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Trabalho de evento-resumo
Structural investigation of cobalt oxide films grown by reactive DC magnetron sputtering (2019)
Azevedo Neto, Nilton Francelosi; Affonço, Lucas Jorge; Angélico, João Carlos; Zanatta, Antonio Ricardo ; Soares, Márcio Medeiros; Silva, José Humberto Dias da
Fonte: Program. Nome do evento: Brazilian MRS Meeting. Unidade: IFSC
Assuntos: TECNOLOGIA DE MICRO-ONDAS, FILMES FINOS, COBALTO
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ABNT
AZEVEDO NETO, Nilton Francelosi et al. Structural investigation of cobalt oxide films grown by reactive DC magnetron sputtering. 2019, Anais.. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais - SBPMat, 2019. . Acesso em: 24 ago. 2024.
APA
Azevedo Neto, N. F., Affonço, L. J., Angélico, J. C., Zanatta, A. R., Soares, M. M., & Silva, J. H. D. da. (2019). Structural investigation of cobalt oxide films grown by reactive DC magnetron sputtering. In Program. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais - SBPMat.
NLM
Azevedo Neto NF, Affonço LJ, Angélico JC, Zanatta AR, Soares MM, Silva JHD da. Structural investigation of cobalt oxide films grown by reactive DC magnetron sputtering. Program. 2019 ;[citado 2024 ago. 24 ]
Vancouver
Azevedo Neto NF, Affonço LJ, Angélico JC, Zanatta AR, Soares MM, Silva JHD da. Structural investigation of cobalt oxide films grown by reactive DC magnetron sputtering. Program. 2019 ;[citado 2024 ago. 24 ]
Trabalho de evento-resumo
Optical and micro-Raman characterizations of Co3O4 films aiming photovoltaic and photocatalytic applications (2019)
Silva, José Humberto Dias da; Azevedo Neto, Nilton Francelosi; Affonço, Lucas Jorge; Ribeiro, Allan Victor; Bruno-Alfonso, Alexys; Pereira, André Luis de Jesus; Zanatta, Antonio Ricardo
Fonte: Program. Nome do evento: Brazilian MRS Meeting. Unidade: IFSC
Assuntos: FILMES FINOS, DISPOSITIVOS ÓPTICOS
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ABNT
SILVA, José Humberto Dias da et al. Optical and micro-Raman characterizations of Co3O4 films aiming photovoltaic and photocatalytic applications. 2019, Anais.. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais - SBPMat, 2019. . Acesso em: 24 ago. 2024.
APA
Silva, J. H. D. da, Azevedo Neto, N. F., Affonço, L. J., Ribeiro, A. V., Bruno-Alfonso, A., Pereira, A. L. de J., & Zanatta, A. R. (2019). Optical and micro-Raman characterizations of Co3O4 films aiming photovoltaic and photocatalytic applications. In Program. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais - SBPMat.
NLM
Silva JHD da, Azevedo Neto NF, Affonço LJ, Ribeiro AV, Bruno-Alfonso A, Pereira AL de J, Zanatta AR. Optical and micro-Raman characterizations of Co3O4 films aiming photovoltaic and photocatalytic applications. Program. 2019 ;[citado 2024 ago. 24 ]
Vancouver
Silva JHD da, Azevedo Neto NF, Affonço LJ, Ribeiro AV, Bruno-Alfonso A, Pereira AL de J, Zanatta AR. Optical and micro-Raman characterizations of Co3O4 films aiming photovoltaic and photocatalytic applications. Program. 2019 ;[citado 2024 ago. 24 ]
Trabalho de evento-resumo
Influence of nickel concentration on the metal-induced crystallization of amorphous silicon thin films (2013)
Zanatta, Antonio Ricardo; Ingram, D. C.; Kordesch, M. E.
Fonte: Program. Nome do evento: International Conference on the Structure of Non Crystalline Materials - NCM. Unidade: IFSC
Assuntos: CRISTALIZAÇÃO, FILMES FINOS, SILICIO
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ABNT
ZANATTA, Antonio Ricardo e INGRAM, D. C. e KORDESCH, M. E. Influence of nickel concentration on the metal-induced crystallization of amorphous silicon thin films. 2013, Anais.. Trento: University of Trento, 2013. . Acesso em: 24 ago. 2024.
APA
Zanatta, A. R., Ingram, D. C., & Kordesch, M. E. (2013). Influence of nickel concentration on the metal-induced crystallization of amorphous silicon thin films. In Program. Trento: University of Trento.
NLM
Zanatta AR, Ingram DC, Kordesch ME. Influence of nickel concentration on the metal-induced crystallization of amorphous silicon thin films. Program. 2013 ;[citado 2024 ago. 24 ]
Vancouver
Zanatta AR, Ingram DC, Kordesch ME. Influence of nickel concentration on the metal-induced crystallization of amorphous silicon thin films. Program. 2013 ;[citado 2024 ago. 24 ]
Trabalho de evento-resumo
On the structural and optical properties of rare-earth-doped SiOx films deposited by sputtering (2013)
Zanatta, Antonio Ricardo
Fonte: Program. Nome do evento: International Conference on the Structure of Non Crystalline Materials - NCM. Unidade: IFSC
Assuntos: TERRAS RARAS, DIELÉTRICOS (PROPRIEDADES), MATERIAIS CERÂMICOS
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ABNT
ZANATTA, Antonio Ricardo. On the structural and optical properties of rare-earth-doped SiOx films deposited by sputtering. 2013, Anais.. Trento: University of Trento, 2013. . Acesso em: 24 ago. 2024.
APA
Zanatta, A. R. (2013). On the structural and optical properties of rare-earth-doped SiOx films deposited by sputtering. In Program. Trento: University of Trento.
NLM
Zanatta AR. On the structural and optical properties of rare-earth-doped SiOx films deposited by sputtering. Program. 2013 ;[citado 2024 ago. 24 ]
Vancouver
Zanatta AR. On the structural and optical properties of rare-earth-doped SiOx films deposited by sputtering. Program. 2013 ;[citado 2024 ago. 24 ]

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