Raman scattering spectroscopy of micrometer-sized carbon serpentines (2024)
- Authors:
- Autor USP: ZANATTA, ANTONIO RICARDO - IFSC
- Unidade: IFSC
- DOI: 10.1016/j.matchemphys.2024.129343
- Subjects: ESPECTROSCOPIA RAMAN; FILMES FINOS
- Keywords: Carbon films; Raman spectroscopy; Micro patterning
- Agências de fomento:
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Source:
- Título: Materials Chemistry and Physics
- ISSN: 0254-0584
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 319, p. 129343-1-129343-6 + supplementary data, June 2024
- Status:
- Nenhuma versão em acesso aberto identificada
-
ABNT
ZANATTA, Antonio Ricardo e OLIVEIRA JÚNIOR, Myriano Henriques de e MARQUES, Francisco das Chagas. Raman scattering spectroscopy of micrometer-sized carbon serpentines. Materials Chemistry and Physics, v. 319, p. 129343-1-129343-6 + supplementary data, 2024Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.matchemphys.2024.129343. Acesso em: 07 maio 2026. -
APA
Zanatta, A. R., Oliveira Júnior, M. H. de, & Marques, F. das C. (2024). Raman scattering spectroscopy of micrometer-sized carbon serpentines. Materials Chemistry and Physics, 319, 129343-1-129343-6 + supplementary data. doi:10.1016/j.matchemphys.2024.129343 -
NLM
Zanatta AR, Oliveira Júnior MH de, Marques F das C. Raman scattering spectroscopy of micrometer-sized carbon serpentines [Internet]. Materials Chemistry and Physics. 2024 ; 319 129343-1-129343-6 + supplementary data.[citado 2026 maio 07 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.matchemphys.2024.129343 -
Vancouver
Zanatta AR, Oliveira Júnior MH de, Marques F das C. Raman scattering spectroscopy of micrometer-sized carbon serpentines [Internet]. Materials Chemistry and Physics. 2024 ; 319 129343-1-129343-6 + supplementary data.[citado 2026 maio 07 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.matchemphys.2024.129343 - Técnicas de espectroscopia óptica 1: espalhamento Raman
- Desenvolvimento de microcavidades ópticas com janelas de transmissão no visível e infravermelho próximo
- Infrared photoluminescence from Er-doped a-GaAsN alloys
- Propriedades estruturais de filmes finos de silicio amorfo hidrogenado tratados termicamente
- Growth, structure and morphology of Mn-containing amorphous silicon films deposited by sputtering
- Influence of the temperature and time of thermal annealing in the optical properties of a-SiN doped with rare-earth ions
- Optical characterization of Fe-doped amorphous SiNx films
- Filmes de silício amorfo dopados com níquel
- Optical properties of Er and Er + Yb doped hydrogenated amorphous silicon films
- Cristalização induzida por níquel em filmes de silício amorfo
Informações sobre a disponibilidade de versões do artigo em acesso aberto coletadas automaticamente via oaDOI API (Unpaywall).
Download do texto completo
| Tipo | Nome | Link | |
|---|---|---|---|
 |
3193293.pdf |
How to cite
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
