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  • Fonte: SBMicro 2001: proceedings. Nome do evento: International Conference on Microelectronics and Packaging. Unidade: EP

    Assunto: CIRCUITOS INTEGRADOS

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    • ABNT

      HASAN, Nasser Mahmoud e SANTOS FILHO, Sebastião Gomes dos e SCHWAZACHER, Walter. Temporal evolution of roughness in electroless copper films. 2001, Anais.. Brasília: SBMicro, 2001. . Acesso em: 15 nov. 2025.
    • APA

      Hasan, N. M., Santos Filho, S. G. dos, & Schwazacher, W. (2001). Temporal evolution of roughness in electroless copper films. In SBMicro 2001: proceedings. Brasília: SBMicro.
    • NLM

      Hasan NM, Santos Filho SG dos, Schwazacher W. Temporal evolution of roughness in electroless copper films. SBMicro 2001: proceedings. 2001 ;[citado 2025 nov. 15 ]
    • Vancouver

      Hasan NM, Santos Filho SG dos, Schwazacher W. Temporal evolution of roughness in electroless copper films. SBMicro 2001: proceedings. 2001 ;[citado 2025 nov. 15 ]
  • Fonte: Boletim Técnico da Escola Politécnica da USP. Departamento de Engenharia Eletrônica. Unidade: EP

    Assuntos: SEMICONDUTORES, CIRCUITOS INTEGRADOS

    Versão PublicadaComo citar
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    • ABNT

      HASAN, Nasser Mahmoud e LAGANÁ, Armando Antonio Maria e SANTOS FILHO, Sebastião Gomes dos. Contribuição ao estudo da morfologia da superfície e da interface do siliceto de titânio formado sobre Si(100) empregando a técnica de microscopia de força atômica (AFM). Boletim Técnico da Escola Politécnica da USP. Departamento de Engenharia Eletrônica, n. 13, 1998Tradução . . Disponível em: https://repositorio.usp.br/directbitstream/7627a29f-9ea5-4a0f-9ad4-276705a2bd9e/BT-PEE-98_13_250925_151512.pdf. Acesso em: 15 nov. 2025.
    • APA

      Hasan, N. M., Laganá, A. A. M., & Santos Filho, S. G. dos. (1998). Contribuição ao estudo da morfologia da superfície e da interface do siliceto de titânio formado sobre Si(100) empregando a técnica de microscopia de força atômica (AFM). Boletim Técnico da Escola Politécnica da USP. Departamento de Engenharia Eletrônica, (13). Recuperado de https://repositorio.usp.br/directbitstream/7627a29f-9ea5-4a0f-9ad4-276705a2bd9e/BT-PEE-98_13_250925_151512.pdf
    • NLM

      Hasan NM, Laganá AAM, Santos Filho SG dos. Contribuição ao estudo da morfologia da superfície e da interface do siliceto de titânio formado sobre Si(100) empregando a técnica de microscopia de força atômica (AFM) [Internet]. Boletim Técnico da Escola Politécnica da USP. Departamento de Engenharia Eletrônica. 1998 ;(13):[citado 2025 nov. 15 ] Available from: https://repositorio.usp.br/directbitstream/7627a29f-9ea5-4a0f-9ad4-276705a2bd9e/BT-PEE-98_13_250925_151512.pdf
    • Vancouver

      Hasan NM, Laganá AAM, Santos Filho SG dos. Contribuição ao estudo da morfologia da superfície e da interface do siliceto de titânio formado sobre Si(100) empregando a técnica de microscopia de força atômica (AFM) [Internet]. Boletim Técnico da Escola Politécnica da USP. Departamento de Engenharia Eletrônica. 1998 ;(13):[citado 2025 nov. 15 ] Available from: https://repositorio.usp.br/directbitstream/7627a29f-9ea5-4a0f-9ad4-276705a2bd9e/BT-PEE-98_13_250925_151512.pdf

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