ReP USP - Resultado da busca

Trabalho de evento
Active sound quality control of vehicle interior sound (2010)
Gallo, M.; Komiya, Y.; Janssens, Karl; Anthonis, J.; Van der Auweraer, Herman; Oliveira, Leopoldo Pisanelli Rodrigues de
Fonte: Proceedings. Nome do evento: International Conference on Noise and Vibration Engineering - ISMA. Unidade: EESC
Assuntos: SOM, RUÍDO DOS TRANSPORTES
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
GALLO, M. et al. Active sound quality control of vehicle interior sound. 2010, Anais.. Heverlee: KU Leuven, 2010. Disponível em: http://past.isma-isaac.be/downloads/isma2010/papers/isma2010_0457.pdf. Acesso em: 13 jul. 2024.
APA
Gallo, M., Komiya, Y., Janssens, K., Anthonis, J., Van der Auweraer, H., & Oliveira, L. P. R. de. (2010). Active sound quality control of vehicle interior sound. In Proceedings. Heverlee: KU Leuven. Recuperado de http://past.isma-isaac.be/downloads/isma2010/papers/isma2010_0457.pdf
NLM
Gallo M, Komiya Y, Janssens K, Anthonis J, Van der Auweraer H, Oliveira LPR de. Active sound quality control of vehicle interior sound [Internet]. Proceedings. 2010 ;[citado 2024 jul. 13 ] Available from: http://past.isma-isaac.be/downloads/isma2010/papers/isma2010_0457.pdf
Vancouver
Gallo M, Komiya Y, Janssens K, Anthonis J, Van der Auweraer H, Oliveira LPR de. Active sound quality control of vehicle interior sound [Internet]. Proceedings. 2010 ;[citado 2024 jul. 13 ] Available from: http://past.isma-isaac.be/downloads/isma2010/papers/isma2010_0457.pdf
Artigo de periodico
DIBL behavior of triple gate FinFETs with SEG on biaxial strained devices (2010)
Santos, Sara Dereste dos ; Nicoletti, Talitha; Martino, João Antonio ; Simoen, Eddy ; Claeys, Cor
Fonte: Microelectronics Technology and Devices - SBMicro 2010. Unidade: EP
Assunto: DISPOSITIVOS ELETRÔNICOS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
SANTOS, Sara Dereste dos et al. DIBL behavior of triple gate FinFETs with SEG on biaxial strained devices. Microelectronics Technology and Devices - SBMicro 2010, v. 31, n. 1, p. 51-58, 2010Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1149/1.3474141. Acesso em: 13 jul. 2024.
APA
Santos, S. D. dos, Nicoletti, T., Martino, J. A., Simoen, E., & Claeys, C. (2010). DIBL behavior of triple gate FinFETs with SEG on biaxial strained devices. Microelectronics Technology and Devices - SBMicro 2010, 31( 1), 51-58. doi:10.1149/1.3474141
NLM
Santos SD dos, Nicoletti T, Martino JA, Simoen E, Claeys C. DIBL behavior of triple gate FinFETs with SEG on biaxial strained devices [Internet]. Microelectronics Technology and Devices - SBMicro 2010. 2010 ;31( 1): 51-58.[citado 2024 jul. 13 ] Available from: https://doi.org/10.1149/1.3474141
Vancouver
Santos SD dos, Nicoletti T, Martino JA, Simoen E, Claeys C. DIBL behavior of triple gate FinFETs with SEG on biaxial strained devices [Internet]. Microelectronics Technology and Devices - SBMicro 2010. 2010 ;31( 1): 51-58.[citado 2024 jul. 13 ] Available from: https://doi.org/10.1149/1.3474141
Relatorio tecnico
Inferential implications of over-parametrization: a case dtudy in incomplete categorical data (2010)
Poleto, Frederico Zanqueta; Paulino, Carlos Daniel ; Molenberghs, Geert; Singer, Júlio da Motta
Unidade: IME
Assunto: TABELAS DE CONTINGÊNCIA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
