Caracterização de filmes finos empregando a técnica de difração de raio-x (1987)
- Authors:
- Autor USP: SWART, JACOBUS WILLIBRORDUS - EP
- Unidade: EP
- Subjects: FILMES FINOS; DIFRAÇÃO POR RAIOS X
- Language: Português
- Imprenta:
- Publisher: Sbmicro/Epusp
- Publisher place: São Paulo
- Date published: 1987
- Source:
- Título: Anais
- Conference titles: Congresso da Sociedade Brasileira de Microeletronica
-
ABNT
MORIMOTO, Nilton Itiro e SWART, Jacobus Willibrordus e RIELLA, Humberto Gracher. Caracterização de filmes finos empregando a técnica de difração de raio-x. 1987, Anais.. São Paulo: Sbmicro/Epusp, 1987. . Acesso em: 13 maio 2025. -
APA
Morimoto, N. I., Swart, J. W., & Riella, H. G. (1987). Caracterização de filmes finos empregando a técnica de difração de raio-x. In Anais. São Paulo: Sbmicro/Epusp. -
NLM
Morimoto NI, Swart JW, Riella HG. Caracterização de filmes finos empregando a técnica de difração de raio-x. Anais. 1987 ;[citado 2025 maio 13 ] -
Vancouver
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