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Artigo de periodico
Contribuição ao estudo da morfologia da superfície e da interface do siliceto de titânio formado sobre Si(100) empregando a técnica de microscopia de força atômica (AFM) (1998)
Hasan, Nasser Mahmoud; Laganá, Armando Antonio Maria ; Santos Filho, Sebastião Gomes dos
Fonte: Boletim Técnico da Escola Politécnica da USP. Departamento de Engenharia Eletrônica. Unidade: EP
Assuntos: SEMICONDUTORES, CIRCUITOS INTEGRADOS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
HASAN, Nasser Mahmoud e LAGANÁ, Armando Antonio Maria e SANTOS FILHO, Sebastião Gomes dos. Contribuição ao estudo da morfologia da superfície e da interface do siliceto de titânio formado sobre Si(100) empregando a técnica de microscopia de força atômica (AFM). Boletim Técnico da Escola Politécnica da USP. Departamento de Engenharia Eletrônica, n. 13, 1998Tradução . . Disponível em: https://repositorio.usp.br/directbitstream/7627a29f-9ea5-4a0f-9ad4-276705a2bd9e/BT-PEE-98_13_250925_151512.pdf. Acesso em: 15 nov. 2025.
APA
Hasan, N. M., Laganá, A. A. M., & Santos Filho, S. G. dos. (1998). Contribuição ao estudo da morfologia da superfície e da interface do siliceto de titânio formado sobre Si(100) empregando a técnica de microscopia de força atômica (AFM). Boletim Técnico da Escola Politécnica da USP. Departamento de Engenharia Eletrônica, (13). Recuperado de https://repositorio.usp.br/directbitstream/7627a29f-9ea5-4a0f-9ad4-276705a2bd9e/BT-PEE-98_13_250925_151512.pdf
NLM
Hasan NM, Laganá AAM, Santos Filho SG dos. Contribuição ao estudo da morfologia da superfície e da interface do siliceto de titânio formado sobre Si(100) empregando a técnica de microscopia de força atômica (AFM) [Internet]. Boletim Técnico da Escola Politécnica da USP. Departamento de Engenharia Eletrônica. 1998 ;(13):[citado 2025 nov. 15 ] Available from: https://repositorio.usp.br/directbitstream/7627a29f-9ea5-4a0f-9ad4-276705a2bd9e/BT-PEE-98_13_250925_151512.pdf
Vancouver
Hasan NM, Laganá AAM, Santos Filho SG dos. Contribuição ao estudo da morfologia da superfície e da interface do siliceto de titânio formado sobre Si(100) empregando a técnica de microscopia de força atômica (AFM) [Internet]. Boletim Técnico da Escola Politécnica da USP. Departamento de Engenharia Eletrônica. 1998 ;(13):[citado 2025 nov. 15 ] Available from: https://repositorio.usp.br/directbitstream/7627a29f-9ea5-4a0f-9ad4-276705a2bd9e/BT-PEE-98_13_250925_151512.pdf
Relatorio tecnico
Estudo da influência dos parâmetros de recozimento térmico rápido na morfologia dos filmes de TiSi2 formados e sua correlação com a tensão (1997)
Souza, S G; Laganá, Armando Antonio Maria ; Santos Filho, Sebastião Gomes dos
Unidade: EP
Assunto: CIRCUITOS INTEGRADOS
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ABNT
SOUZA, S G e LAGANÁ, Armando Antonio Maria e SANTOS FILHO, Sebastião Gomes dos. Estudo da influência dos parâmetros de recozimento térmico rápido na morfologia dos filmes de TiSi2 formados e sua correlação com a tensão. . São Paulo: EPUSP. . Acesso em: 15 nov. 2025. , 1997
APA
Souza, S. G., Laganá, A. A. M., & Santos Filho, S. G. dos. (1997). Estudo da influência dos parâmetros de recozimento térmico rápido na morfologia dos filmes de TiSi2 formados e sua correlação com a tensão. São Paulo: EPUSP.
NLM
Souza SG, Laganá AAM, Santos Filho SG dos. Estudo da influência dos parâmetros de recozimento térmico rápido na morfologia dos filmes de TiSi2 formados e sua correlação com a tensão. 1997 ;[citado 2025 nov. 15 ]
Vancouver
Souza SG, Laganá AAM, Santos Filho SG dos. Estudo da influência dos parâmetros de recozimento térmico rápido na morfologia dos filmes de TiSi2 formados e sua correlação com a tensão. 1997 ;[citado 2025 nov. 15 ]
Trabalho de evento-resumo
Estudo da cinetica de formacao do siliceto de titanio (1995)
Hashimoto, Alexandre Ichiro; Hoashi, P T; Laganá, Armando Antonio Maria
Fonte: Resumos. Nome do evento: Simpósio de Iniciação Científica da Universidade de São Paulo. Unidade: EP
Assunto: CIRCUITOS INTEGRADOS
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ABNT
HASHIMOTO, Alexandre Ichiro e HOASHI, P T e LAGANÁ, Armando Antonio Maria. Estudo da cinetica de formacao do siliceto de titanio. 1995, Anais.. São Paulo: Usp, 1995. . Acesso em: 15 nov. 2025.
APA
Hashimoto, A. I., Hoashi, P. T., & Laganá, A. A. M. (1995). Estudo da cinetica de formacao do siliceto de titanio. In Resumos. São Paulo: Usp.
NLM
Hashimoto AI, Hoashi PT, Laganá AAM. Estudo da cinetica de formacao do siliceto de titanio. Resumos. 1995 ;[citado 2025 nov. 15 ]
Vancouver
Hashimoto AI, Hoashi PT, Laganá AAM. Estudo da cinetica de formacao do siliceto de titanio. Resumos. 1995 ;[citado 2025 nov. 15 ]

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