Combination of x-ray absorption spectroscopy and Rutherford backscattering for the analysis of amorphous Si-based thin films (2000)
- Authors:
- USP affiliated authors: FANTINI, MARCIA CARVALHO DE ABREU - IF ; TABACNIKS, MANFREDO HARRI - IF
- Unidade: IF
- Assunto: FÍSICA
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Conference titles: Seminário Latino-Americano de Análises por Técnicas de Raios X
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ABNT
FANTINI, Márcia Carvalho de Abreu et al. Combination of x-ray absorption spectroscopy and Rutherford backscattering for the analysis of amorphous Si-based thin films. 2000, Anais.. São Pedro: Instituto de Física, Universidade de São Paulo, 2000. . Acesso em: 18 fev. 2026. -
APA
Fantini, M. C. de A., Prado, R. J., Scopel, W. L., & Tabacniks, M. H. (2000). Combination of x-ray absorption spectroscopy and Rutherford backscattering for the analysis of amorphous Si-based thin films. In . São Pedro: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. -
NLM
Fantini MC de A, Prado RJ, Scopel WL, Tabacniks MH. Combination of x-ray absorption spectroscopy and Rutherford backscattering for the analysis of amorphous Si-based thin films. 2000 ;[citado 2026 fev. 18 ] -
Vancouver
Fantini MC de A, Prado RJ, Scopel WL, Tabacniks MH. Combination of x-ray absorption spectroscopy and Rutherford backscattering for the analysis of amorphous Si-based thin films. 2000 ;[citado 2026 fev. 18 ] - Propriedades químicas, morfológicas e estruturais de filmes finos amorfos hidrogenados de oxinitreto de silício
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