Correlating the structural, optical and surface electronic properties of sputtered Co3O4 films (2026)
- Authors:
- Autor USP: ZANATTA, ANTONIO RICARDO - IFSC
- Unidade: IFSC
- DOI: 10.1088/1402-4896/ae5156
- Subjects: ELETROQUÍMICA; FILMES FINOS; ESPECTROSCOPIA
- Keywords: Co3O4; Thin films; Reactive sputtering; Raman; Kelvin probe
- Agências de fomento:
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Source:
- Título: Physica Scripta
- ISSN: 0031-8949
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 101, n. 12, p. 125907-1-125907-12 + supplementary materials, Mar. 2026
- Status:
- Artigo aberto em periódico híbrido (Hybrid Open Access)
- Versão do Documento:
- Versão publicada (Published version)
- Acessar versão aberta:
-
ABNT
AZEVEDO NETO, Nilton Francelosi et al. Correlating the structural, optical and surface electronic properties of sputtered Co3O4 films. Physica Scripta, v. 101, n. 12, p. 125907-1-125907-12 + supplementary materials, 2026Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1088/1402-4896/ae5156. Acesso em: 13 abr. 2026. -
APA
Azevedo Neto, N. F., Albano, L. G. S., Ribeiro, A. V., Dalan, F. C., Pereira, A. L. J., Zanatta, A. R., & Silva, J. H. D. da. (2026). Correlating the structural, optical and surface electronic properties of sputtered Co3O4 films. Physica Scripta, 101( 12), 125907-1-125907-12 + supplementary materials. doi:10.1088/1402-4896/ae5156 -
NLM
Azevedo Neto NF, Albano LGS, Ribeiro AV, Dalan FC, Pereira ALJ, Zanatta AR, Silva JHD da. Correlating the structural, optical and surface electronic properties of sputtered Co3O4 films [Internet]. Physica Scripta. 2026 ; 101( 12): 125907-1-125907-12 + supplementary materials.[citado 2026 abr. 13 ] Available from: https://doi.org/10.1088/1402-4896/ae5156 -
Vancouver
Azevedo Neto NF, Albano LGS, Ribeiro AV, Dalan FC, Pereira ALJ, Zanatta AR, Silva JHD da. Correlating the structural, optical and surface electronic properties of sputtered Co3O4 films [Internet]. Physica Scripta. 2026 ; 101( 12): 125907-1-125907-12 + supplementary materials.[citado 2026 abr. 13 ] Available from: https://doi.org/10.1088/1402-4896/ae5156 - Técnicas de espectroscopia óptica 1: espalhamento Raman
- Desenvolvimento de microcavidades ópticas com janelas de transmissão no visível e infravermelho próximo
- Infrared photoluminescence from Er-doped a-GaAsN alloys
- Propriedades estruturais de filmes finos de silicio amorfo hidrogenado tratados termicamente
- Growth, structure and morphology of Mn-containing amorphous silicon films deposited by sputtering
- Influence of the temperature and time of thermal annealing in the optical properties of a-SiN doped with rare-earth ions
- Optical characterization of Fe-doped amorphous SiNx films
- Filmes de silício amorfo dopados com níquel
- Optical properties of Er and Er + Yb doped hydrogenated amorphous silicon films
- Cristalização induzida por níquel em filmes de silício amorfo
Informações sobre a disponibilidade de versões do artigo em acesso aberto coletadas automaticamente via oaDOI API (Unpaywall).
Por se tratar de integração com serviço externo, podem existir diferentes versões do trabalho (como preprints ou postprints), que podem diferir da versão publicada.
Download do texto completo
| Tipo | Nome | Link | |
|---|---|---|---|
 |
3296571.pdf |
How to cite
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