POLETO, Frederico Zanqueta et al. Inferential implications of over-parametrization: a case dtudy in incomplete categorical data. . São Paulo: IME-USP. Disponível em: https://repositorio.usp.br/directbitstream/4f73eae3-df84-4eac-ae6a-1223e6c88652/2145710.pdf. Acesso em: 13 jul. 2024. , 2010
APA
Poleto, F. Z., Paulino, C. D., Molenberghs, G., & Singer, J. da M. (2010). Inferential implications of over-parametrization: a case dtudy in incomplete categorical data. São Paulo: IME-USP. Recuperado de https://repositorio.usp.br/directbitstream/4f73eae3-df84-4eac-ae6a-1223e6c88652/2145710.pdf
NLM
Poleto FZ, Paulino CD, Molenberghs G, Singer J da M. Inferential implications of over-parametrization: a case dtudy in incomplete categorical data [Internet]. 2010 ;[citado 2024 jul. 13 ] Available from: https://repositorio.usp.br/directbitstream/4f73eae3-df84-4eac-ae6a-1223e6c88652/2145710.pdf
Vancouver
Poleto FZ, Paulino CD, Molenberghs G, Singer J da M. Inferential implications of over-parametrization: a case dtudy in incomplete categorical data [Internet]. 2010 ;[citado 2024 jul. 13 ] Available from: https://repositorio.usp.br/directbitstream/4f73eae3-df84-4eac-ae6a-1223e6c88652/2145710.pdf
Trabalho de evento-resumo
R05 - Característica mineralógicas do diamante da região de Tibagi, Paraná (2010)
Liccardo, Antonio; Svisero, Darcy P.; Dereppe, Jean-Marie
Fonte: Resumos e roteiro de excursão. Nome do evento: Simpósio Brasileiro de Geologia do Diamante. Unidade: IGC
Assuntos: GEOLOGIA, DIAMANTE
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
LICCARDO, Antonio e SVISERO, Darcy P. e DEREPPE, Jean-Marie. R05 - Característica mineralógicas do diamante da região de Tibagi, Paraná. 2010, Anais.. Paraná: Instituto de Geociências, Universidade de São Paulo, 2010. p. 32-33. Disponível em: http://www.geoturismobrasil.com/Material%didatico/boletim%5SBDG.pdf. Acesso em: 13 jul. 2024.
APA
Liccardo, A., Svisero, D. P., & Dereppe, J. -M. (2010). R05 - Característica mineralógicas do diamante da região de Tibagi, Paraná. In Resumos e roteiro de excursão (p. 32-33). Paraná: Instituto de Geociências, Universidade de São Paulo. Recuperado de http://www.geoturismobrasil.com/Material%didatico/boletim%5SBDG.pdf
NLM
Liccardo A, Svisero DP, Dereppe J-M. R05 - Característica mineralógicas do diamante da região de Tibagi, Paraná [Internet]. Resumos e roteiro de excursão. 2010 ; 32-33.[citado 2024 jul. 13 ] Available from: http://www.geoturismobrasil.com/Material%didatico/boletim%5SBDG.pdf
Vancouver
Liccardo A, Svisero DP, Dereppe J-M. R05 - Característica mineralógicas do diamante da região de Tibagi, Paraná [Internet]. Resumos e roteiro de excursão. 2010 ; 32-33.[citado 2024 jul. 13 ] Available from: http://www.geoturismobrasil.com/Material%didatico/boletim%5SBDG.pdf
Artigo de periodico
Hyperbolicity of semigroup algebras II (2010)
Iwaki, Edson Ryoji Okamoto; Jespers, E; Juriaans, Orlando Stanley ; Souza Filho, Antônio Calixto de
Fonte: Journal of Algebra and Its Applications. Unidades: IME, EACH
Assuntos: GRUPOS HIPERBÓLICOS, ANÉIS DE GRUPOS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
IWAKI, Edson Ryoji Okamoto et al. Hyperbolicity of semigroup algebras II. Journal of Algebra and Its Applications, v. 9, n. 6, p. 871-876, 2010Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1142/S0219498810004270. Acesso em: 13 jul. 2024.
APA
