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Artigo de periodico
Detection of water contaminants by organic transistors as gas sensors in a bottom-gate/bottom-contact cross-linked structure (2023)
Izquierdo, Jose Enrique Eirez ; Cavallari, Marco Roberto ; García, Dennis Cabrera ; Fonseca, Fernando Josepetti ; Quivy, Alain André
Source: Sensors. Unidades: EP, IF
Subjects: SEMICONDUTORES, FILMES FINOS, ESPECTROSCOPIA
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ABNT
IZQUIERDO, Jose Enrique Eirez et al. Detection of water contaminants by organic transistors as gas sensors in a bottom-gate/bottom-contact cross-linked structure. Sensors, v. 23, n. 18, 2023Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.3390/s23187981. Acesso em: 17 out. 2024.
APA
Izquierdo, J. E. E., Cavallari, M. R., García, D. C., Fonseca, F. J., & Quivy, A. A. (2023). Detection of water contaminants by organic transistors as gas sensors in a bottom-gate/bottom-contact cross-linked structure. Sensors, 23( 18). doi:10.3390/s23187981
NLM
Izquierdo JEE, Cavallari MR, García DC, Fonseca FJ, Quivy AA. Detection of water contaminants by organic transistors as gas sensors in a bottom-gate/bottom-contact cross-linked structure [Internet]. Sensors. 2023 ; 23( 18):[citado 2024 out. 17 ] Available from: https://doi.org/10.3390/s23187981
Vancouver
Izquierdo JEE, Cavallari MR, García DC, Fonseca FJ, Quivy AA. Detection of water contaminants by organic transistors as gas sensors in a bottom-gate/bottom-contact cross-linked structure [Internet]. Sensors. 2023 ; 23( 18):[citado 2024 out. 17 ] Available from: https://doi.org/10.3390/s23187981
Trabalho de evento
Development of the prism-coupler model for the design of a biosensor based on SPR technology for fast diagnostics (2022)
Mazzeo, A.; Canal, Gustavo Paganini ; Alayo Chávez, Marco Isaías
Conference titles: 36 th - Symposium on Microelectronics Technology (SBMICRO). Unidades: IF, EP
Subjects: FÍSICA DE PLASMAS, FILMES FINOS, NANOTECNOLOGIA, SENSORES BIOMÉDICOS, PLASMA (MICROELETRÔNICA)
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ABNT
MAZZEO, A. e CANAL, Gustavo Paganini e ALAYO CHÁVEZ, Marco Isaías. Development of the prism-coupler model for the design of a biosensor based on SPR technology for fast diagnostics. 2022, Anais.. New York: Instituto de Física, Universidade de São Paulo, 2022. Disponível em: https://doi.org/10.1109/SBMICRO55822.2022.9881033. Acesso em: 17 out. 2024.
APA
Mazzeo, A., Canal, G. P., & Alayo Chávez, M. I. (2022). Development of the prism-coupler model for the design of a biosensor based on SPR technology for fast diagnostics. In . New York: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. doi:10.1109/SBMICRO55822.2022.9881033
NLM
Mazzeo A, Canal GP, Alayo Chávez MI. Development of the prism-coupler model for the design of a biosensor based on SPR technology for fast diagnostics [Internet]. 2022 ;[citado 2024 out. 17 ] Available from: https://doi.org/10.1109/SBMICRO55822.2022.9881033
Vancouver
Mazzeo A, Canal GP, Alayo Chávez MI. Development of the prism-coupler model for the design of a biosensor based on SPR technology for fast diagnostics [Internet]. 2022 ;[citado 2024 out. 17 ] Available from: https://doi.org/10.1109/SBMICRO55822.2022.9881033
Trabalho de evento-resumo
OPTICAL AND ELECTRICAL CHARACTERIZATION OF TITANIUM OXIDE THIN FILMS (2020)
Mendonça, Bianca Jardim; Chubaci, José Fernando Diniz; Matsuoka, Masao; Silva, Antonio Ferreira da; Zambom, Luís da Silva ; Mansano, Ronaldo Domingues
Conference titles: Encontro de Outono da Sociedade Brasileira de Física. Unidades: IF, EP
Assunto: FILMES FINOS
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ABNT
MENDONÇA, Bianca Jardim et al. OPTICAL AND ELECTRICAL CHARACTERIZATION OF TITANIUM OXIDE THIN FILMS. 2020, Anais.. São Paulo: SBF-Sociedade Brasileira de Física, 2020. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/eosbf/2020/sys/resumos/R0291-1.pdf. Acesso em: 17 out. 2024.
