Aplicações do método Warren-Averbach de análise de perfis de difração (2013)
Unidade: IPENSubjects: CRISTALOGRAFIA DE RAIOS X, MICROFORMAS, QUÍMICA ANALÍTICA, SOFTWARE ESTATÍSTICO PARA MICROCOMPUTADORES
ABNT
ICHIKAWA, Rodrigo Uchida. Aplicações do método Warren-Averbach de análise de perfis de difração. 2013. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2013. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/85/85134/tde-10012014-103427/. Acesso em: 06 out. 2024.APA
Ichikawa, R. U. (2013). Aplicações do método Warren-Averbach de análise de perfis de difração (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/85/85134/tde-10012014-103427/NLM
Ichikawa RU. Aplicações do método Warren-Averbach de análise de perfis de difração [Internet]. 2013 ;[citado 2024 out. 06 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/85/85134/tde-10012014-103427/Vancouver
Ichikawa RU. Aplicações do método Warren-Averbach de análise de perfis de difração [Internet]. 2013 ;[citado 2024 out. 06 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/85/85134/tde-10012014-103427/