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Trabalho de evento-resumo
Redução de oxido durante a formação de siliceto de titanio (1987)
Oka, Mauricio Massazumi; Swart, Jacobus Willibrordus
Fonte: Anais Cicte-87. Nome do evento: Congresso de Iniciacao Cientifica e Tecnologica em Engenharia. Unidade: EP
Assuntos: MINÉRIOS (REDUÇÃO), TITÂNIO
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ABNT
OKA, Mauricio Massazumi e SWART, Jacobus Willibrordus. Redução de oxido durante a formação de siliceto de titanio. 1987, Anais.. São Carlos: Cetepe, 1987. . Acesso em: 17 out. 2024.
APA
Oka, M. M., & Swart, J. W. (1987). Redução de oxido durante a formação de siliceto de titanio. In Anais Cicte-87. São Carlos: Cetepe.
NLM
Oka MM, Swart JW. Redução de oxido durante a formação de siliceto de titanio. Anais Cicte-87. 1987 ;[citado 2024 out. 17 ]
Vancouver
Oka MM, Swart JW. Redução de oxido durante a formação de siliceto de titanio. Anais Cicte-87. 1987 ;[citado 2024 out. 17 ]
Dissertação (Mestrado)
Caracterização de filmes finos de siliceto de titanio por técnicas de difração de Raio X (1987)
Morimoto, Nilton Itiro ; Swart, Jacobus Willibrordus (Orientador)
Unidade: EP
Assuntos: FILMES FINOS, DIFRAÇÃO POR RAIOS X, TITÂNIO
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ABNT
MORIMOTO, Nilton Itiro. Caracterização de filmes finos de siliceto de titanio por técnicas de difração de Raio X. 1987. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 1987. . Acesso em: 17 out. 2024.
APA
Morimoto, N. I. (1987). Caracterização de filmes finos de siliceto de titanio por técnicas de difração de Raio X (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Paulo.
NLM
Morimoto NI. Caracterização de filmes finos de siliceto de titanio por técnicas de difração de Raio X. 1987 ;[citado 2024 out. 17 ]
Vancouver
Morimoto NI. Caracterização de filmes finos de siliceto de titanio por técnicas de difração de Raio X. 1987 ;[citado 2024 out. 17 ]
Trabalho de evento
Formacao de siliceto de titanio por rtp: visando a estrutura salicide (1987)
Swart, Jacobus Willibrordus; Laganá, Armando Antonio Maria ; Morimoto, Nilton Itiro ; Furlan, Rogério
Fonte: Anais. Nome do evento: Congresso da Sociedade Brasileira Microeletronica. Unidade: EP
Assuntos: MICROELETRÔNICA, TITÂNIO
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ABNT
SWART, Jacobus Willibrordus et al. Formacao de siliceto de titanio por rtp: visando a estrutura salicide. 1987, Anais.. São Paulo: Sbmicro/Epusp, 1987. . Acesso em: 17 out. 2024.
APA
Swart, J. W., Laganá, A. A. M., Morimoto, N. I., & Furlan, R. (1987). Formacao de siliceto de titanio por rtp: visando a estrutura salicide. In Anais. São Paulo: Sbmicro/Epusp.
NLM
Swart JW, Laganá AAM, Morimoto NI, Furlan R. Formacao de siliceto de titanio por rtp: visando a estrutura salicide. Anais. 1987 ;[citado 2024 out. 17 ]
Vancouver
Swart JW, Laganá AAM, Morimoto NI, Furlan R. Formacao de siliceto de titanio por rtp: visando a estrutura salicide. Anais. 1987 ;[citado 2024 out. 17 ]

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