APA
Mendonça, B. J., Chubaci, J. F. D., Matsuoka, M., Silva, A. F. da, Zambom, L. da S., & Mansano, R. D. (2020). OPTICAL AND ELECTRICAL CHARACTERIZATION OF TITANIUM OXIDE THIN FILMS. In . São Paulo: SBF-Sociedade Brasileira de Física. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/eosbf/2020/sys/resumos/R0291-1.pdf
NLM
Mendonça BJ, Chubaci JFD, Matsuoka M, Silva AF da, Zambom L da S, Mansano RD. OPTICAL AND ELECTRICAL CHARACTERIZATION OF TITANIUM OXIDE THIN FILMS [Internet]. 2020 ;[citado 2024 out. 17 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/eosbf/2020/sys/resumos/R0291-1.pdf
Vancouver
Mendonça BJ, Chubaci JFD, Matsuoka M, Silva AF da, Zambom L da S, Mansano RD. OPTICAL AND ELECTRICAL CHARACTERIZATION OF TITANIUM OXIDE THIN FILMS [Internet]. 2020 ;[citado 2024 out. 17 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/eosbf/2020/sys/resumos/R0291-1.pdf
Artigo de periodico
Organic Dielectric Films for Flexible Transistors as Gas Sensors (2020)
García, Dennis Cabrera; Eirez Izquierdo, José Enrique ; Cavallari, Marco Roberto ; Quivy, Alain André; Fonseca, Fernando Josepetti
Source: Journal of Integrated Circuits and Systems. Unidades: IF, EP
Subjects: ÓPTICA ELETRÔNICA, TRANSISTORES, POLÍMEROS (MATERIAIS), FILMES FINOS, CAPACITORES, DIELÉTRICOS, SEMICONDUTORES
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ABNT
GARCÍA, Dennis Cabrera et al. Organic Dielectric Films for Flexible Transistors as Gas Sensors. Journal of Integrated Circuits and Systems, v. 15, n. 2, 2020Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.29292/jics.v15i2.170. Acesso em: 17 out. 2024.
APA
García, D. C., Eirez Izquierdo, J. E., Cavallari, M. R., Quivy, A. A., & Fonseca, F. J. (2020). Organic Dielectric Films for Flexible Transistors as Gas Sensors. Journal of Integrated Circuits and Systems, 15( 2). doi:10.29292/jics.v15i2.170
NLM
García DC, Eirez Izquierdo JE, Cavallari MR, Quivy AA, Fonseca FJ. Organic Dielectric Films for Flexible Transistors as Gas Sensors [Internet]. Journal of Integrated Circuits and Systems. 2020 ; 15( 2):[citado 2024 out. 17 ] Available from: https://doi.org/10.29292/jics.v15i2.170
Vancouver
García DC, Eirez Izquierdo JE, Cavallari MR, Quivy AA, Fonseca FJ. Organic Dielectric Films for Flexible Transistors as Gas Sensors [Internet]. Journal of Integrated Circuits and Systems. 2020 ; 15( 2):[citado 2024 out. 17 ] Available from: https://doi.org/10.29292/jics.v15i2.170
Trabalho de evento-resumo
Production and Characterization of TiO2 Thin Films (2018)
Mendonça, Bianca Jardim; Chubaci, Jose Fernando Diniz; Soares, Renato Vasconcelos Coura; Goveia, Gilson Schaberle; Fidelis, Daniel Gonçalves; Mansano, Ronaldo Domingues ; Zambom, Luís da Silva
Source: Resumos. Conference titles: Encontro de Outono. Unidades: IF, EP
Subjects: FÍSICA, FILMES FINOS
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ABNT
MENDONÇA, Bianca Jardim et al. Production and Characterization of TiO2 Thin Films. 2018, Anais.. São Paulo: SBF, 2018. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xli/sys/resumos/R0474-1.pdf. Acesso em: 17 out. 2024.
