Analise da influencia de impurezas em filmes de 'CO' na formacao do siliceto (1990)
- Authors:
- Autor USP: SWART, JACOBUS WILLIBRORDUS - EP
- Unidade: EP
- Assunto: SEMICONDUTORES
- Language: Português
- Imprenta:
- Publisher: Sbmicro/Spie
- Publisher place: Campinas
- Date published: 1990
- Source:
- Título: Anais
- Conference titles: Congresso da Sociedade Brasileira de Microeletronica
-
ABNT
FREITAS, W J e SWART, Jacobus Willibrordus. Analise da influencia de impurezas em filmes de 'CO' na formacao do siliceto. 1990, Anais.. Campinas: Sbmicro/Spie, 1990. . Acesso em: 30 dez. 2025. -
APA
Freitas, W. J., & Swart, J. W. (1990). Analise da influencia de impurezas em filmes de 'CO' na formacao do siliceto. In Anais. Campinas: Sbmicro/Spie. -
NLM
Freitas WJ, Swart JW. Analise da influencia de impurezas em filmes de 'CO' na formacao do siliceto. Anais. 1990 ;[citado 2025 dez. 30 ] -
Vancouver
Freitas WJ, Swart JW. Analise da influencia de impurezas em filmes de 'CO' na formacao do siliceto. Anais. 1990 ;[citado 2025 dez. 30 ] - Interconexoes e contatos em circuitos integrados
- Presilha eletrostatica para camadas em sistemas de deposicao cvd
- Dopagem de 'SI' com boro por tratamento térmico rápido
- Influence of impurities on cobalt silicide formation
- Caracterização de filmes finos empregando a técnica de difração de raio-x
- Limitações da estruturaCMOS cavidade dupla
- Difusao de estanho em 'GA''AS' por processamento termico rapido
- Fabricacao de hbt de 'AL''GA''AS' / 'GA''AS'
- Design and processing of hbts
- Redução de oxido durante a formação de siliceto de titanio
How to cite
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas