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  • Source: Materials Science and Engineering B. Unidade: IFSC

    Subjects: MATERIAIS, SINTERIZAÇÃO, FOTOLUMINESCÊNCIA

    PrivadoAcesso à fonteDOIHow to cite
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    • ABNT

      SUZUKI, V. Y. et al. Exploring effects of microwave-assisted thermal annealing on optical properties of Zn2GeO4 nanostructured films. Materials Science and Engineering B, v. 246, p. 07-12, 2019Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.mseb.2019.05.023. Acesso em: 13 nov. 2025.
    • APA

      Suzuki, V. Y., Paula, N. H., Gonçalves, R., Siu Li, M., Pereira, E. C., Longo, E., & La Porta, F. A. (2019). Exploring effects of microwave-assisted thermal annealing on optical properties of Zn2GeO4 nanostructured films. Materials Science and Engineering B, 246, 07-12. doi:10.1016/j.mseb.2019.05.023
    • NLM

      Suzuki VY, Paula NH, Gonçalves R, Siu Li M, Pereira EC, Longo E, La Porta FA. Exploring effects of microwave-assisted thermal annealing on optical properties of Zn2GeO4 nanostructured films [Internet]. Materials Science and Engineering B. 2019 ; 246 07-12.[citado 2025 nov. 13 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.mseb.2019.05.023
    • Vancouver

      Suzuki VY, Paula NH, Gonçalves R, Siu Li M, Pereira EC, Longo E, La Porta FA. Exploring effects of microwave-assisted thermal annealing on optical properties of Zn2GeO4 nanostructured films [Internet]. Materials Science and Engineering B. 2019 ; 246 07-12.[citado 2025 nov. 13 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.mseb.2019.05.023
  • Source: Materials Science and Engineering B. Unidades: IF, EP

    Subjects: MATERIAIS, MATÉRIA CONDENSADA, FILMES FINOS, FÍSICA DE PLASMAS

    Acesso à fonteAcesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
    • ABNT

      CRIADO, Denise et al. Structural analysis of silicon oxynitride films deposited by PECVD. Materials Science and Engineering B, 2004Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.mseb.2004.05.017. Acesso em: 13 nov. 2025.
    • APA

      Criado, D., Alayo Chávez, M. I., Pereyra, I., & Fantini, M. C. de A. (2004). Structural analysis of silicon oxynitride films deposited by PECVD. Materials Science and Engineering B. doi:10.1016/j.mseb.2004.05.017
    • NLM

      Criado D, Alayo Chávez MI, Pereyra I, Fantini MC de A. Structural analysis of silicon oxynitride films deposited by PECVD [Internet]. Materials Science and Engineering B. 2004 ;[citado 2025 nov. 13 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.mseb.2004.05.017
    • Vancouver

      Criado D, Alayo Chávez MI, Pereyra I, Fantini MC de A. Structural analysis of silicon oxynitride films deposited by PECVD [Internet]. Materials Science and Engineering B. 2004 ;[citado 2025 nov. 13 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.mseb.2004.05.017
  • Source: Materials Science and Engineering B. Unidades: IF, EP

    Subjects: MATERIAIS, MATÉRIA CONDENSADA, FOTOLUMINESCÊNCIA

    Acesso à fonteAcesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
    • ABNT

      PEREYRA, Inés et al. Evidence of clusters size-dependent photoluminescence on silicon-rich silicon oxynitride films. Materials Science and Engineering B, 2004Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.mseb.2004.05.015. Acesso em: 13 nov. 2025.
    • APA

      Pereyra, I., Fantini, M. C. de A., Alayo Chávez, M. I., Oliveira, R. A. R., Ribeiro, M., & Scopel, W. L. (2004). Evidence of clusters size-dependent photoluminescence on silicon-rich silicon oxynitride films. Materials Science and Engineering B. doi:10.1016/j.mseb.2004.05.015
    • NLM

      Pereyra I, Fantini MC de A, Alayo Chávez MI, Oliveira RAR, Ribeiro M, Scopel WL. Evidence of clusters size-dependent photoluminescence on silicon-rich silicon oxynitride films [Internet]. Materials Science and Engineering B. 2004 ;[citado 2025 nov. 13 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.mseb.2004.05.015
    • Vancouver

      Pereyra I, Fantini MC de A, Alayo Chávez MI, Oliveira RAR, Ribeiro M, Scopel WL. Evidence of clusters size-dependent photoluminescence on silicon-rich silicon oxynitride films [Internet]. Materials Science and Engineering B. 2004 ;[citado 2025 nov. 13 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.mseb.2004.05.015

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