APA
Mendonça, B. J., Chubaci, J. F. D., Soares, R. V. C., Goveia, G. S., Fidelis, D. G., Mansano, R. D., & Zambom, L. da S. (2018). Production and Characterization of TiO2 Thin Films. In Resumos. São Paulo: SBF. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xli/sys/resumos/R0474-1.pdf
NLM
Mendonça BJ, Chubaci JFD, Soares RVC, Goveia GS, Fidelis DG, Mansano RD, Zambom L da S. Production and Characterization of TiO2 Thin Films [Internet]. Resumos. 2018 ;[citado 2024 out. 17 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xli/sys/resumos/R0474-1.pdf
Vancouver
Mendonça BJ, Chubaci JFD, Soares RVC, Goveia GS, Fidelis DG, Mansano RD, Zambom L da S. Production and Characterization of TiO2 Thin Films [Internet]. Resumos. 2018 ;[citado 2024 out. 17 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xli/sys/resumos/R0474-1.pdf
Trabalho de evento-anais periodico
The structural properties of the protective layer of microlamps under polarization (2017)
Cassimiro, Vinicius Roberto de Sylos; Fantini, Márcia Carvalho de Abreu ; Pereyra, Inés ; Páez Carreño, Marcelo Nelson ; Alayo Chávez, Marco Isaías ; Rehder, Gustavo Pamplona ; Cunha Junior, Rubens Martins; Trcera, Nicolas
Source: Proceedings Science BWSP. Conference titles: Brazilian Workshop on Semiconductor Physics. Unidades: IF, EP
Subjects: CRISTALOGRAFIA FÍSICA, FILMES FINOS, ESPECTROSCOPIA DE RAIO X
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ABNT
CASSIMIRO, Vinicius Roberto de Sylos et al. The structural properties of the protective layer of microlamps under polarization. Proceedings Science BWSP. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://doi.org/10.17648/bwsp-2017-70051. Acesso em: 17 out. 2024. , 2017
APA
Cassimiro, V. R. de S., Fantini, M. C. de A., Pereyra, I., Páez Carreño, M. N., Alayo Chávez, M. I., Rehder, G. P., et al. (2017). The structural properties of the protective layer of microlamps under polarization. Proceedings Science BWSP. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. doi:10.17648/bwsp-2017-70051
NLM
Cassimiro VR de S, Fantini MC de A, Pereyra I, Páez Carreño MN, Alayo Chávez MI, Rehder GP, Cunha Junior RM, Trcera N. The structural properties of the protective layer of microlamps under polarization [Internet]. Proceedings Science BWSP. 2017 ; 1 4 .[citado 2024 out. 17 ] Available from: https://doi.org/10.17648/bwsp-2017-70051
Vancouver
Cassimiro VR de S, Fantini MC de A, Pereyra I, Páez Carreño MN, Alayo Chávez MI, Rehder GP, Cunha Junior RM, Trcera N. The structural properties of the protective layer of microlamps under polarization [Internet]. Proceedings Science BWSP. 2017 ; 1 4 .[citado 2024 out. 17 ] Available from: https://doi.org/10.17648/bwsp-2017-70051
Artigo de periodico
Cd and In-doping in thin film SnO2 (2017)
Schell, Juliana; Lupascu, Doru C; Carbonari, Artur Wilson; Mansano, Ronaldo Domingues ; Freitas, Rafael Sá de; Gonçalves, João Nuno; Dang, Thien Thanh; Vianden, Reiner
Source: Journal of Applied Physics. Unidades: EP, IF
Subjects: MAGNETISMO, FENOMENOS MAGNÉTICOS, FILMES FINOS
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ABNT
SCHELL, Juliana et al. Cd and In-doping in thin film SnO2. Journal of Applied Physics, v. 121, n. 19, p. 195303/1-195303/6, 2017Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/1.4983669. Acesso em: 17 out. 2024.
