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Trabalho de evento-resumo
Determinação numérica da espessura e das constantes ópticas de filmes de silício amorfo dopados com níquel através de espectroscopia de transmissão (2007)
Ferri, Fabio Aparecido; Zanatta, Antonio Ricardo
Source: Livro de Resumos. Conference titles: Workshop da Pós-Graduação do IFSC. Unidade: IFSC
Subjects: FILMES FINOS, SILÍCIO, ESPECTROSCOPIA, ÓPTICA
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ABNT
FERRI, Fabio Aparecido e ZANATTA, Antonio Ricardo. Determinação numérica da espessura e das constantes ópticas de filmes de silício amorfo dopados com níquel através de espectroscopia de transmissão. 2007, Anais.. São Carlos: Instituto de Física de São Carlos - USP, 2007. . Acesso em: 07 nov. 2024.
APA
Ferri, F. A., & Zanatta, A. R. (2007). Determinação numérica da espessura e das constantes ópticas de filmes de silício amorfo dopados com níquel através de espectroscopia de transmissão. In Livro de Resumos. São Carlos: Instituto de Física de São Carlos - USP.
NLM
Ferri FA, Zanatta AR. Determinação numérica da espessura e das constantes ópticas de filmes de silício amorfo dopados com níquel através de espectroscopia de transmissão. Livro de Resumos. 2007 ;[citado 2024 nov. 07 ]
Vancouver
Ferri FA, Zanatta AR. Determinação numérica da espessura e das constantes ópticas de filmes de silício amorfo dopados com níquel através de espectroscopia de transmissão. Livro de Resumos. 2007 ;[citado 2024 nov. 07 ]
Artigo de periodico
Metal-induced nanocrystalline structures in Ni-containing amorphous silicon thin films (2006)
Ferri, Fabio Aparecido; Zanatta, Antonio Ricardo ; Chambouleyron, I.
Source: Journal of Applied Physics. Unidade: IFSC
Subjects: ESPECTROSCOPIA RAMAN, FILMES FINOS, SILÍCIO, NÍQUEL, TEMPERATURA
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ABNT
FERRI, Fabio Aparecido e ZANATTA, Antonio Ricardo e CHAMBOULEYRON, I. Metal-induced nanocrystalline structures in Ni-containing amorphous silicon thin films. Journal of Applied Physics, v. No 2006, n. 9, p. 094311-1-094311-7, 2006Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/1.2362877. Acesso em: 07 nov. 2024.
APA
Ferri, F. A., Zanatta, A. R., & Chambouleyron, I. (2006). Metal-induced nanocrystalline structures in Ni-containing amorphous silicon thin films. Journal of Applied Physics, No 2006( 9), 094311-1-094311-7. doi:10.1063/1.2362877
NLM
Ferri FA, Zanatta AR, Chambouleyron I. Metal-induced nanocrystalline structures in Ni-containing amorphous silicon thin films [Internet]. Journal of Applied Physics. 2006 ; No 2006( 9): 094311-1-094311-7.[citado 2024 nov. 07 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.2362877
Vancouver
Ferri FA, Zanatta AR, Chambouleyron I. Metal-induced nanocrystalline structures in Ni-containing amorphous silicon thin films [Internet]. Journal of Applied Physics. 2006 ; No 2006( 9): 094311-1-094311-7.[citado 2024 nov. 07 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.2362877
Trabalho de evento-resumo
Cristalização induzida em filmes de silício amorfo: influência da concentração de níquel e da espessura (2006)
Ferri, Fabio Aparecido; Zanatta, Antonio Ricardo
Source: Caderno de Resumos. Conference titles: Workshop da Pós-Graduação do IFSC. Unidade: IFSC
Subjects: FILMES FINOS, SILÍCIO, CRISTALIZAÇÃO, TEMPERATURA
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ABNT
FERRI, Fabio Aparecido e ZANATTA, Antonio Ricardo. Cristalização induzida em filmes de silício amorfo: influência da concentração de níquel e da espessura. 2006, Anais.. São Carlos: Instituto de Física de São Carlos - USP, 2006. . Acesso em: 07 nov. 2024.
APA
Ferri, F. A., & Zanatta, A. R. (2006). Cristalização induzida em filmes de silício amorfo: influência da concentração de níquel e da espessura. In Caderno de Resumos. São Carlos: Instituto de Física de São Carlos - USP.
NLM
Ferri FA, Zanatta AR. Cristalização induzida em filmes de silício amorfo: influência da concentração de níquel e da espessura. Caderno de Resumos. 2006 ;[citado 2024 nov. 07 ]
Vancouver
Ferri FA, Zanatta AR. Cristalização induzida em filmes de silício amorfo: influência da concentração de níquel e da espessura. Caderno de Resumos. 2006 ;[citado 2024 nov. 07 ]
Trabalho de evento-resumo
Filmes de silício amorfo dopados com níquel (2005)
Ferri, Fabio Aparecido; Zanatta, Antonio Ricardo
Source: Caderno de Resumos. Conference titles: Workshop da Pós-Graduação do IFSC. Unidade: IFSC
Subjects: FILMES FINOS, CRISTALIZAÇÃO, ESPECTROSCOPIA RAMAN, SILÍCIO, NÍQUEL
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
FERRI, Fabio Aparecido e ZANATTA, Antonio Ricardo. Filmes de silício amorfo dopados com níquel. 2005, Anais.. São Carlos: Instituto de Física de São Carlos - USP, 2005. . Acesso em: 07 nov. 2024.
APA
Ferri, F. A., & Zanatta, A. R. (2005). Filmes de silício amorfo dopados com níquel. In Caderno de Resumos. São Carlos: Instituto de Física de São Carlos - USP.
NLM
Ferri FA, Zanatta AR. Filmes de silício amorfo dopados com níquel. Caderno de Resumos. 2005 ;[citado 2024 nov. 07 ]
Vancouver
Ferri FA, Zanatta AR. Filmes de silício amorfo dopados com níquel. Caderno de Resumos. 2005 ;[citado 2024 nov. 07 ]

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