Experimental measurement technique of interconnection rd delay for integrated circuits using the step voltage response (1989)
- Authors:
- USP affiliated authors: SWART, JACOBUS WILLIBRORDUS - EP ; SANTOS FILHO, SEBASTIAO GOMES DOS - EP
- Unidade: EP
- Assunto: CIRCUITOS INTEGRADOS
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Source:
- Título: Proceedings
- Conference titles: Ieee International Conference on Microelectronic Test Structures
-
ABNT
SANTOS FILHO, Sebastião Gomes dos e SWART, Jacobus Willibrordus. Experimental measurement technique of interconnection rd delay for integrated circuits using the step voltage response. 1989, Anais.. New York: Ieee, 1989. . Acesso em: 29 dez. 2025. -
APA
Santos Filho, S. G. dos, & Swart, J. W. (1989). Experimental measurement technique of interconnection rd delay for integrated circuits using the step voltage response. In Proceedings. New York: Ieee. -
NLM
Santos Filho SG dos, Swart JW. Experimental measurement technique of interconnection rd delay for integrated circuits using the step voltage response. Proceedings. 1989 ;[citado 2025 dez. 29 ] -
Vancouver
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