APA
Schell, J., Lupascu, D. C., Carbonari, A. W., Mansano, R. D., Freitas, R. S. de, Gonçalves, J. N., et al. (2017). Cd and In-doping in thin film SnO2. Journal of Applied Physics, 121( 19), 195303/1-195303/6. doi:10.1063/1.4983669
NLM
Schell J, Lupascu DC, Carbonari AW, Mansano RD, Freitas RS de, Gonçalves JN, Dang TT, Vianden R. Cd and In-doping in thin film SnO2 [Internet]. Journal of Applied Physics. 2017 ; 121( 19): 195303/1-195303/6.[citado 2024 out. 17 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.4983669
Vancouver
Schell J, Lupascu DC, Carbonari AW, Mansano RD, Freitas RS de, Gonçalves JN, Dang TT, Vianden R. Cd and In-doping in thin film SnO2 [Internet]. Journal of Applied Physics. 2017 ; 121( 19): 195303/1-195303/6.[citado 2024 out. 17 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.4983669
Trabalho de evento-anais periodico
Nanostructured diamond-like carbon films characterization (2010)
Mousinho, Ana Paula; Mansano, Ronaldo Domingues ; Salvadori, Maria Cecília Barbosa da Silveira
Source: Journal of Alloys and Compounds. Conference titles: International Symposium on Metastable, Amorphous and Nanostructured Materials. Unidades: EP, IF
Subjects: FILMES FINOS, NANOPARTÍCULAS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
MOUSINHO, Ana Paula e MANSANO, Ronaldo Domingues e SALVADORI, Maria Cecília Barbosa da Silveira. Nanostructured diamond-like carbon films characterization. Journal of Alloys and Compounds. Amsterdam: Elsevier Science. Disponível em: http://www.sciencedirect.com/science/journal/09258388. Acesso em: 17 out. 2024. , 2010
APA
Mousinho, A. P., Mansano, R. D., & Salvadori, M. C. B. da S. (2010). Nanostructured diamond-like carbon films characterization. Journal of Alloys and Compounds. Amsterdam: Elsevier Science. Recuperado de http://www.sciencedirect.com/science/journal/09258388
NLM
Mousinho AP, Mansano RD, Salvadori MCB da S. Nanostructured diamond-like carbon films characterization [Internet]. Journal of Alloys and Compounds. 2010 ; 495 620-624.[citado 2024 out. 17 ] Available from: http://www.sciencedirect.com/science/journal/09258388
Vancouver
Mousinho AP, Mansano RD, Salvadori MCB da S. Nanostructured diamond-like carbon films characterization [Internet]. Journal of Alloys and Compounds. 2010 ; 495 620-624.[citado 2024 out. 17 ] Available from: http://www.sciencedirect.com/science/journal/09258388
Trabalho de evento-resumo
Hydrogen influence on optical and electrical properties of nanostructured indium nitride (InN) films (2009)
Sparvoli, Marina; Mansano, Ronaldo Domingues ; Chubaci, Jose Fernando Diniz
Source: Resumo. Conference titles: Encontro Brasileiro de Física dos Plasmas. Unidades: IF, EP
Subjects: FÍSICA DE PLASMAS, FILMES FINOS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
SPARVOLI, Marina e MANSANO, Ronaldo Domingues e CHUBACI, Jose Fernando Diniz. Hydrogen influence on optical and electrical properties of nanostructured indium nitride (InN) films. 2009, Anais.. São Paulo: SBF, 2009. Disponível em: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/ebfp/10/sys/resumos/R0052-1.pdf. Acesso em: 17 out. 2024.
