Collective test generation and test set compaction (1995)
- Authors:
- Autor USP: CHAU, WANG JIANG - EP
- Unidade: EP
- Assunto: CIRCUITOS ELETRÔNICOS
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Source:
- Título: Proceedings
- Conference titles: Ieee Symposium on Circuits and Systems
-
ABNT
WANG, Jiang Chau e STABLER, E P. Collective test generation and test set compaction. 1995, Anais.. New York: Ieee, 1995. . Acesso em: 08 abr. 2026. -
APA
Wang, J. C., & Stabler, E. P. (1995). Collective test generation and test set compaction. In Proceedings. New York: Ieee. -
NLM
Wang JC, Stabler EP. Collective test generation and test set compaction. Proceedings. 1995 ;[citado 2026 abr. 08 ] -
Vancouver
Wang JC, Stabler EP. Collective test generation and test set compaction. Proceedings. 1995 ;[citado 2026 abr. 08 ] - Aplicacao de bdd em problemas de sintese e verificacao de logica combinatoria
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