Caracterização de filmes finos empregando a técnica de difração de raio-x

Caracterização de filmes finos empregando a técnica de difração de raio-x (1987)

Authors:
Autor USP: SWART, JACOBUS WILLIBRORDUS - EP
Unidade: EP
Subjects: FILMES FINOS; DIFRAÇÃO POR RAIOS X
Language: Português
Imprenta:
- Publisher: Sbmicro/Epusp
- Publisher place: São Paulo
- Date published: 1987
Source:
- Título do periódico: Anais
Conference titles: Congresso da Sociedade Brasileira de Microeletronica

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ABNT

MORIMOTO, Nilton Itiro; SWART, Jacobus Willibrordus; RIELLA, H G. Caracterização de filmes finos empregando a técnica de difração de raio-x. Anais.. São Paulo: Sbmicro/Epusp, 1987.
APA

Morimoto, N. I., Swart, J. W., & Riella, H. G. (1987). Caracterização de filmes finos empregando a técnica de difração de raio-x. In Anais. São Paulo: Sbmicro/Epusp.
NLM

Morimoto NI, Swart JW, Riella HG. Caracterização de filmes finos empregando a técnica de difração de raio-x. Anais. 1987 ;
Vancouver

Morimoto NI, Swart JW, Riella HG. Caracterização de filmes finos empregando a técnica de difração de raio-x. Anais. 1987 ;