APA
Sparvoli, M., Mansano, R. D., & Chubaci, J. F. D. (2009). Hydrogen influence on optical and electrical properties of nanostructured indium nitride (InN) films. In Resumo. São Paulo: SBF. Recuperado de http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/ebfp/10/sys/resumos/R0052-1.pdf
NLM
Sparvoli M, Mansano RD, Chubaci JFD. Hydrogen influence on optical and electrical properties of nanostructured indium nitride (InN) films [Internet]. Resumo. 2009 ;[citado 2024 out. 17 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/ebfp/10/sys/resumos/R0052-1.pdf
Vancouver
Sparvoli M, Mansano RD, Chubaci JFD. Hydrogen influence on optical and electrical properties of nanostructured indium nitride (InN) films [Internet]. Resumo. 2009 ;[citado 2024 out. 17 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/ebfp/10/sys/resumos/R0052-1.pdf
Artigo de periodico
Influence of substrate surface topography in the deposition of nanostructured diamond-like carbon films by high density plasma chemical vapor deposition (2009)
Mousinho, Ana Paulo; Mansano, Ronaldo Domingues ; Salvadori, Maria Cecília Barbosa da Silveira
Source: Surface & Coatings Technology. Unidades: EP, IF
Subjects: NANOTECNOLOGIA, FILMES FINOS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
MOUSINHO, Ana Paulo e MANSANO, Ronaldo Domingues e SALVADORI, Maria Cecília Barbosa da Silveira. Influence of substrate surface topography in the deposition of nanostructured diamond-like carbon films by high density plasma chemical vapor deposition. Surface & Coatings Technology, v. 203, n. 9, p. 1193-1198, 2009Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.surfcoat.2008.10.025. Acesso em: 17 out. 2024.
APA
Mousinho, A. P., Mansano, R. D., & Salvadori, M. C. B. da S. (2009). Influence of substrate surface topography in the deposition of nanostructured diamond-like carbon films by high density plasma chemical vapor deposition. Surface & Coatings Technology, 203( 9), 1193-1198. doi:10.1016/j.surfcoat.2008.10.025
NLM
Mousinho AP, Mansano RD, Salvadori MCB da S. Influence of substrate surface topography in the deposition of nanostructured diamond-like carbon films by high density plasma chemical vapor deposition [Internet]. Surface & Coatings Technology. 2009 ; 203( 9): 1193-1198.[citado 2024 out. 17 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.surfcoat.2008.10.025
Vancouver
Mousinho AP, Mansano RD, Salvadori MCB da S. Influence of substrate surface topography in the deposition of nanostructured diamond-like carbon films by high density plasma chemical vapor deposition [Internet]. Surface & Coatings Technology. 2009 ; 203( 9): 1193-1198.[citado 2024 out. 17 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.surfcoat.2008.10.025
Trabalho de evento-resumo
Deposition and characterization of germanate glass optical waveguides (2009)
Cacho, Vanessa Duarte del; Kassab, Luciana Reyes Pires ; Santos, Antonio Domingues dos; Alayo Chávez, Marco Isaías ; Silva, Davinson Mariano da ; Siarkowski, Acácio Luiz
Source: Invited and Oral Presentations. Conference titles: International Conference on the Physics of Non-Crystalline Solids. Unidades: IF, EP
Subjects: FILMES FINOS, GUIAS DE ONDA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
CACHO, Vanessa Duarte del et al. Deposition and characterization of germanate glass optical waveguides. 2009, Anais.. São Carlos, SP: UFSC, 2009. Disponível em: http://www.pncs-crystallization.com.br/arquivos/book_of_abstracts.pdf. Acesso em: 17 out. 2024.
