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Trabalho de evento-resumo
Portable X-ray fluorescence system to measure 'TH' and 'U' concentrations in TENORM material (2018)
Silveira, M. A. G.; Pereira, B. R.; Medina, Nilberto Heder; Rizzutto, Marcia de Almeida
Fonte: Resumos. Nome do evento: Brazilian Meeting on Nuclear Physics. Unidade: IF
Assuntos: RAIOS GAMA, ESPECTROMETRIA
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ABNT
SILVEIRA, M. A. G. et al. Portable X-ray fluorescence system to measure 'TH' and 'U' concentrations in TENORM material. 2018, Anais.. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo, 2018. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/programa/trabalhos.asp?sesId=13. Acesso em: 04 ago. 2024.
APA
Silveira, M. A. G., Pereira, B. R., Medina, N. H., & Rizzutto, M. de A. (2018). Portable X-ray fluorescence system to measure 'TH' and 'U' concentrations in TENORM material. In Resumos. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/programa/trabalhos.asp?sesId=13
NLM
Silveira MAG, Pereira BR, Medina NH, Rizzutto M de A. Portable X-ray fluorescence system to measure 'TH' and 'U' concentrations in TENORM material [Internet]. Resumos. 2018 ;[citado 2024 ago. 04 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/programa/trabalhos.asp?sesId=13
Vancouver
Silveira MAG, Pereira BR, Medina NH, Rizzutto M de A. Portable X-ray fluorescence system to measure 'TH' and 'U' concentrations in TENORM material [Internet]. Resumos. 2018 ;[citado 2024 ago. 04 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/programa/trabalhos.asp?sesId=13
Trabalho de evento-resumo
Coffee elemental analysis via x-ray fluorescence and gamma-ray spectrometry (2018)
Loureiro, K.; Medina, Nilberto Heder; Rizzutto, Marcia de Almeida; Silveira, M. A. G.; Curado, J. F.
Fonte: Resumos. Nome do evento: Brazilian Meeting on Nuclear Physics. Unidade: IF
Assuntos: RAIOS GAMA, ESPECTROMETRIA
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ABNT
LOUREIRO, K. et al. Coffee elemental analysis via x-ray fluorescence and gamma-ray spectrometry. 2018, Anais.. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo, 2018. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/programa/trabalhos.asp?sesId=17. Acesso em: 04 ago. 2024.
APA
Loureiro, K., Medina, N. H., Rizzutto, M. de A., Silveira, M. A. G., & Curado, J. F. (2018). Coffee elemental analysis via x-ray fluorescence and gamma-ray spectrometry. In Resumos. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/programa/trabalhos.asp?sesId=17
NLM
Loureiro K, Medina NH, Rizzutto M de A, Silveira MAG, Curado JF. Coffee elemental analysis via x-ray fluorescence and gamma-ray spectrometry [Internet]. Resumos. 2018 ;[citado 2024 ago. 04 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/programa/trabalhos.asp?sesId=17
Vancouver
Loureiro K, Medina NH, Rizzutto M de A, Silveira MAG, Curado JF. Coffee elemental analysis via x-ray fluorescence and gamma-ray spectrometry [Internet]. Resumos. 2018 ;[citado 2024 ago. 04 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/programa/trabalhos.asp?sesId=17
Trabalho de evento-resumo
Study of radiation effects in embedded systems (2018)
Medina, Nilberto Heder; Added, Nemitala; Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de ; Alberton, S. G.; Macchione, Eduardo Luiz Augusto ; Silveira, M. A. G.
Fonte: Resumos. Nome do evento: Brazilian Meeting on Nuclear Physics. Unidade: IF
Assuntos: ACELERADOR DE PARTÍCULAS, ÍONS PESADOS
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ABNT
MEDINA, Nilberto Heder et al. Study of radiation effects in embedded systems. 2018, Anais.. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo, 2018. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/programa/trabalhos.asp?sesId=3. Acesso em: 04 ago. 2024.
APA
Medina, N. H., Added, N., Aguiar, V. Â. P. de, Alberton, S. G., Macchione, E. L. A., & Silveira, M. A. G. (2018). Study of radiation effects in embedded systems. In Resumos. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/programa/trabalhos.asp?sesId=3
NLM
Medina NH, Added N, Aguiar VÂP de, Alberton SG, Macchione ELA, Silveira MAG. Study of radiation effects in embedded systems [Internet]. Resumos. 2018 ;[citado 2024 ago. 04 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/programa/trabalhos.asp?sesId=3
Vancouver
Medina NH, Added N, Aguiar VÂP de, Alberton SG, Macchione ELA, Silveira MAG. Study of radiation effects in embedded systems [Internet]. Resumos. 2018 ;[citado 2024 ago. 04 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/programa/trabalhos.asp?sesId=3
Trabalho de evento-resumo
Passivation layer and charge collection depth in electronic devices (2018)
Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de ; Medina, Nilberto Heder; Added, Nemitala; Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de ; Macchione, Eduardo Luiz Augusto ; Leite, A. R.; Silva, Tiago Fiorini da; Rodrigues, Cleber Lima; Escudeiro, R.; Allegro, P. R. P.; Santos, H. C.; Alberton, S. G.; Scarduelli, V. B.; Silveira, M. A. G.; Melo, M. A. A. de; Santos, R. B. B.; Giacomini, R.; Oliveira, J. A.; Leite, F. G. H.; Sayeg, Isaac Jamil
Fonte: Resumos. Nome do evento: Brazilian Meeting on Nuclear Physics. Unidades: IF, IGC
Assuntos: ACELERADOR DE PARTÍCULAS, ÍONS PESADOS
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ABNT
AGUIAR, Vitor Ângelo Paulino de et al. Passivation layer and charge collection depth in electronic devices. 2018, Anais.. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo, 2018. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/programa/trabalhos.asp?sesId=17. Acesso em: 04 ago. 2024.
APA
Aguiar, V. Â. P. de, Medina, N. H., Added, N., Aguiar, V. Â. P. de, Macchione, E. L. A., Leite, A. R., et al. (2018). Passivation layer and charge collection depth in electronic devices. In Resumos. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/programa/trabalhos.asp?sesId=17
NLM
Aguiar VÂP de, Medina NH, Added N, Aguiar VÂP de, Macchione ELA, Leite AR, Silva TF da, Rodrigues CL, Escudeiro R, Allegro PRP, Santos HC, Alberton SG, Scarduelli VB, Silveira MAG, Melo MAA de, Santos RBB, Giacomini R, Oliveira JA, Leite FGH, Sayeg IJ. Passivation layer and charge collection depth in electronic devices [Internet]. Resumos. 2018 ;[citado 2024 ago. 04 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/programa/trabalhos.asp?sesId=17
Vancouver
Aguiar VÂP de, Medina NH, Added N, Aguiar VÂP de, Macchione ELA, Leite AR, Silva TF da, Rodrigues CL, Escudeiro R, Allegro PRP, Santos HC, Alberton SG, Scarduelli VB, Silveira MAG, Melo MAA de, Santos RBB, Giacomini R, Oliveira JA, Leite FGH, Sayeg IJ. Passivation layer and charge collection depth in electronic devices [Internet]. Resumos. 2018 ;[citado 2024 ago. 04 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/programa/trabalhos.asp?sesId=17

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