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Trabalho de evento
Active sound quality control of vehicle interior sound (2010)
Gallo, M.; Komiya, Y.; Janssens, Karl; Anthonis, J.; Van der Auweraer, Herman; Oliveira, Leopoldo Pisanelli Rodrigues de
Source: Proceedings. Conference titles: International Conference on Noise and Vibration Engineering - ISMA. Unidade: EESC
Subjects: SOM, RUÍDO DOS TRANSPORTES
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ABNT
GALLO, M. et al. Active sound quality control of vehicle interior sound. 2010, Anais.. Heverlee: KU Leuven, 2010. Disponível em: http://past.isma-isaac.be/downloads/isma2010/papers/isma2010_0457.pdf. Acesso em: 13 nov. 2024.
APA
Gallo, M., Komiya, Y., Janssens, K., Anthonis, J., Van der Auweraer, H., & Oliveira, L. P. R. de. (2010). Active sound quality control of vehicle interior sound. In Proceedings. Heverlee: KU Leuven. Recuperado de http://past.isma-isaac.be/downloads/isma2010/papers/isma2010_0457.pdf
NLM
Gallo M, Komiya Y, Janssens K, Anthonis J, Van der Auweraer H, Oliveira LPR de. Active sound quality control of vehicle interior sound [Internet]. Proceedings. 2010 ;[citado 2024 nov. 13 ] Available from: http://past.isma-isaac.be/downloads/isma2010/papers/isma2010_0457.pdf
Vancouver
Gallo M, Komiya Y, Janssens K, Anthonis J, Van der Auweraer H, Oliveira LPR de. Active sound quality control of vehicle interior sound [Internet]. Proceedings. 2010 ;[citado 2024 nov. 13 ] Available from: http://past.isma-isaac.be/downloads/isma2010/papers/isma2010_0457.pdf
Artigo de periodico
DIBL behavior of triple gate FinFETs with SEG on biaxial strained devices (2010)
Santos, Sara Dereste dos ; Nicoletti, Talitha; Martino, João Antonio ; Simoen, Eddy ; Claeys, Cor
Source: Microelectronics Technology and Devices - SBMicro 2010. Unidade: EP
Assunto: DISPOSITIVOS ELETRÔNICOS
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ABNT
SANTOS, Sara Dereste dos et al. DIBL behavior of triple gate FinFETs with SEG on biaxial strained devices. Microelectronics Technology and Devices - SBMicro 2010, v. 31, n. 1, p. 51-58, 2010Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1149/1.3474141. Acesso em: 13 nov. 2024.
APA
Santos, S. D. dos, Nicoletti, T., Martino, J. A., Simoen, E., & Claeys, C. (2010). DIBL behavior of triple gate FinFETs with SEG on biaxial strained devices. Microelectronics Technology and Devices - SBMicro 2010, 31( 1), 51-58. doi:10.1149/1.3474141
NLM
Santos SD dos, Nicoletti T, Martino JA, Simoen E, Claeys C. DIBL behavior of triple gate FinFETs with SEG on biaxial strained devices [Internet]. Microelectronics Technology and Devices - SBMicro 2010. 2010 ;31( 1): 51-58.[citado 2024 nov. 13 ] Available from: https://doi.org/10.1149/1.3474141
Vancouver
Santos SD dos, Nicoletti T, Martino JA, Simoen E, Claeys C. DIBL behavior of triple gate FinFETs with SEG on biaxial strained devices [Internet]. Microelectronics Technology and Devices - SBMicro 2010. 2010 ;31( 1): 51-58.[citado 2024 nov. 13 ] Available from: https://doi.org/10.1149/1.3474141
Trabalho de evento-resumo
R05 - Característica mineralógicas do diamante da região de Tibagi, Paraná (2010)
Liccardo, Antonio; Svisero, Darcy P.; Dereppe, Jean-Marie
Source: Resumos e roteiro de excursão. Conference titles: Simpósio Brasileiro de Geologia do Diamante. Unidade: IGC
Subjects: GEOLOGIA, DIAMANTE
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ABNT
LICCARDO, Antonio e SVISERO, Darcy P. e DEREPPE, Jean-Marie. R05 - Característica mineralógicas do diamante da região de Tibagi, Paraná. 2010, Anais.. Paraná: Instituto de Geociências, Universidade de São Paulo, 2010. p. 32-33. Disponível em: http://www.geoturismobrasil.com/Material%didatico/boletim%5SBDG.pdf. Acesso em: 13 nov. 2024.
