Surface integrity evaluation of diamond turned single crystal silicon component (2004)
- Authors:
- USP affiliated authors: JASINEVICIUS, RENATO GOULART - EESC ; DUDUCH, JAIME GILBERTO - EESC
- Unidade: EESC
- Assunto: ESPECTROSCOPIA RAMAN
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Source:
- Título: Proceedings of the euspen
- Conference titles: International Conference of the European Society for Precision Engineering and Nanotechnology
-
ABNT
JASINEVICIUS, Renato Goulart et al. Surface integrity evaluation of diamond turned single crystal silicon component. 2004, Anais.. Glasgow: Escola de Engenharia de São Carlos, Universidade de São Paulo, 2004. . Acesso em: 14 fev. 2026. -
APA
Jasinevicius, R. G., Duduch, J. G., Lanciotti Junior, F., & Pizani, P. S. (2004). Surface integrity evaluation of diamond turned single crystal silicon component. In Proceedings of the euspen. Glasgow: Escola de Engenharia de São Carlos, Universidade de São Paulo. -
NLM
Jasinevicius RG, Duduch JG, Lanciotti Junior F, Pizani PS. Surface integrity evaluation of diamond turned single crystal silicon component. Proceedings of the euspen. 2004 ;[citado 2026 fev. 14 ] -
Vancouver
Jasinevicius RG, Duduch JG, Lanciotti Junior F, Pizani PS. Surface integrity evaluation of diamond turned single crystal silicon component. Proceedings of the euspen. 2004 ;[citado 2026 fev. 14 ] - Ductile machining and high pressure phase transformations of semiconductor crystals
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