of low temperature microcrystalline silicon films - a Raman spectroscopy and atomic force microscopy investigation (2000)
- Authors:
- USP affiliated authors: DIRANI, ELY ANTONIO TADEU - EP ; ANDRADE, ADNEI MELGES DE - EP ; FONSECA, FERNANDO JOSEPETTI - EP ; SANTOS, PAULO SERGIO - IQ
- Unidades: EP; IQ
- DOI: 10.1016/s0022-3093(00)00177-0
- Subjects: FÍSICO-QUÍMICA; ESPECTROSCOPIA RAMAN; PLASMA
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Source:
- Título: Journal of Non-Crystalline Solids
- ISSN: 0022-3093
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 273, n. 1/3, p. 307-313, 2000
- Este periódico é de assinatura
- Este artigo NÃO é de acesso aberto
- Cor do Acesso Aberto: closed
-
ABNT
DIRANI, Ely Antonio Tadeu et al. Effect of the substrate on the structural properties of low temperature microcrystalline silicon films - a Raman spectroscopy and atomic force microscopy investigation. Journal of Non-Crystalline Solids, v. 273, n. 1/3, p. 307-313, 2000Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/s0022-3093(00)00177-0. Acesso em: 28 dez. 2025. -
APA
Dirani, E. A. T., Andrade, A. M. de, Noda, L. K., Fonseca, F. J., & Santos, P. S. (2000). Effect of the substrate on the structural properties of low temperature microcrystalline silicon films - a Raman spectroscopy and atomic force microscopy investigation. Journal of Non-Crystalline Solids, 273( 1/3), 307-313. doi:10.1016/s0022-3093(00)00177-0 -
NLM
Dirani EAT, Andrade AM de, Noda LK, Fonseca FJ, Santos PS. Effect of the substrate on the structural properties of low temperature microcrystalline silicon films - a Raman spectroscopy and atomic force microscopy investigation [Internet]. Journal of Non-Crystalline Solids. 2000 ; 273( 1/3): 307-313.[citado 2025 dez. 28 ] Available from: https://doi.org/10.1016/s0022-3093(00)00177-0 -
Vancouver
Dirani EAT, Andrade AM de, Noda LK, Fonseca FJ, Santos PS. Effect of the substrate on the structural properties of low temperature microcrystalline silicon films - a Raman spectroscopy and atomic force microscopy investigation [Internet]. Journal of Non-Crystalline Solids. 2000 ; 273( 1/3): 307-313.[citado 2025 dez. 28 ] Available from: https://doi.org/10.1016/s0022-3093(00)00177-0 - Low operating voltage of an ITO/MEH-PPV/AI light emmiting device
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Informações sobre o DOI: 10.1016/s0022-3093(00)00177-0 (Fonte: oaDOI API)
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