APA
Liccardo, A., Svisero, D. P., & Dereppe, J. -M. (2010). R05 - Característica mineralógicas do diamante da região de Tibagi, Paraná. In Resumos e roteiro de excursão (p. 32-33). Paraná: Instituto de Geociências, Universidade de São Paulo. Recuperado de http://www.geoturismobrasil.com/Material%didatico/boletim%5SBDG.pdf
NLM
Liccardo A, Svisero DP, Dereppe J-M. R05 - Característica mineralógicas do diamante da região de Tibagi, Paraná [Internet]. Resumos e roteiro de excursão. 2010 ; 32-33.[citado 2024 nov. 13 ] Available from: http://www.geoturismobrasil.com/Material%didatico/boletim%5SBDG.pdf
Vancouver
Liccardo A, Svisero DP, Dereppe J-M. R05 - Característica mineralógicas do diamante da região de Tibagi, Paraná [Internet]. Resumos e roteiro de excursão. 2010 ; 32-33.[citado 2024 nov. 13 ] Available from: http://www.geoturismobrasil.com/Material%didatico/boletim%5SBDG.pdf
Relatorio tecnico
Inferential implications of over-parametrization: a case dtudy in incomplete categorical data (2010)
Poleto, Frederico Zanqueta; Paulino, Carlos Daniel ; Molenberghs, Geert; Singer, Júlio da Motta
Unidade: IME
Assunto: TABELAS DE CONTINGÊNCIA
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ABNT
POLETO, Frederico Zanqueta et al. Inferential implications of over-parametrization: a case dtudy in incomplete categorical data. . São Paulo: IME-USP. Disponível em: https://repositorio.usp.br/directbitstream/4f73eae3-df84-4eac-ae6a-1223e6c88652/2145710.pdf. Acesso em: 13 nov. 2024. , 2010
APA
Poleto, F. Z., Paulino, C. D., Molenberghs, G., & Singer, J. da M. (2010). Inferential implications of over-parametrization: a case dtudy in incomplete categorical data. São Paulo: IME-USP. Recuperado de https://repositorio.usp.br/directbitstream/4f73eae3-df84-4eac-ae6a-1223e6c88652/2145710.pdf
NLM
Poleto FZ, Paulino CD, Molenberghs G, Singer J da M. Inferential implications of over-parametrization: a case dtudy in incomplete categorical data [Internet]. 2010 ;[citado 2024 nov. 13 ] Available from: https://repositorio.usp.br/directbitstream/4f73eae3-df84-4eac-ae6a-1223e6c88652/2145710.pdf
Vancouver
Poleto FZ, Paulino CD, Molenberghs G, Singer J da M. Inferential implications of over-parametrization: a case dtudy in incomplete categorical data [Internet]. 2010 ;[citado 2024 nov. 13 ] Available from: https://repositorio.usp.br/directbitstream/4f73eae3-df84-4eac-ae6a-1223e6c88652/2145710.pdf
Artigo de periodico
Hyperbolicity of semigroup algebras II (2010)
Iwaki, Edson Ryoji Okamoto; Jespers, E; Juriaans, Orlando Stanley ; Souza Filho, Antônio Calixto de
Source: Journal of Algebra and Its Applications. Unidades: IME, EACH
Subjects: GRUPOS HIPERBÓLICOS, ANÉIS DE GRUPOS
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ABNT
IWAKI, Edson Ryoji Okamoto et al. Hyperbolicity of semigroup algebras II. Journal of Algebra and Its Applications, v. 9, n. 6, p. 871-876, 2010Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1142/S0219498810004270. Acesso em: 13 nov. 2024.
