Subjects: SEMICONDUTORES, CIRCUITOS INTEGRADOS
ABNT
HASAN, Nasser Mahmoud e LAGANÁ, Armando Antonio Maria e SANTOS FILHO, Sebastião Gomes dos. Contribuição ao estudo da morfologia da superfície e da interface do silicato de titânio formado sobre Si(100) empregando a técnica de microscopia de força atômica (AFM). . São Paulo: EPUSP. . Acesso em: 20 set. 2024. , 1998APA
Hasan, N. M., Laganá, A. A. M., & Santos Filho, S. G. dos. (1998). Contribuição ao estudo da morfologia da superfície e da interface do silicato de titânio formado sobre Si(100) empregando a técnica de microscopia de força atômica (AFM). São Paulo: EPUSP.NLM
Hasan NM, Laganá AAM, Santos Filho SG dos. Contribuição ao estudo da morfologia da superfície e da interface do silicato de titânio formado sobre Si(100) empregando a técnica de microscopia de força atômica (AFM). 1998 ;[citado 2024 set. 20 ]Vancouver
Hasan NM, Laganá AAM, Santos Filho SG dos. Contribuição ao estudo da morfologia da superfície e da interface do silicato de titânio formado sobre Si(100) empregando a técnica de microscopia de força atômica (AFM). 1998 ;[citado 2024 set. 20 ]