Raman spectroscopy and AFM analisys of low temperature µc-Si:H films (1998)
- Authors:
- USP affiliated authors: DIRANI, ELY ANTONIO TADEU - EP ; FONSECA, FERNANDO JOSEPETTI - EP ; ANDRADE, ADNEI MELGES DE - EP ; FARIA, ROBERTO MENDONÇA - IFSC
- Unidades: EP; IFSC
- Subjects: CIRCUITOS INTEGRADOS; ESPECTROSCOPIA; BAIXA TEMPERATURA
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Publisher: LACTRO/LAC
- Publisher place: Curitiba
- Date published: 1998
- Source:
- Título: SBMicro - ICMP'98 : proceedings
- Conference titles: International Conference on Microelectronics and Packaging
-
ABNT
DIRANI, Ely Antonio Tadeu et al. Raman spectroscopy and AFM analisys of low temperature µc-Si:H films. 1998, Anais.. Curitiba: LACTRO/LAC, 1998. . Acesso em: 28 dez. 2025. -
APA
Dirani, E. A. T., Faria, R. M., Fonseca, F. J., & Andrade, A. M. de. (1998). Raman spectroscopy and AFM analisys of low temperature µc-Si:H films. In SBMicro - ICMP'98 : proceedings. Curitiba: LACTRO/LAC. -
NLM
Dirani EAT, Faria RM, Fonseca FJ, Andrade AM de. Raman spectroscopy and AFM analisys of low temperature µc-Si:H films. SBMicro - ICMP'98 : proceedings. 1998 ;[citado 2025 dez. 28 ] -
Vancouver
Dirani EAT, Faria RM, Fonseca FJ, Andrade AM de. Raman spectroscopy and AFM analisys of low temperature µc-Si:H films. SBMicro - ICMP'98 : proceedings. 1998 ;[citado 2025 dez. 28 ] - Tsc and dsc measurements of polymeric insulators used in medium voltage distribution cables
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