APA
Iwaki, E. R. O., Jespers, E., Juriaans, O. S., & Souza Filho, A. C. de. (2010). Hyperbolicity of semigroup algebras II. Journal of Algebra and Its Applications, 9( 6), 871-876. doi:10.1142/S0219498810004270
NLM
Iwaki ERO, Jespers E, Juriaans OS, Souza Filho AC de. Hyperbolicity of semigroup algebras II [Internet]. Journal of Algebra and Its Applications. 2010 ; 9( 6): 871-876.[citado 2024 nov. 13 ] Available from: https://doi.org/10.1142/S0219498810004270
Vancouver
Iwaki ERO, Jespers E, Juriaans OS, Souza Filho AC de. Hyperbolicity of semigroup algebras II [Internet]. Journal of Algebra and Its Applications. 2010 ; 9( 6): 871-876.[citado 2024 nov. 13 ] Available from: https://doi.org/10.1142/S0219498810004270
Artigo de periodico
Improved analytical model for ZTC bias point for strained Tri-gates FinFETs (2010)
Almeida, Luciano Mendes; Martino, João Antonio ; Simoen, Eddy ; Claeys, Cor
Source: Microelectronics Technology and Devices - SBMicro 2010. Unidade: EP
Assunto: ELETROQUÍMICA
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ABNT
ALMEIDA, Luciano Mendes et al. Improved analytical model for ZTC bias point for strained Tri-gates FinFETs. Microelectronics Technology and Devices - SBMicro 2010, v. 31, n. 1, p. 385-392, 2010Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1149/1.3474183. Acesso em: 13 nov. 2024.
APA
Almeida, L. M., Martino, J. A., Simoen, E., & Claeys, C. (2010). Improved analytical model for ZTC bias point for strained Tri-gates FinFETs. Microelectronics Technology and Devices - SBMicro 2010, 31( 1), 385-392. doi:10.1149/1.3474183
NLM
Almeida LM, Martino JA, Simoen E, Claeys C. Improved analytical model for ZTC bias point for strained Tri-gates FinFETs [Internet]. Microelectronics Technology and Devices - SBMicro 2010. 2010 ;31( 1): 385-392.[citado 2024 nov. 13 ] Available from: https://doi.org/10.1149/1.3474183
Vancouver
Almeida LM, Martino JA, Simoen E, Claeys C. Improved analytical model for ZTC bias point for strained Tri-gates FinFETs [Internet]. Microelectronics Technology and Devices - SBMicro 2010. 2010 ;31( 1): 385-392.[citado 2024 nov. 13 ] Available from: https://doi.org/10.1149/1.3474183
Artigo de periodico
NEX-LMS: a novel adaptive control scheme for harmonic sound quality control (2010)
Oliveira, Leopoldo Pisanelli Rodrigues de; Stallaert, Bert; Janssens, Karl; Van der Auweraer, Herman; Sas, Paul; Desmet, Wim
Source: Mechanical Systems and Signal Processing. Unidade: EESC
Subjects: CONTROLE ADAPTATIVO, SOM
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
OLIVEIRA, Leopoldo Pisanelli Rodrigues de et al. NEX-LMS: a novel adaptive control scheme for harmonic sound quality control. Mechanical Systems and Signal Processing, v. 24, n. 6, p. 1727-1738, 2010Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.ymssp.2010.01.004. Acesso em: 13 nov. 2024.
