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Artigo de periodico
Photoreflectance spectra from GaAs HEMT structures reinvestigated: solution of an old controversy (1998)
Soares, J A N T; Enderlein, R; Beliaev, D; Leite, J. R.; Saito, M
Source: Semiconductor Science and Technology. Unidade: IF
Subjects: ENGENHARIA MECÂNICA, MATÉRIA CONDENSADA, MATÉRIA CONDENSADA
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ABNT
SOARES, J A N T et al. Photoreflectance spectra from GaAs HEMT structures reinvestigated: solution of an old controversy. Semiconductor Science and Technology, v. 13, n. 12, p. 1418-1425, 1998Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1088/0268-1242/13/12/015. Acesso em: 08 out. 2024.
APA
Soares, J. A. N. T., Enderlein, R., Beliaev, D., Leite, J. R., & Saito, M. (1998). Photoreflectance spectra from GaAs HEMT structures reinvestigated: solution of an old controversy. Semiconductor Science and Technology, 13( 12), 1418-1425. doi:10.1088/0268-1242/13/12/015
NLM
Soares JANT, Enderlein R, Beliaev D, Leite JR, Saito M. Photoreflectance spectra from GaAs HEMT structures reinvestigated: solution of an old controversy [Internet]. Semiconductor Science and Technology. 1998 ; 13( 12): 1418-1425.[citado 2024 out. 08 ] Available from: https://doi.org/10.1088/0268-1242/13/12/015
Vancouver
Soares JANT, Enderlein R, Beliaev D, Leite JR, Saito M. Photoreflectance spectra from GaAs HEMT structures reinvestigated: solution of an old controversy [Internet]. Semiconductor Science and Technology. 1998 ; 13( 12): 1418-1425.[citado 2024 out. 08 ] Available from: https://doi.org/10.1088/0268-1242/13/12/015
Trabalho de evento-resumo
Photoreflectance spectra from 'GA''AL''AS' / 'GA''AS' hemts (1996)
Soares, J A N T; Enderlein, R; Leite, J. R.; Saito, M
Source: Resumos. Conference titles: Encontro Nacional de Fisica da Materia Condensada. Unidade: IF
Assunto: MATÉRIA CONDENSADA
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ABNT
SOARES, J A N T et al. Photoreflectance spectra from 'GA''AL''AS' / 'GA''AS' hemts. 1996, Anais.. Sao Paulo: Sociedade Brasileira de Fisica, 1996. . Acesso em: 08 out. 2024.
APA
Soares, J. A. N. T., Enderlein, R., Leite, J. R., & Saito, M. (1996). Photoreflectance spectra from 'GA''AL''AS' / 'GA''AS' hemts. In Resumos. Sao Paulo: Sociedade Brasileira de Fisica.
NLM
Soares JANT, Enderlein R, Leite JR, Saito M. Photoreflectance spectra from 'GA''AL''AS' / 'GA''AS' hemts. Resumos. 1996 ;[citado 2024 out. 08 ]
Vancouver
Soares JANT, Enderlein R, Leite JR, Saito M. Photoreflectance spectra from 'GA''AL''AS' / 'GA''AS' hemts. Resumos. 1996 ;[citado 2024 out. 08 ]
Artigo de periodico
Photoreflectance investigations of semiconductor device structures (1995)
Soares, J A N T; Beliaev, D; Enderlein, R; Scolfaro, L M R; Saito, M; Leite, J. R.
Source: Materials Science & Engineering B. Unidade: IF
Assunto: MATÉRIA CONDENSADA
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ABNT
SOARES, J A N T et al. Photoreflectance investigations of semiconductor device structures. Materials Science & Engineering B, v. 35, p. 267-72, 1995Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/0921-5107(95)01340-7. Acesso em: 08 out. 2024.
APA
Soares, J. A. N. T., Beliaev, D., Enderlein, R., Scolfaro, L. M. R., Saito, M., & Leite, J. R. (1995). Photoreflectance investigations of semiconductor device structures. Materials Science & Engineering B, 35, 267-72. doi:10.1016/0921-5107(95)01340-7
NLM
Soares JANT, Beliaev D, Enderlein R, Scolfaro LMR, Saito M, Leite JR. Photoreflectance investigations of semiconductor device structures [Internet]. Materials Science & Engineering B. 1995 ;35 267-72.[citado 2024 out. 08 ] Available from: https://doi.org/10.1016/0921-5107(95)01340-7
Vancouver
Soares JANT, Beliaev D, Enderlein R, Scolfaro LMR, Saito M, Leite JR. Photoreflectance investigations of semiconductor device structures [Internet]. Materials Science & Engineering B. 1995 ;35 267-72.[citado 2024 out. 08 ] Available from: https://doi.org/10.1016/0921-5107(95)01340-7
Trabalho de evento-resumo
Photoreflectance investigations of semiconductor device structures (1995)
Soares, J A N T; Enderlein, R; Leite, J. R.; Saito, M
Source: Resumos. Conference titles: Encontro Nacional de Fisica da Materia Condensada. Unidade: IF
Assunto: MATÉRIA CONDENSADA
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ABNT
SOARES, J A N T et al. Photoreflectance investigations of semiconductor device structures. 1995, Anais.. Sao Paulo: Sociedade Brasileira de Fisica, 1995. . Acesso em: 08 out. 2024.
APA
Soares, J. A. N. T., Enderlein, R., Leite, J. R., & Saito, M. (1995). Photoreflectance investigations of semiconductor device structures. In Resumos. Sao Paulo: Sociedade Brasileira de Fisica.
NLM
Soares JANT, Enderlein R, Leite JR, Saito M. Photoreflectance investigations of semiconductor device structures. Resumos. 1995 ;[citado 2024 out. 08 ]
Vancouver
Soares JANT, Enderlein R, Leite JR, Saito M. Photoreflectance investigations of semiconductor device structures. Resumos. 1995 ;[citado 2024 out. 08 ]

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