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Trabalho de evento-resumo
Estudo por espectroscopia micro-Ramam de transições de fase do InSb submetido à pressão não hidrostática (2005)
Joya, Miryam R.; Pizani, Paulo Sérgio; Lanciotti Junior, Francesco; Jasinevicius, Renato Goulart
Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada. Unidade: EESC
Assunto: ESPECTROSCOPIA RAMAN
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ABNT
JOYA, Miryam R. et al. Estudo por espectroscopia micro-Ramam de transições de fase do InSb submetido à pressão não hidrostática. 2005, Anais.. Santos: Escola de Engenharia de São Carlos, Universidade de São Paulo, 2005. . Acesso em: 27 nov. 2025.
APA
Joya, M. R., Pizani, P. S., Lanciotti Junior, F., & Jasinevicius, R. G. (2005). Estudo por espectroscopia micro-Ramam de transições de fase do InSb submetido à pressão não hidrostática. In . Santos: Escola de Engenharia de São Carlos, Universidade de São Paulo.
NLM
Joya MR, Pizani PS, Lanciotti Junior F, Jasinevicius RG. Estudo por espectroscopia micro-Ramam de transições de fase do InSb submetido à pressão não hidrostática. 2005 ;[citado 2025 nov. 27 ]
Vancouver
Joya MR, Pizani PS, Lanciotti Junior F, Jasinevicius RG. Estudo por espectroscopia micro-Ramam de transições de fase do InSb submetido à pressão não hidrostática. 2005 ;[citado 2025 nov. 27 ]
Artigo de periodico
Multiple phase silicon in submicrometer chips removed by diamond turning (2005)
Jasinevicius, Renato Goulart ; Porto, Arthur José Vieira ; Duduch, Jaime Gilberto ; Pizani, Paulo Sérgio; Lanciotti Junior, Francesco; Santos, Francisco José dos
Source: Journal of the Brazilian Society of Mechanical Sciences and Engineering. Unidade: EESC
Subjects: MUDANÇA DE FASE, ESPECTROSCOPIA RAMAN
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ABNT
JASINEVICIUS, Renato Goulart et al. Multiple phase silicon in submicrometer chips removed by diamond turning. Journal of the Brazilian Society of Mechanical Sciences and Engineering, v. 27, n. 4, p. 440-448, 2005Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1590/s1678-58782005000400013. Acesso em: 27 nov. 2025.
APA
Jasinevicius, R. G., Porto, A. J. V., Duduch, J. G., Pizani, P. S., Lanciotti Junior, F., & Santos, F. J. dos. (2005). Multiple phase silicon in submicrometer chips removed by diamond turning. Journal of the Brazilian Society of Mechanical Sciences and Engineering, 27( 4), 440-448. doi:10.1590/s1678-58782005000400013
NLM
Jasinevicius RG, Porto AJV, Duduch JG, Pizani PS, Lanciotti Junior F, Santos FJ dos. Multiple phase silicon in submicrometer chips removed by diamond turning [Internet]. Journal of the Brazilian Society of Mechanical Sciences and Engineering. 2005 ; 27( 4): 440-448.[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1590/s1678-58782005000400013
Vancouver
Jasinevicius RG, Porto AJV, Duduch JG, Pizani PS, Lanciotti Junior F, Santos FJ dos. Multiple phase silicon in submicrometer chips removed by diamond turning [Internet]. Journal of the Brazilian Society of Mechanical Sciences and Engineering. 2005 ; 27( 4): 440-448.[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1590/s1678-58782005000400013
Trabalho de evento-resumo
Estudo por espectroscopia micro-Raman dos efeitos de desordem química e estrutural no 'IN'SB' micro-indentado mecanicamente e a laser (2004)
Rincón Joya, Miryam; Pizani, Paulo Sérgio; Lanciotti Junior, Francesco; Samad, Ricardo Elgul; Rossi, Wagner de; Freitas, Anderson Zanardi de; Vieira Junior, Nilson Dias; Jasinevicius, Renato Goulart
Source: Resumo. Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada - ENFMC. Unidade: EESC
Subjects: ESPECTROSCOPIA ÓPTICA, LASER (IDENTIFICAÇÃO)
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ABNT
RINCÓN JOYA, Miryam et al. Estudo por espectroscopia micro-Raman dos efeitos de desordem química e estrutural no 'IN'SB' micro-indentado mecanicamente e a laser. 2004, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física, 2004. . Acesso em: 27 nov. 2025.
APA
Rincón Joya, M., Pizani, P. S., Lanciotti Junior, F., Samad, R. E., Rossi, W. de, Freitas, A. Z. de, et al. (2004). Estudo por espectroscopia micro-Raman dos efeitos de desordem química e estrutural no 'IN'SB' micro-indentado mecanicamente e a laser. In Resumo. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física.
NLM
Rincón Joya M, Pizani PS, Lanciotti Junior F, Samad RE, Rossi W de, Freitas AZ de, Vieira Junior ND, Jasinevicius RG. Estudo por espectroscopia micro-Raman dos efeitos de desordem química e estrutural no 'IN'SB' micro-indentado mecanicamente e a laser. Resumo. 2004 ;[citado 2025 nov. 27 ]
Vancouver
Rincón Joya M, Pizani PS, Lanciotti Junior F, Samad RE, Rossi W de, Freitas AZ de, Vieira Junior ND, Jasinevicius RG. Estudo por espectroscopia micro-Raman dos efeitos de desordem química e estrutural no 'IN'SB' micro-indentado mecanicamente e a laser. Resumo. 2004 ;[citado 2025 nov. 27 ]
Trabalho de evento
Surface integrity evaluation of diamond turned single crystal silicon component (2004)
Jasinevicius, Renato Goulart ; Duduch, Jaime Gilberto ; Lanciotti Junior, Francesco; Pizani, Paulo Sérgio
Source: Proceedings of the euspen. Conference titles: International Conference of the European Society for Precision Engineering and Nanotechnology. Unidade: EESC
Assunto: ESPECTROSCOPIA RAMAN
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
JASINEVICIUS, Renato Goulart et al. Surface integrity evaluation of diamond turned single crystal silicon component. 2004, Anais.. Glasgow: Escola de Engenharia de São Carlos, Universidade de São Paulo, 2004. . Acesso em: 27 nov. 2025.
APA
Jasinevicius, R. G., Duduch, J. G., Lanciotti Junior, F., & Pizani, P. S. (2004). Surface integrity evaluation of diamond turned single crystal silicon component. In Proceedings of the euspen. Glasgow: Escola de Engenharia de São Carlos, Universidade de São Paulo.
NLM
Jasinevicius RG, Duduch JG, Lanciotti Junior F, Pizani PS. Surface integrity evaluation of diamond turned single crystal silicon component. Proceedings of the euspen. 2004 ;[citado 2025 nov. 27 ]
Vancouver
Jasinevicius RG, Duduch JG, Lanciotti Junior F, Pizani PS. Surface integrity evaluation of diamond turned single crystal silicon component. Proceedings of the euspen. 2004 ;[citado 2025 nov. 27 ]

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