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Trabalho de evento-resumo
EXAFS analysis on SiOxNy films (2006)
Criado, Denise ; Fantini, Márcia Carvalho de Abreu ; Pereyra, Inés
Source: Abstracts. Conference titles: Brazilian MRS Meeting. Unidades: IF, EP
Assunto: MATERIAIS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
CRIADO, Denise e FANTINI, Márcia Carvalho de Abreu e PEREYRA, Inés. EXAFS analysis on SiOxNy films. 2006, Anais.. Florianópolis: SBPMat - Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais, 2006. . Acesso em: 24 jun. 2024.
APA
Criado, D., Fantini, M. C. de A., & Pereyra, I. (2006). EXAFS analysis on SiOxNy films. In Abstracts. Florianópolis: SBPMat - Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais.
NLM
Criado D, Fantini MC de A, Pereyra I. EXAFS analysis on SiOxNy films. Abstracts. 2006 ;[citado 2024 jun. 24 ]
Vancouver
Criado D, Fantini MC de A, Pereyra I. EXAFS analysis on SiOxNy films. Abstracts. 2006 ;[citado 2024 jun. 24 ]
Trabalho de evento-resumo
Photoluminescenct silicon-rich silicon oxynitride alloys grown by PECVD (2006)
Ribeiro, M.; Criado, Denise ; Aparecido, R.; Pereyra, Inés
Source: Abstracts. Conference titles: Brazilian MRS Meeting. Unidade: EP
Assunto: MATERIAIS
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ABNT
RIBEIRO, M. et al. Photoluminescenct silicon-rich silicon oxynitride alloys grown by PECVD. 2006, Anais.. Florianópolis: SBPMat - Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais, 2006. . Acesso em: 24 jun. 2024.
APA
Ribeiro, M., Criado, D., Aparecido, R., & Pereyra, I. (2006). Photoluminescenct silicon-rich silicon oxynitride alloys grown by PECVD. In Abstracts. Florianópolis: SBPMat - Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais.
NLM
Ribeiro M, Criado D, Aparecido R, Pereyra I. Photoluminescenct silicon-rich silicon oxynitride alloys grown by PECVD. Abstracts. 2006 ;[citado 2024 jun. 24 ]
Vancouver
Ribeiro M, Criado D, Aparecido R, Pereyra I. Photoluminescenct silicon-rich silicon oxynitride alloys grown by PECVD. Abstracts. 2006 ;[citado 2024 jun. 24 ]
Trabalho de evento-resumo
Study of the structural properties of the PECVD SiOxNy dielectric layers obtained with different RF powers by XANES and EXAFS analysis (2006)
Albertin, Katia Franklin ; Fantini, Márcia Carvalho de Abreu ; Pereyra, Inés
Source: Abstracts. Conference titles: Brazilian MRS Meeting. Unidades: IF, EP
Assunto: MATERIAIS
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ABNT
ALBERTIN, Katia Franklin e FANTINI, Márcia Carvalho de Abreu e PEREYRA, Inés. Study of the structural properties of the PECVD SiOxNy dielectric layers obtained with different RF powers by XANES and EXAFS analysis. 2006, Anais.. Florianópolis: SBPMat - Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais, 2006. . Acesso em: 24 jun. 2024.
APA
Albertin, K. F., Fantini, M. C. de A., & Pereyra, I. (2006). Study of the structural properties of the PECVD SiOxNy dielectric layers obtained with different RF powers by XANES and EXAFS analysis. In Abstracts. Florianópolis: SBPMat - Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais.
NLM
Albertin KF, Fantini MC de A, Pereyra I. Study of the structural properties of the PECVD SiOxNy dielectric layers obtained with different RF powers by XANES and EXAFS analysis. Abstracts. 2006 ;[citado 2024 jun. 24 ]
Vancouver
Albertin KF, Fantini MC de A, Pereyra I. Study of the structural properties of the PECVD SiOxNy dielectric layers obtained with different RF powers by XANES and EXAFS analysis. Abstracts. 2006 ;[citado 2024 jun. 24 ]

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