Propriedades químicas, morfológicas e estruturais de filmes finos amorfos hidrogenados de oxinitreto de silício (2000)
- Authors:
- USP affiliated authors: TABACNIKS, MANFREDO HARRI - IF ; FANTINI, MARCIA CARVALHO DE ABREU - IF
- Unidade: IF
- Assunto: CRISTALOGRAFIA
- Language: Português
- Imprenta:
- Source:
- Título do periódico: Resumos
- Conference titles: Reunião da Sociedade Brasileira de Cristalografia
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ABNT
SCOPEL, Wanderla Luis; CUZINATTO, R R; TABACNIKS, Manfredo Harri; et al. Propriedades químicas, morfológicas e estruturais de filmes finos amorfos hidrogenados de oxinitreto de silício. Anais.. Campinas: LNLS, 2000. -
APA
Scopel, W. L., Cuzinatto, R. R., Tabacniks, M. H., Fantini, M. C. de A., Alayo Chávez, M. I., & Pereira, I. (2000). Propriedades químicas, morfológicas e estruturais de filmes finos amorfos hidrogenados de oxinitreto de silício. In Resumos. Campinas: LNLS. -
NLM
Scopel WL, Cuzinatto RR, Tabacniks MH, Fantini MC de A, Alayo Chávez MI, Pereira I. Propriedades químicas, morfológicas e estruturais de filmes finos amorfos hidrogenados de oxinitreto de silício. Resumos. 2000 ; -
Vancouver
Scopel WL, Cuzinatto RR, Tabacniks MH, Fantini MC de A, Alayo Chávez MI, Pereira I. Propriedades químicas, morfológicas e estruturais de filmes finos amorfos hidrogenados de oxinitreto de silício. Resumos. 2000 ; - Electronic structure of 'Li IND.X'Ni'O IND.Y' thin films
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