Aplicações do método Warren-Averbach de análise de perfis de difração (2013)
- Authors:
- Autor USP: ICHIKAWA, RODRIGO UCHIDA - IPEN
- Unidade: IPEN
- Subjects: CRISTALOGRAFIA DE RAIOS X; MICROFORMAS; QUÍMICA ANALÍTICA; SOFTWARE ESTATÍSTICO PARA MICROCOMPUTADORES
- Language: Português
- Abstract: O objetivo deste trabalho foi desenvolver e implementar uma metodologia envolvendo a análise de perfis de difração de raios X (X-ray Line Profile Analysis - XLPA) para o estudo e determinação do tamanho médio de cristalitos e microdeformação em materiais. Para isto houve o desenvolvimento de um programa computacional para facilitar o tratamento dos picos presentes em um difratograma e realizar a deconvolução de perfis através do Método de Stokes para se corrigir a contribuição instrumental nos perfis de difração. Os métodos de XLPA de espaço real estudados e aplicados neste trabalho foram os métodos de Scherrer, Williamson-Hall e Single-Line (ou Linha Única) e o método de Warren-Averbach de espaço de Fourier. Além disso, utilizando-se um modelamento matemático foi possível calcular a distribuição de tamanhos de cristalitos para um caso isotrópico, onde considerou-se a distribuição log-normal e cristalitos com forma esférica. Foi possível demonstrar que a teoria proposta pode ser considerada como uma boa aproximação avaliando-se uma razão de dispersão. As metodologias descritas acima foram aplicadas em dois materiais distintos: na liga metálica Zircaloy-4 e em ZnO
- Imprenta:
- Data da defesa: 22.11.2013
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ABNT
ICHIKAWA, Rodrigo Uchida. Aplicações do método Warren-Averbach de análise de perfis de difração. 2013. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2013. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/85/85134/tde-10012014-103427/. Acesso em: 19 fev. 2026. -
APA
Ichikawa, R. U. (2013). Aplicações do método Warren-Averbach de análise de perfis de difração (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/85/85134/tde-10012014-103427/ -
NLM
Ichikawa RU. Aplicações do método Warren-Averbach de análise de perfis de difração [Internet]. 2013 ;[citado 2026 fev. 19 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/85/85134/tde-10012014-103427/ -
Vancouver
Ichikawa RU. Aplicações do método Warren-Averbach de análise de perfis de difração [Internet]. 2013 ;[citado 2026 fev. 19 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/85/85134/tde-10012014-103427/
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