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Trabalho de evento-resumo
A few contributions in synchrotron x-ray analysis of nanostructured semiconductor devices and amorphous thin films: charactrization during dip coating (2006)
Morelhão, Sérgio Luiz
Source: ORAL SESSION G4. Conference titles: Encontro da Sociedade Brasileira de Pesquisas em Materiais (SBPMat. Unidade: IF
Subjects: MATERIAIS (PESQUISA), FILMES FINOS, SEMICONDUTORES
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ABNT
MORELHÃO, Sérgio Luiz. A few contributions in synchrotron x-ray analysis of nanostructured semiconductor devices and amorphous thin films: charactrization during dip coating. 2006, Anais.. Rio de Janeiro: SBPMat, 2006. Disponível em: http://www.sbpmat.org.br/5encontro/SympG.pdf. Acesso em: 18 out. 2024.
APA
Morelhão, S. L. (2006). A few contributions in synchrotron x-ray analysis of nanostructured semiconductor devices and amorphous thin films: charactrization during dip coating. In ORAL SESSION G4. Rio de Janeiro: SBPMat. Recuperado de http://www.sbpmat.org.br/5encontro/SympG.pdf
NLM
Morelhão SL. A few contributions in synchrotron x-ray analysis of nanostructured semiconductor devices and amorphous thin films: charactrization during dip coating [Internet]. ORAL SESSION G4. 2006 ;[citado 2024 out. 18 ] Available from: http://www.sbpmat.org.br/5encontro/SympG.pdf
Vancouver
Morelhão SL. A few contributions in synchrotron x-ray analysis of nanostructured semiconductor devices and amorphous thin films: charactrization during dip coating [Internet]. ORAL SESSION G4. 2006 ;[citado 2024 out. 18 ] Available from: http://www.sbpmat.org.br/5encontro/SympG.pdf
Trabalho de evento
Atomic force and histological analysis of healthy and cataract canine lens (2006)
Gozzo, Fernanda V; Antunes, Andrea; Morelhão, Sérgio Luiz; Safatle, Angélica Mendonça Vaz; Barros, Paulo Sergio de Moraes; Rigonati, C A M; Borella, Maria Inês; Nakamura, Marcelo ; Toma, Henrique Eisi
Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada. Unidades: IF, IQ
Subjects: MATÉRIA CONDENSADA, LENTES, HISTOLOGIA, CATARATA
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ABNT
GOZZO, Fernanda V et al. Atomic force and histological analysis of healthy and cataract canine lens. 2006, Anais.. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo, 2006. Disponível em: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxix/sys/resumos/R0730-3.pdf. Acesso em: 18 out. 2024.
APA
Gozzo, F. V., Antunes, A., Morelhão, S. L., Safatle, A. M. V., Barros, P. S. de M., Rigonati, C. A. M., et al. (2006). Atomic force and histological analysis of healthy and cataract canine lens. In . São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxix/sys/resumos/R0730-3.pdf
NLM
Gozzo FV, Antunes A, Morelhão SL, Safatle AMV, Barros PS de M, Rigonati CAM, Borella MI, Nakamura M, Toma HE. Atomic force and histological analysis of healthy and cataract canine lens [Internet]. 2006 ;[citado 2024 out. 18 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxix/sys/resumos/R0730-3.pdf
Vancouver
Gozzo FV, Antunes A, Morelhão SL, Safatle AMV, Barros PS de M, Rigonati CAM, Borella MI, Nakamura M, Toma HE. Atomic force and histological analysis of healthy and cataract canine lens [Internet]. 2006 ;[citado 2024 out. 18 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxix/sys/resumos/R0730-3.pdf
Artigo de periodico
X-ray imaging in advanced studies of ophtalmic diseases (2006)
Antunes, Andrea; Safatle, Angélica de Mendonça Vaz; Barros, Paulo Sergio de Moraes; Morelhão, Sérgio Luiz
Source: Medical Physics. Unidades: FMVZ, IF
Subjects: FÍSICA MÉDICA, OFTALMOLOGIA, DIAGNÓSTICO POR IMAGEM, LENTES, TÉCNICAS DE DIAGNÓSTICO OFTALMOLÓGICO
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ABNT
ANTUNES, Andrea et al. X-ray imaging in advanced studies of ophtalmic diseases. Medical Physics, v. 33, n. 7, p. 2338-2343, 2006Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1118/1.2207135. Acesso em: 18 out. 2024.
