Caracterização Elétrica de dispositivos SOI MOSFET fabricados com tecnologia sub-micrométrica (2006)
Unidade: EPSubjects: SEMICONDUTORES, TRANSISTORES, MICROELETRÔNICA
ABNT
PAIOLA, Artur Gasparetto. Caracterização Elétrica de dispositivos SOI MOSFET fabricados com tecnologia sub-micrométrica. 2006. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2006. . Acesso em: 16 out. 2024.APA
Paiola, A. G. (2006). Caracterização Elétrica de dispositivos SOI MOSFET fabricados com tecnologia sub-micrométrica (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Paulo.NLM
Paiola AG. Caracterização Elétrica de dispositivos SOI MOSFET fabricados com tecnologia sub-micrométrica. 2006 ;[citado 2024 out. 16 ]Vancouver
Paiola AG. Caracterização Elétrica de dispositivos SOI MOSFET fabricados com tecnologia sub-micrométrica. 2006 ;[citado 2024 out. 16 ]