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Trabalho de evento-resumo
Análise de tensões residuais em filmes finos por meio da espectroscopia Raman (2017)
Francisco, Gabriella Christe; Souza, Roberto Martins de (Orientador)
Source: Resumos. Conference titles: Simpósio Internacional de Iniciação Científica e Tecnológica da USP - SIICUSP. Unidade: EP
Subjects: FILMES FINOS, NITRATOS, TITÂNIO
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ABNT
FRANCISCO, Gabriella Christe. Análise de tensões residuais em filmes finos por meio da espectroscopia Raman. 2017, Anais.. Sao Paulo: Usp, 2017. Disponível em: https://uspdigital.usp.br/siicusp/siicPublicacao.jsp?codmnu=7210. Acesso em: 17 out. 2024.
APA
Francisco, G. C. (2017). Análise de tensões residuais em filmes finos por meio da espectroscopia Raman. In Resumos. Sao Paulo: Usp. Recuperado de https://uspdigital.usp.br/siicusp/siicPublicacao.jsp?codmnu=7210
NLM
Francisco GC. Análise de tensões residuais em filmes finos por meio da espectroscopia Raman [Internet]. Resumos. 2017 ;[citado 2024 out. 17 ] Available from: https://uspdigital.usp.br/siicusp/siicPublicacao.jsp?codmnu=7210
Vancouver
Francisco GC. Análise de tensões residuais em filmes finos por meio da espectroscopia Raman [Internet]. Resumos. 2017 ;[citado 2024 out. 17 ] Available from: https://uspdigital.usp.br/siicusp/siicPublicacao.jsp?codmnu=7210
Trabalho de evento
Influência das condições de deposição no comportamento de filmes finos de TiN (2016)
Silva, Felipe Carneiro da ; Schön, Cláudio Geraldo ; Souza, Roberto Martins de ; Campos, Vinicius D. G.; Sagás, Julio Cesar
Source: Anais Cbecimat. Conference titles: Congresso Brasileiro de Engenharia e Ciência dos Materiais. Unidade: EP
Subjects: FILMES FINOS, TITÂNIO
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ABNT
SILVA, Felipe Carneiro da et al. Influência das condições de deposição no comportamento de filmes finos de TiN. 2016, Anais.. São Paulo: Associação Brasileira de Cerâmica, 2016. Disponível em: https://repositorio.usp.br/directbitstream/6450ded8-ccf2-48ae-8402-0d5e44c5ba2a/Souza_RM-2016-Influ%C3%AAncia%20das%20condi%C3%A7%C3%B5es%20de%20deposi%C3%A7%C3%A3o%20no%20comportamento%20de%20filmes%20finos%20de%20TIN.pdf. Acesso em: 17 out. 2024.
APA
Silva, F. C. da, Schön, C. G., Souza, R. M. de, Campos, V. D. G., & Sagás, J. C. (2016). Influência das condições de deposição no comportamento de filmes finos de TiN. In Anais Cbecimat. São Paulo: Associação Brasileira de Cerâmica. Recuperado de https://repositorio.usp.br/directbitstream/6450ded8-ccf2-48ae-8402-0d5e44c5ba2a/Souza_RM-2016-Influ%C3%AAncia%20das%20condi%C3%A7%C3%B5es%20de%20deposi%C3%A7%C3%A3o%20no%20comportamento%20de%20filmes%20finos%20de%20TIN.pdf
NLM
Silva FC da, Schön CG, Souza RM de, Campos VDG, Sagás JC. Influência das condições de deposição no comportamento de filmes finos de TiN [Internet]. Anais Cbecimat. 2016 ;[citado 2024 out. 17 ] Available from: https://repositorio.usp.br/directbitstream/6450ded8-ccf2-48ae-8402-0d5e44c5ba2a/Souza_RM-2016-Influ%C3%AAncia%20das%20condi%C3%A7%C3%B5es%20de%20deposi%C3%A7%C3%A3o%20no%20comportamento%20de%20filmes%20finos%20de%20TIN.pdf
Vancouver
Silva FC da, Schön CG, Souza RM de, Campos VDG, Sagás JC. Influência das condições de deposição no comportamento de filmes finos de TiN [Internet]. Anais Cbecimat. 2016 ;[citado 2024 out. 17 ] Available from: https://repositorio.usp.br/directbitstream/6450ded8-ccf2-48ae-8402-0d5e44c5ba2a/Souza_RM-2016-Influ%C3%AAncia%20das%20condi%C3%A7%C3%B5es%20de%20deposi%C3%A7%C3%A3o%20no%20comportamento%20de%20filmes%20finos%20de%20TIN.pdf
Artigo de periodico
Residual stresses in titanium nitride thin films obtained with step variation of substrate bias voltage during deposition (2010)
Gómez Gómez, Adriana ; Recco, Abel André Cândido ; Lima, N B; Martinez, L G; Tschiptschin, André Paulo ; Souza, Roberto Martins de
Source: Surface & Coatings Technology. Unidade: EP
Subjects: DIFRAÇÃO POR RAIOS X, TITÂNIO, FILMES FINOS
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ABNT
GÓMEZ GÓMEZ, Adriana et al. Residual stresses in titanium nitride thin films obtained with step variation of substrate bias voltage during deposition. Surface & Coatings Technology, v. 204, n. 20, p. 3228-3233, 2010Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.surfcoat.2010.03.016. Acesso em: 17 out. 2024.
