Study and characterization of thin films of CeOx produced by ion beam assited deposition (2016)
- Authors:
- USP affiliated authors: CHUBACI, JOSE FERNANDO DINIZ - IF ; MATSUOKA, MASAO - IF
- Unidade: IF
- Subjects: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA; FILMES FINOS
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Source:
- Título: Posters - Resumos
- Conference titles: Encontro de Física
-
ABNT
MENDONÇA, Bianca Jardim et al. Study and characterization of thin films of CeOx produced by ion beam assited deposition. 2016, Anais.. São Paulo: SBF, 2016. Disponível em: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R2117-1.pdf. Acesso em: 31 dez. 2025. -
APA
Mendonça, B. J., Chubaci, J. F. D., Matsuoka, M., & Borrely, T. (2016). Study and characterization of thin films of CeOx produced by ion beam assited deposition. In Posters - Resumos. São Paulo: SBF. Recuperado de http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R2117-1.pdf -
NLM
Mendonça BJ, Chubaci JFD, Matsuoka M, Borrely T. Study and characterization of thin films of CeOx produced by ion beam assited deposition [Internet]. Posters - Resumos. 2016 ;[citado 2025 dez. 31 ] Available from: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R2117-1.pdf -
Vancouver
Mendonça BJ, Chubaci JFD, Matsuoka M, Borrely T. Study and characterization of thin films of CeOx produced by ion beam assited deposition [Internet]. Posters - Resumos. 2016 ;[citado 2025 dez. 31 ] Available from: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R2117-1.pdf - Filmes finos de oxidos(HfO2, CeO2, TiO2) para dispositivos eletrônicos fabricados por IBAD (Ions Beam Assisted for Deposition)
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