Determinação númerica da espessura e das constantes ópticas de filmes de silício amorfo dopados com níquel através de espectroscopia de transmissão (2007)
- Authors:
- Autor USP: ZANATTA, ANTONIO RICARDO - IFSC
- Unidade: IFSC
- Subjects: SILÍCIO; ESPECTROSCOPIA; FILMES FINOS (AMOSTRA;ESTUDO); ÓPTICA
- Language: Português
- Imprenta:
- Publisher: Sociedade Brasileira de Física
- Publisher place: São Paulo
- Date published: 2007
- Source:
- Título do periódico: Resumos
- Volume/Número/Paginação/Ano: São Paulo : Sociedade Brasileira de Física, 2007
- Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada - ENFMC
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ABNT
FERRI, F. A. e ZANATTA, Antonio Ricardo. Determinação númerica da espessura e das constantes ópticas de filmes de silício amorfo dopados com níquel através de espectroscopia de transmissão. 2007, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física, 2007. . Acesso em: 19 set. 2024. -
APA
Ferri, F. A., & Zanatta, A. R. (2007). Determinação númerica da espessura e das constantes ópticas de filmes de silício amorfo dopados com níquel através de espectroscopia de transmissão. In Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física. -
NLM
Ferri FA, Zanatta AR. Determinação númerica da espessura e das constantes ópticas de filmes de silício amorfo dopados com níquel através de espectroscopia de transmissão. Resumos. 2007 ;[citado 2024 set. 19 ] -
Vancouver
Ferri FA, Zanatta AR. Determinação númerica da espessura e das constantes ópticas de filmes de silício amorfo dopados com níquel através de espectroscopia de transmissão. Resumos. 2007 ;[citado 2024 set. 19 ] - Magnetic properties of rare-earth doped a-Si films
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