Fault coverage-driven incremental test generation (2010)
- Authors:
- Autor USP: SIMÃO, ADENILSO DA SILVA - ICMC
- Unidade: ICMC
- DOI: 10.1093/comjnl/bxp073
- Subjects: ENGENHARIA DE SOFTWARE; SISTEMAS DE INFORMAÇÃO
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Source:
- Título do periódico: The Computer Journal Advance Access
- ISSN: 1460-2067
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 53, n. 9, ago 2010
- Este periódico é de assinatura
- Este artigo NÃO é de acesso aberto
- Cor do Acesso Aberto: closed
-
ABNT
SIMÃO, Adenilso da Silva e PETRENKO, Alexandre. Fault coverage-driven incremental test generation. The Computer Journal Advance Access, v. 53, n. 9, 2010Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1093/comjnl/bxp073. Acesso em: 19 abr. 2024. -
APA
Simão, A. da S., & Petrenko, A. (2010). Fault coverage-driven incremental test generation. The Computer Journal Advance Access, 53( 9). doi:10.1093/comjnl/bxp073 -
NLM
Simão A da S, Petrenko A. Fault coverage-driven incremental test generation [Internet]. The Computer Journal Advance Access. 2010 ; 53( 9):[citado 2024 abr. 19 ] Available from: https://doi.org/10.1093/comjnl/bxp073 -
Vancouver
Simão A da S, Petrenko A. Fault coverage-driven incremental test generation [Internet]. The Computer Journal Advance Access. 2010 ; 53( 9):[citado 2024 abr. 19 ] Available from: https://doi.org/10.1093/comjnl/bxp073 - Contribuições para o teste de software
- Aplicaçao da análise de mutantes no contexto do teste e validação de redes de Petri coloridas
- Teste baseado em modelos
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- This volume contains the short papers presented at SBMF 2011... [Prefácio]
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Informações sobre o DOI: 10.1093/comjnl/bxp073 (Fonte: oaDOI API)
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