Iwaki, E. R. O., Jespers, E., Juriaans, O. S., & Souza Filho, A. C. de. (2010). Hyperbolicity of semigroup algebras II. Journal of Algebra and Its Applications, 9( 6), 871-876. doi:10.1142/S0219498810004270
NLM
Iwaki ERO, Jespers E, Juriaans OS, Souza Filho AC de. Hyperbolicity of semigroup algebras II [Internet]. Journal of Algebra and Its Applications. 2010 ; 9( 6): 871-876.[citado 2024 jul. 13 ] Available from: https://doi.org/10.1142/S0219498810004270
Vancouver
Iwaki ERO, Jespers E, Juriaans OS, Souza Filho AC de. Hyperbolicity of semigroup algebras II [Internet]. Journal of Algebra and Its Applications. 2010 ; 9( 6): 871-876.[citado 2024 jul. 13 ] Available from: https://doi.org/10.1142/S0219498810004270
Artigo de periodico
Improved analytical model for ZTC bias point for strained Tri-gates FinFETs (2010)
Almeida, Luciano Mendes; Martino, João Antonio ; Simoen, Eddy ; Claeys, Cor
Fonte: Microelectronics Technology and Devices - SBMicro 2010. Unidade: EP
Assunto: ELETROQUÍMICA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
ALMEIDA, Luciano Mendes et al. Improved analytical model for ZTC bias point for strained Tri-gates FinFETs. Microelectronics Technology and Devices - SBMicro 2010, v. 31, n. 1, p. 385-392, 2010Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1149/1.3474183. Acesso em: 13 jul. 2024.
APA
Almeida, L. M., Martino, J. A., Simoen, E., & Claeys, C. (2010). Improved analytical model for ZTC bias point for strained Tri-gates FinFETs. Microelectronics Technology and Devices - SBMicro 2010, 31( 1), 385-392. doi:10.1149/1.3474183
NLM
Almeida LM, Martino JA, Simoen E, Claeys C. Improved analytical model for ZTC bias point for strained Tri-gates FinFETs [Internet]. Microelectronics Technology and Devices - SBMicro 2010. 2010 ;31( 1): 385-392.[citado 2024 jul. 13 ] Available from: https://doi.org/10.1149/1.3474183
Vancouver
Almeida LM, Martino JA, Simoen E, Claeys C. Improved analytical model for ZTC bias point for strained Tri-gates FinFETs [Internet]. Microelectronics Technology and Devices - SBMicro 2010. 2010 ;31( 1): 385-392.[citado 2024 jul. 13 ] Available from: https://doi.org/10.1149/1.3474183
Artigo de periodico
NEX-LMS: a novel adaptive control scheme for harmonic sound quality control (2010)
Oliveira, Leopoldo Pisanelli Rodrigues de; Stallaert, Bert; Janssens, Karl; Van der Auweraer, Herman; Sas, Paul; Desmet, Wim
Fonte: Mechanical Systems and Signal Processing. Unidade: EESC
Assuntos: CONTROLE ADAPTATIVO, SOM
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
OLIVEIRA, Leopoldo Pisanelli Rodrigues de et al. NEX-LMS: a novel adaptive control scheme for harmonic sound quality control. Mechanical Systems and Signal Processing, v. 24, n. 6, p. 1727-1738, 2010Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.ymssp.2010.01.004. Acesso em: 13 jul. 2024.
APA
Oliveira, L. P. R. de, Stallaert, B., Janssens, K., Van der Auweraer, H., Sas, P., & Desmet, W. (2010). NEX-LMS: a novel adaptive control scheme for harmonic sound quality control. Mechanical Systems and Signal Processing, 24( 6), 1727-1738. doi:10.1016/j.ymssp.2010.01.004
NLM
Oliveira LPR de, Stallaert B, Janssens K, Van der Auweraer H, Sas P, Desmet W. NEX-LMS: a novel adaptive control scheme for harmonic sound quality control [Internet]. Mechanical Systems and Signal Processing. 2010 ; 24( 6): 1727-1738.[citado 2024 jul. 13 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.ymssp.2010.01.004
Vancouver
