Análise dos modos de remoção de um cristal semicondutor e de uma liga metálica não ferrosa no torneamento de ultraprecisão através da emissão acústica (2006)
- Authors:
- USP affiliated authors: DUDUCH, JAIME GILBERTO - EESC ; JASINEVICIUS, RENATO GOULART - EESC
- Unidade: EESC
- Subjects: TORNEAMENTO; MONITORAMENTO; ACÚSTICA (EMISSÃO)
- Language: Português
- Imprenta:
- Publisher: Editora Universitária da UFPE
- Publisher place: Recife
- Date published: 2006
- Source:
- Título: Anais
- Conference titles: Congresso Nacional de Engenharia Mecânica
-
ABNT
SILVA, Helder Augustus Treviso da e DUDUCH, Jaime Gilberto e JASINEVICIUS, Renato Goulart. Análise dos modos de remoção de um cristal semicondutor e de uma liga metálica não ferrosa no torneamento de ultraprecisão através da emissão acústica. 2006, Anais.. Recife: Editora Universitária da UFPE, 2006. . Acesso em: 13 fev. 2026. -
APA
Silva, H. A. T. da, Duduch, J. G., & Jasinevicius, R. G. (2006). Análise dos modos de remoção de um cristal semicondutor e de uma liga metálica não ferrosa no torneamento de ultraprecisão através da emissão acústica. In Anais. Recife: Editora Universitária da UFPE. -
NLM
Silva HAT da, Duduch JG, Jasinevicius RG. Análise dos modos de remoção de um cristal semicondutor e de uma liga metálica não ferrosa no torneamento de ultraprecisão através da emissão acústica. Anais. 2006 ;[citado 2026 fev. 13 ] -
Vancouver
Silva HAT da, Duduch JG, Jasinevicius RG. Análise dos modos de remoção de um cristal semicondutor e de uma liga metálica não ferrosa no torneamento de ultraprecisão através da emissão acústica. Anais. 2006 ;[citado 2026 fev. 13 ] - Ductile machining and high pressure phase transformations of semiconductor crystals
- In-situ Raman spectroscopy analysis of re-crystallization annealing of diamond turned silicon crystal
- Evidence of crystallographic orientation dependence upon cyclic microindentation-induced recrystallization within amorphous surface layer
- Ductile behavior of optical glass in single point diamond turning
- Desenvolvimento do processo de usinagem de ultraprecisão de espelhos ópticos em metais não ferrosos
- Surface integrity evaluation of diamond turned single crystal silicon component
- Análise da integridade superficial do 'TI'(CP) e da liga 'TI'-6'AL'-4V no torneamento de ultraprecisão com ferramenta de diamante
- Structure evaluation of submicrometre silicon chips removed by diamond turning
- The influence of crystallographic orientation on the generation of multiple structural phases generation in silicon by cyclic microindentation
- The crystallographic direction influence on the brittle to ductile transition in diamond turning of silicon crystal
How to cite
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
