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A quality model for critical embedded systems (2017)

  • Authors:
  • Autor USP: OLIVEIRA, BRAUNER ROBERTO DO NASCIMENTO - ICMC
  • Unidade: ICMC
  • Sigla do Departamento: SSC
  • Subjects: SISTEMAS EMBUTIDOS; ARQUITETURA DE SOFTWARE; QUALIDADE DE SOFTWARE
  • Keywords: Critical embedded systems; Modelo de qualidade; Quality model; Software architecture
  • Language: Inglês
  • Abstract: Sistemas embarcados, incluindo sistemas embarcados críticos (SEC), estão cada vez mais presentes na sociedade moderna, provendo soluções específicas que variam de sistemas pequenos até sistemas grandes e complexos, como é possível encontrar em carros, aviões e equipamentos médicos. Falhas nesses sistemas podem resultar em danos à seres humanos e ao meio ambiente, ou então em uma perda financeira irrecuperável. Sendo assim, é muito importante garantir que os SEC sejam construídos e apresentem um nível adequado de qualidade. Para garantir que esses sistemas alcancem tal qualidade, é necessário considerar sua arquitetura de software, já que esta impacta de maneira significativa na qualidade do software enquanto artefato ou produto. Deste modo, o objetivo deste projeto de mestrado é de propor um modelo de qualidade que contém os atributos de qualidade mais importantes para SEC, servindo como artefato para apoiar a execução de atividades arquiteturais (além de outras que possam se beneficiar) tais como análise e avaliação, no contexto de SEC.
  • Imprenta:
  • Data da defesa: 04.05.2017
  • Acesso à fonte
    How to cite
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    • ABNT

      OLIVEIRA, Brauner Roberto do Nascimento; NAKAGAWA, Elisa Yumi. A quality model for critical embedded systems. 2017.Universidade de São Paulo, São Carlos, 2017. Disponível em: < http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/55/55134/tde-12092017-173126/ >.
    • APA

      Oliveira, B. R. do N., & Nakagawa, E. Y. (2017). A quality model for critical embedded systems. Universidade de São Paulo, São Carlos. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/55/55134/tde-12092017-173126/
    • NLM

      Oliveira BR do N, Nakagawa EY. A quality model for critical embedded systems [Internet]. 2017 ;Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/55/55134/tde-12092017-173126/
    • Vancouver

      Oliveira BR do N, Nakagawa EY. A quality model for critical embedded systems [Internet]. 2017 ;Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/55/55134/tde-12092017-173126/


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