APA
Antunes, A., Safatle, A. de M. V., Barros, P. S. de M., & Morelhão, S. L. (2006). X-ray imaging in advanced studies of ophtalmic diseases. Medical Physics, 33( 7), 2338-2343. doi:10.1118/1.2207135
NLM
Antunes A, Safatle A de MV, Barros PS de M, Morelhão SL. X-ray imaging in advanced studies of ophtalmic diseases [Internet]. Medical Physics. 2006 ; 33( 7): 2338-2343.[citado 2024 out. 18 ] Available from: https://doi.org/10.1118/1.2207135
Vancouver
Antunes A, Safatle A de MV, Barros PS de M, Morelhão SL. X-ray imaging in advanced studies of ophtalmic diseases [Internet]. Medical Physics. 2006 ; 33( 7): 2338-2343.[citado 2024 out. 18 ] Available from: https://doi.org/10.1118/1.2207135
Trabalho de evento-resumo
Combining synchrotron X-ray techniques for studying nanostructured semiconductor devices (2006)
Lamas, Tomás; Morelhão, Sérgio Luiz; Perrotta, André; Quivy, A. A.; Freitas, Raul de Oliveira
Source: Poster Session. Conference titles: Encontro da Sociedade Brasileira de Pesquisas em Materiais (SBPMat). Unidade: IF
Subjects: MATERIAIS (PESQUISA), SEMICONDUTORES
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ABNT
LAMAS, Tomás et al. Combining synchrotron X-ray techniques for studying nanostructured semiconductor devices. 2006, Anais.. Rio de Janeiro: SBPMat, 2006. Disponível em: http://www.sbpmat.org.br/5encontro/IndexPosterG.pdf. Acesso em: 18 out. 2024.
APA
Lamas, T., Morelhão, S. L., Perrotta, A., Quivy, A. A., & Freitas, R. de O. (2006). Combining synchrotron X-ray techniques for studying nanostructured semiconductor devices. In Poster Session. Rio de Janeiro: SBPMat. Recuperado de http://www.sbpmat.org.br/5encontro/IndexPosterG.pdf
NLM
Lamas T, Morelhão SL, Perrotta A, Quivy AA, Freitas R de O. Combining synchrotron X-ray techniques for studying nanostructured semiconductor devices [Internet]. Poster Session. 2006 ;[citado 2024 out. 18 ] Available from: http://www.sbpmat.org.br/5encontro/IndexPosterG.pdf
Vancouver
Lamas T, Morelhão SL, Perrotta A, Quivy AA, Freitas R de O. Combining synchrotron X-ray techniques for studying nanostructured semiconductor devices [Internet]. Poster Session. 2006 ;[citado 2024 out. 18 ] Available from: http://www.sbpmat.org.br/5encontro/IndexPosterG.pdf
Tese (Livre Docência)
Física de raios X aplicada à cristalografia, nanotecnologia e oftalmologia (2006)
Morelhão, Sérgio Luiz
Unidade: IF
Subjects: MATÉRIA CONDENSADA, RAIOS X, DIFRAÇÃO POR RAIOS X, NANOTECNOLOGIA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
MORELHÃO, Sérgio Luiz. Física de raios X aplicada à cristalografia, nanotecnologia e oftalmologia. 2006. Tese (Livre Docência) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2006. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/livredocencia/43/tde-27082007-190738/. Acesso em: 18 out. 2024.
APA
Morelhão, S. L. (2006). Física de raios X aplicada à cristalografia, nanotecnologia e oftalmologia (Tese (Livre Docência). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/livredocencia/43/tde-27082007-190738/
NLM
Morelhão SL. Física de raios X aplicada à cristalografia, nanotecnologia e oftalmologia [Internet]. 2006 ;[citado 2024 out. 18 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/livredocencia/43/tde-27082007-190738/
Vancouver
Morelhão SL. Física de raios X aplicada à cristalografia, nanotecnologia e oftalmologia [Internet]. 2006 ;[citado 2024 out. 18 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/livredocencia/43/tde-27082007-190738/
Trabalho de evento
Synchrotron X-ray techniques for studying nanostructured semiconductor devices (2006)
Freitas, Raul de Oliveira; Lamas, T. E.; Quivy, A. A.; Morelhão, Sérgio Luiz
Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada. Unidade: IF
Assunto: MATÉRIA CONDENSADA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
FREITAS, Raul de Oliveira et al. Synchrotron X-ray techniques for studying nanostructured semiconductor devices. 2006, Anais.. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo, 2006. Disponível em: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxix/sys/resumos/R0320-1.pdf. Acesso em: 18 out. 2024.
APA
Freitas, R. de O., Lamas, T. E., Quivy, A. A., & Morelhão, S. L. (2006). Synchrotron X-ray techniques for studying nanostructured semiconductor devices. In . São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxix/sys/resumos/R0320-1.pdf
NLM
Freitas R de O, Lamas TE, Quivy AA, Morelhão SL. Synchrotron X-ray techniques for studying nanostructured semiconductor devices [Internet]. 2006 ;[citado 2024 out. 18 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxix/sys/resumos/R0320-1.pdf
Vancouver
Freitas R de O, Lamas TE, Quivy AA, Morelhão SL. Synchrotron X-ray techniques for studying nanostructured semiconductor devices [Internet]. 2006 ;[citado 2024 out. 18 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxix/sys/resumos/R0320-1.pdf

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