X-ray photoelectron spectroscopic study of rare-earth-doped amorphous silicon-nitrogen films (2003)
- Authors:
- Autor USP: ZANATTA, ANTONIO RICARDO - IFSC
- Unidade: IFSC
- DOI: 10.1063/1.1536015
- Assunto: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Publisher place: College Park
- Date published: 2003
- Source:
- Título do periódico: Journal of Applied Physics
- ISSN: 0021-8979
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 93, n. 4, p. 1948-1953, Feb. 2003
- Este periódico é de assinatura
- Este artigo é de acesso aberto
- URL de acesso aberto
- Cor do Acesso Aberto: bronze
-
ABNT
ZANATTA, Antonio Ricardo e RIBEIRO, C. T. M. e ALVAREZ, F. X-ray photoelectron spectroscopic study of rare-earth-doped amorphous silicon-nitrogen films. Journal of Applied Physics, v. 93, n. 4, p. 1948-1953, 2003Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/1.1536015. Acesso em: 18 set. 2024. -
APA
Zanatta, A. R., Ribeiro, C. T. M., & Alvarez, F. (2003). X-ray photoelectron spectroscopic study of rare-earth-doped amorphous silicon-nitrogen films. Journal of Applied Physics, 93( 4), 1948-1953. doi:10.1063/1.1536015 -
NLM
Zanatta AR, Ribeiro CTM, Alvarez F. X-ray photoelectron spectroscopic study of rare-earth-doped amorphous silicon-nitrogen films [Internet]. Journal of Applied Physics. 2003 ; 93( 4): 1948-1953.[citado 2024 set. 18 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.1536015 -
Vancouver
Zanatta AR, Ribeiro CTM, Alvarez F. X-ray photoelectron spectroscopic study of rare-earth-doped amorphous silicon-nitrogen films [Internet]. Journal of Applied Physics. 2003 ; 93( 4): 1948-1953.[citado 2024 set. 18 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.1536015 - Magnetic properties of rare-earth doped a-Si films
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Informações sobre o DOI: 10.1063/1.1536015 (Fonte: oaDOI API)
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