APA
Oliveira, L. P. R. de, Stallaert, B., Janssens, K., Van der Auweraer, H., Sas, P., & Desmet, W. (2010). NEX-LMS: a novel adaptive control scheme for harmonic sound quality control. Mechanical Systems and Signal Processing, 24( 6), 1727-1738. doi:10.1016/j.ymssp.2010.01.004
NLM
Oliveira LPR de, Stallaert B, Janssens K, Van der Auweraer H, Sas P, Desmet W. NEX-LMS: a novel adaptive control scheme for harmonic sound quality control [Internet]. Mechanical Systems and Signal Processing. 2010 ; 24( 6): 1727-1738.[citado 2024 nov. 13 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.ymssp.2010.01.004
Vancouver
Oliveira LPR de, Stallaert B, Janssens K, Van der Auweraer H, Sas P, Desmet W. NEX-LMS: a novel adaptive control scheme for harmonic sound quality control [Internet]. Mechanical Systems and Signal Processing. 2010 ; 24( 6): 1727-1738.[citado 2024 nov. 13 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.ymssp.2010.01.004
Trabalho de evento
Discrete vs. distributed transducers for ASAC: a numerical study (2010)
Ghiglione, Daniele; Oliveira, Leopoldo Pisanelli Rodrigues de; Desmet, Wim
Source: Proceedings. Conference titles: International Conference on Noise and Vibration Engineering - ISMA. Unidade: EESC
Subjects: ACÚSTICA, ATUADORES PIEZELÉTRICOS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
GHIGLIONE, Daniele e OLIVEIRA, Leopoldo Pisanelli Rodrigues de e DESMET, Wim. Discrete vs. distributed transducers for ASAC: a numerical study. 2010, Anais.. Heverlee: KU Leuven, 2010. Disponível em: http://past.isma-isaac.be/downloads/isma2010/papers/isma2010_0674.pdf. Acesso em: 13 nov. 2024.
APA
Ghiglione, D., Oliveira, L. P. R. de, & Desmet, W. (2010). Discrete vs. distributed transducers for ASAC: a numerical study. In Proceedings. Heverlee: KU Leuven. Recuperado de http://past.isma-isaac.be/downloads/isma2010/papers/isma2010_0674.pdf
NLM
Ghiglione D, Oliveira LPR de, Desmet W. Discrete vs. distributed transducers for ASAC: a numerical study [Internet]. Proceedings. 2010 ;[citado 2024 nov. 13 ] Available from: http://past.isma-isaac.be/downloads/isma2010/papers/isma2010_0674.pdf
Vancouver
Ghiglione D, Oliveira LPR de, Desmet W. Discrete vs. distributed transducers for ASAC: a numerical study [Internet]. Proceedings. 2010 ;[citado 2024 nov. 13 ] Available from: http://past.isma-isaac.be/downloads/isma2010/papers/isma2010_0674.pdf
Artigo de periodico
Analog performance of SOI nFinFETs with different TiN gate electrode thickness (2010)
Galeti, Milene; Rodrigues, Michele; Collaert, Nadine ; Simoen, Eddy ; Claeys, Cor ; Martino, João Antonio
Source: Microelectronics Technology and Devices - SBMicro 2010. Unidade: EP
Assunto: TRANSISTORES
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
GALETI, Milene et al. Analog performance of SOI nFinFETs with different TiN gate electrode thickness. Microelectronics Technology and Devices - SBMicro 2010, v. 31, n. 1, p. 59-65, 2010Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1149/1.3474142. Acesso em: 13 nov. 2024.
APA
Galeti, M., Rodrigues, M., Collaert, N., Simoen, E., Claeys, C., & Martino, J. A. (2010). Analog performance of SOI nFinFETs with different TiN gate electrode thickness. Microelectronics Technology and Devices - SBMicro 2010, 31( 1), 59-65. doi:10.1149/1.3474142
NLM
Galeti M, Rodrigues M, Collaert N, Simoen E, Claeys C, Martino JA. Analog performance of SOI nFinFETs with different TiN gate electrode thickness [Internet]. Microelectronics Technology and Devices - SBMicro 2010. 2010 ;31( 1): 59-65.[citado 2024 nov. 13 ] Available from: https://doi.org/10.1149/1.3474142
Vancouver
Galeti M, Rodrigues M, Collaert N, Simoen E, Claeys C, Martino JA. Analog performance of SOI nFinFETs with different TiN gate electrode thickness [Internet]. Microelectronics Technology and Devices - SBMicro 2010. 2010 ;31( 1): 59-65.[citado 2024 nov. 13 ] Available from: https://doi.org/10.1149/1.3474142

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