Oliveira LPR de, Stallaert B, Janssens K, Van der Auweraer H, Sas P, Desmet W. NEX-LMS: a novel adaptive control scheme for harmonic sound quality control [Internet]. Mechanical Systems and Signal Processing. 2010 ; 24( 6): 1727-1738.[citado 2024 jul. 13 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.ymssp.2010.01.004
Trabalho de evento
Discrete vs. distributed transducers for ASAC: a numerical study (2010)
Ghiglione, Daniele; Oliveira, Leopoldo Pisanelli Rodrigues de; Desmet, Wim
Fonte: Proceedings. Nome do evento: International Conference on Noise and Vibration Engineering - ISMA. Unidade: EESC
Assuntos: ACÚSTICA, ATUADORES PIEZELÉTRICOS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
GHIGLIONE, Daniele e OLIVEIRA, Leopoldo Pisanelli Rodrigues de e DESMET, Wim. Discrete vs. distributed transducers for ASAC: a numerical study. 2010, Anais.. Heverlee: KU Leuven, 2010. Disponível em: http://past.isma-isaac.be/downloads/isma2010/papers/isma2010_0674.pdf. Acesso em: 13 jul. 2024.
APA
Ghiglione, D., Oliveira, L. P. R. de, & Desmet, W. (2010). Discrete vs. distributed transducers for ASAC: a numerical study. In Proceedings. Heverlee: KU Leuven. Recuperado de http://past.isma-isaac.be/downloads/isma2010/papers/isma2010_0674.pdf
NLM
Ghiglione D, Oliveira LPR de, Desmet W. Discrete vs. distributed transducers for ASAC: a numerical study [Internet]. Proceedings. 2010 ;[citado 2024 jul. 13 ] Available from: http://past.isma-isaac.be/downloads/isma2010/papers/isma2010_0674.pdf
Vancouver
Ghiglione D, Oliveira LPR de, Desmet W. Discrete vs. distributed transducers for ASAC: a numerical study [Internet]. Proceedings. 2010 ;[citado 2024 jul. 13 ] Available from: http://past.isma-isaac.be/downloads/isma2010/papers/isma2010_0674.pdf
Artigo de periodico
Analog performance of SOI nFinFETs with different TiN gate electrode thickness (2010)
Galeti, Milene; Rodrigues, Michele; Collaert, Nadine ; Simoen, Eddy ; Claeys, Cor ; Martino, João Antonio
Fonte: Microelectronics Technology and Devices - SBMicro 2010. Unidade: EP
Assunto: TRANSISTORES
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
GALETI, Milene et al. Analog performance of SOI nFinFETs with different TiN gate electrode thickness. Microelectronics Technology and Devices - SBMicro 2010, v. 31, n. 1, p. 59-65, 2010Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1149/1.3474142. Acesso em: 13 jul. 2024.
APA
Galeti, M., Rodrigues, M., Collaert, N., Simoen, E., Claeys, C., & Martino, J. A. (2010). Analog performance of SOI nFinFETs with different TiN gate electrode thickness. Microelectronics Technology and Devices - SBMicro 2010, 31( 1), 59-65. doi:10.1149/1.3474142
NLM
Galeti M, Rodrigues M, Collaert N, Simoen E, Claeys C, Martino JA. Analog performance of SOI nFinFETs with different TiN gate electrode thickness [Internet]. Microelectronics Technology and Devices - SBMicro 2010. 2010 ;31( 1): 59-65.[citado 2024 jul. 13 ] Available from: https://doi.org/10.1149/1.3474142
Vancouver
Galeti M, Rodrigues M, Collaert N, Simoen E, Claeys C, Martino JA. Analog performance of SOI nFinFETs with different TiN gate electrode thickness [Internet]. Microelectronics Technology and Devices - SBMicro 2010. 2010 ;31( 1): 59-65.[citado 2024 jul. 13 ] Available from: https://doi.org/10.1149/1.3474142

Unidades USP

ReP

Filtros

Departamento

Autores

Autores USP

Assuntos

Título da fonte

Afiliação dos autores externos não normalizada