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Trabalho de evento
Caracterização de filmes finos empregando a técnica de difração de raio-x (1987)
Morimoto, Nilton Itiro ; Swart, Jacobus Willibrordus; Riella, Humberto Gracher
Source: Anais. Conference titles: Congresso da Sociedade Brasileira de Microeletronica. Unidade: EP
Subjects: FILMES FINOS, DIFRAÇÃO POR RAIOS X
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ABNT
MORIMOTO, Nilton Itiro e SWART, Jacobus Willibrordus e RIELLA, Humberto Gracher. Caracterização de filmes finos empregando a técnica de difração de raio-x. 1987, Anais.. São Paulo: Sbmicro/Epusp, 1987. . Acesso em: 17 out. 2024.
APA
Morimoto, N. I., Swart, J. W., & Riella, H. G. (1987). Caracterização de filmes finos empregando a técnica de difração de raio-x. In Anais. São Paulo: Sbmicro/Epusp.
NLM
Morimoto NI, Swart JW, Riella HG. Caracterização de filmes finos empregando a técnica de difração de raio-x. Anais. 1987 ;[citado 2024 out. 17 ]
Vancouver
Morimoto NI, Swart JW, Riella HG. Caracterização de filmes finos empregando a técnica de difração de raio-x. Anais. 1987 ;[citado 2024 out. 17 ]
Trabalho de evento-resumo periodico
Deposicao de filmes finos pelo metodo sol-gel (1987)
Mohallem, N D S; Aegerter, M A
Source: Ciência e Cultura. Conference titles: Reunião Anual da SBPC. Unidade: IFSC
Subjects: FÍSICA, FILMES FINOS
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ABNT
MOHALLEM, N D S e AEGERTER, M A. Deposicao de filmes finos pelo metodo sol-gel. Ciência e Cultura. [S.l.]: Instituto de Física de São Carlos, Universidade de São Paulo. . Acesso em: 17 out. 2024. , 1987
APA
Mohallem, N. D. S., & Aegerter, M. A. (1987). Deposicao de filmes finos pelo metodo sol-gel. Ciência e Cultura. Instituto de Física de São Carlos, Universidade de São Paulo.
NLM
Mohallem NDS, Aegerter MA. Deposicao de filmes finos pelo metodo sol-gel. Ciência e Cultura. 1987 ;39( 7 supl.): 247.[citado 2024 out. 17 ]
Vancouver
Mohallem NDS, Aegerter MA. Deposicao de filmes finos pelo metodo sol-gel. Ciência e Cultura. 1987 ;39( 7 supl.): 247.[citado 2024 out. 17 ]
Trabalho de evento-resumo
Deposicao de filmes finos amorfos e cristalinos pelo metodo sol-gel (1987)
Mohallem, N D S; Aegerter, M A
Source: Programa e Resumos. Conference titles: Encontro Nacional de Fisica da Materia Condensada. Unidade: IFSC
Subjects: MATÉRIA CONDENSADA, FILMES FINOS
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ABNT
MOHALLEM, N D S e AEGERTER, M A. Deposicao de filmes finos amorfos e cristalinos pelo metodo sol-gel. 1987, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Fisica, 1987. . Acesso em: 17 out. 2024.
APA
Mohallem, N. D. S., & Aegerter, M. A. (1987). Deposicao de filmes finos amorfos e cristalinos pelo metodo sol-gel. In Programa e Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Fisica.
NLM
Mohallem NDS, Aegerter MA. Deposicao de filmes finos amorfos e cristalinos pelo metodo sol-gel. Programa e Resumos. 1987 ;[citado 2024 out. 17 ]
Vancouver
Mohallem NDS, Aegerter MA. Deposicao de filmes finos amorfos e cristalinos pelo metodo sol-gel. Programa e Resumos. 1987 ;[citado 2024 out. 17 ]
Dissertação (Mestrado)
Medidas de correntes termoestimuladas e isotermas no ar em filmes de polivinilideno de fluor (pv'F IND. 2') (1987)
Jorge, Alfredo; Faria, Roberto Mendonça (Orientador)
Unidade: IFSC
Subjects: FILMES FINOS, FÍSICA
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ABNT
JORGE, Alfredo. Medidas de correntes termoestimuladas e isotermas no ar em filmes de polivinilideno de fluor (pv'F IND. 2'). 1987. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Carlos, 1987. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/54/54131/tde-14102009-113933/. Acesso em: 17 out. 2024.
APA
Jorge, A. (1987). Medidas de correntes termoestimuladas e isotermas no ar em filmes de polivinilideno de fluor (pv'F IND. 2') (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Carlos. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/54/54131/tde-14102009-113933/
NLM
Jorge A. Medidas de correntes termoestimuladas e isotermas no ar em filmes de polivinilideno de fluor (pv'F IND. 2') [Internet]. 1987 ;[citado 2024 out. 17 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/54/54131/tde-14102009-113933/
Vancouver
Jorge A. Medidas de correntes termoestimuladas e isotermas no ar em filmes de polivinilideno de fluor (pv'F IND. 2') [Internet]. 1987 ;[citado 2024 out. 17 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/54/54131/tde-14102009-113933/
Dissertação (Mestrado)
Caracterização de filmes finos de siliceto de titanio por técnicas de difração de Raio X (1987)
Morimoto, Nilton Itiro ; Swart, Jacobus Willibrordus (Orientador)
Unidade: EP
Subjects: FILMES FINOS, DIFRAÇÃO POR RAIOS X, TITÂNIO
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ABNT
MORIMOTO, Nilton Itiro. Caracterização de filmes finos de siliceto de titanio por técnicas de difração de Raio X. 1987. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 1987. . Acesso em: 17 out. 2024.
APA
Morimoto, N. I. (1987). Caracterização de filmes finos de siliceto de titanio por técnicas de difração de Raio X (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Paulo.
NLM
Morimoto NI. Caracterização de filmes finos de siliceto de titanio por técnicas de difração de Raio X. 1987 ;[citado 2024 out. 17 ]
Vancouver
Morimoto NI. Caracterização de filmes finos de siliceto de titanio por técnicas de difração de Raio X. 1987 ;[citado 2024 out. 17 ]

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