APA
Gómez Gómez, A., Recco, A. A. C., Lima, N. B., Martinez, L. G., Tschiptschin, A. P., & Souza, R. M. de. (2010). Residual stresses in titanium nitride thin films obtained with step variation of substrate bias voltage during deposition. Surface & Coatings Technology, 204( 20), 3228-3233. doi:10.1016/j.surfcoat.2010.03.016
NLM
Gómez Gómez A, Recco AAC, Lima NB, Martinez LG, Tschiptschin AP, Souza RM de. Residual stresses in titanium nitride thin films obtained with step variation of substrate bias voltage during deposition [Internet]. Surface & Coatings Technology. 2010 ; 204( 20): 3228-3233.[citado 2024 out. 17 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.surfcoat.2010.03.016
Vancouver
Gómez Gómez A, Recco AAC, Lima NB, Martinez LG, Tschiptschin AP, Souza RM de. Residual stresses in titanium nitride thin films obtained with step variation of substrate bias voltage during deposition [Internet]. Surface & Coatings Technology. 2010 ; 204( 20): 3228-3233.[citado 2024 out. 17 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.surfcoat.2010.03.016
Artigo de periodico
Residual stresses in titanium nitride thin films deposited by direct current and pulsed direct current unbalanced magnetron sputtering (2006)
Benegra, Marjorie ; Lamas, D G; Fernández de Rapp, M E; Mingolo, N; Kunrath, A O; Souza, Roberto Martins de
Source: Thin Solid Films. Unidade: EP
Subjects: FILMES FINOS, TENSÃO RESIDUAL, RESISTÊNCIA DOS MATERIAIS, PLASMA (PROCESSOS), TITÂNIO, NITRATOS
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ABNT
BENEGRA, Marjorie et al. Residual stresses in titanium nitride thin films deposited by direct current and pulsed direct current unbalanced magnetron sputtering. Thin Solid Films, v. 494, n. Ja 2006, p. 146-150, 2006Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.tsf.2005.08.214. Acesso em: 17 out. 2024.
APA
Benegra, M., Lamas, D. G., Fernández de Rapp, M. E., Mingolo, N., Kunrath, A. O., & Souza, R. M. de. (2006). Residual stresses in titanium nitride thin films deposited by direct current and pulsed direct current unbalanced magnetron sputtering. Thin Solid Films, 494( Ja 2006), 146-150. doi:10.1016/j.tsf.2005.08.214
NLM
Benegra M, Lamas DG, Fernández de Rapp ME, Mingolo N, Kunrath AO, Souza RM de. Residual stresses in titanium nitride thin films deposited by direct current and pulsed direct current unbalanced magnetron sputtering [Internet]. Thin Solid Films. 2006 ; 494( Ja 2006): 146-150.[citado 2024 out. 17 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.tsf.2005.08.214
Vancouver
Benegra M, Lamas DG, Fernández de Rapp ME, Mingolo N, Kunrath AO, Souza RM de. Residual stresses in titanium nitride thin films deposited by direct current and pulsed direct current unbalanced magnetron sputtering [Internet]. Thin Solid Films. 2006 ; 494( Ja 2006): 146-150.[citado 2024 out. 17 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.tsf.2005.08.214
Artigo de periodico
Numerical and experimental analyses on the indentation of coated systems with substrates with different mechanical properties (2005)
Piana, L A; Pérez Ruiz, Eduardo Alberto ; Souza, Roberto Martins de ; Kunrath, A O; Strohaecker, Telmo Roberto
Source: Thin Solid Films. Unidade: EP
Subjects: FILMES FINOS, MECÂNICA DA FRATURA, PROPRIEDADES DOS MATERIAIS, COMPUTAÇÃO APLICADA, AÇO, RESISTÊNCIA DOS MATERIAIS, TITÂNIO, NITRATOS
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ABNT
PIANA, L A et al. Numerical and experimental analyses on the indentation of coated systems with substrates with different mechanical properties. Thin Solid Films, v. No 2005, n. 1-2, p. 197-203, 2005Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.tsf.2005.06.025. Acesso em: 17 out. 2024.
APA
Piana, L. A., Pérez Ruiz, E. A., Souza, R. M. de, Kunrath, A. O., & Strohaecker, T. R. (2005). Numerical and experimental analyses on the indentation of coated systems with substrates with different mechanical properties. Thin Solid Films, No 2005( 1-2), 197-203. doi:10.1016/j.tsf.2005.06.025
NLM
Piana LA, Pérez Ruiz EA, Souza RM de, Kunrath AO, Strohaecker TR. Numerical and experimental analyses on the indentation of coated systems with substrates with different mechanical properties [Internet]. Thin Solid Films. 2005 ; No 2005( 1-2): 197-203.[citado 2024 out. 17 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.tsf.2005.06.025
Vancouver
Piana LA, Pérez Ruiz EA, Souza RM de, Kunrath AO, Strohaecker TR. Numerical and experimental analyses on the indentation of coated systems with substrates with different mechanical properties [Internet]. Thin Solid Films. 2005 ; No 2005( 1-2): 197-203.[citado 2024 out. 17 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.tsf.2005.06.025

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