APA
Cacho, V. D. del, Kassab, L. R. P., Santos, A. D. dos, Alayo Chávez, M. I., Silva, D. M. da, & Siarkowski, A. L. (2009). Deposition and characterization of germanate glass optical waveguides. In Invited and Oral Presentations. São Carlos, SP: UFSC. Recuperado de http://www.pncs-crystallization.com.br/arquivos/book_of_abstracts.pdf
NLM
Cacho VD del, Kassab LRP, Santos AD dos, Alayo Chávez MI, Silva DM da, Siarkowski AL. Deposition and characterization of germanate glass optical waveguides [Internet]. Invited and Oral Presentations. 2009 ;[citado 2024 out. 17 ] Available from: http://www.pncs-crystallization.com.br/arquivos/book_of_abstracts.pdf
Vancouver
Cacho VD del, Kassab LRP, Santos AD dos, Alayo Chávez MI, Silva DM da, Siarkowski AL. Deposition and characterization of germanate glass optical waveguides [Internet]. Invited and Oral Presentations. 2009 ;[citado 2024 out. 17 ] Available from: http://www.pncs-crystallization.com.br/arquivos/book_of_abstracts.pdf
Trabalho de evento-resumo
Nano-structured diamond-like carbon films obtained by high density plasma chemical vapor deposition (2008)
Mansano, Ronaldo Domingues ; Mousinho, Ana Paula; Salvadori, Maria Cecília Barbosa da Silveira
Source: Resumo. Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada. Unidades: EP, IF
Subjects: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA, MATERIAIS NANOESTRUTURADOS, FILMES FINOS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
MANSANO, Ronaldo Domingues e MOUSINHO, Ana Paula e SALVADORI, Maria Cecília Barbosa da Silveira. Nano-structured diamond-like carbon films obtained by high density plasma chemical vapor deposition. 2008, Anais.. São Paulo: SBF, 2008. Disponível em: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxxi/sys/resumos/R0145-3.pdf. Acesso em: 17 out. 2024.
APA
Mansano, R. D., Mousinho, A. P., & Salvadori, M. C. B. da S. (2008). Nano-structured diamond-like carbon films obtained by high density plasma chemical vapor deposition. In Resumo. São Paulo: SBF. Recuperado de http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxxi/sys/resumos/R0145-3.pdf
NLM
Mansano RD, Mousinho AP, Salvadori MCB da S. Nano-structured diamond-like carbon films obtained by high density plasma chemical vapor deposition [Internet]. Resumo. 2008 ;[citado 2024 out. 17 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxxi/sys/resumos/R0145-3.pdf
Vancouver
Mansano RD, Mousinho AP, Salvadori MCB da S. Nano-structured diamond-like carbon films obtained by high density plasma chemical vapor deposition [Internet]. Resumo. 2008 ;[citado 2024 out. 17 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxxi/sys/resumos/R0145-3.pdf
Trabalho de evento-resumo
Caracterização de filmes de silício amorfo depositados por sputtering e dopados com fósforo para a fabricação de transistor de filme fino (2008)
Nunes, Carolina Carvalho Previdi; Mansano, Ronaldo Domingues ; Zambon, Luís da Silva ; Tabacniks, Manfredo Harri
Source: Resumo. Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada. Unidades: EP, IF
Subjects: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA, FILMES FINOS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
NUNES, Carolina Carvalho Previdi et al. Caracterização de filmes de silício amorfo depositados por sputtering e dopados com fósforo para a fabricação de transistor de filme fino. 2008, Anais.. São Paulo: SBF, 2008. Disponível em: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxxi/sys/resumos/R0829-1.pdf. Acesso em: 17 out. 2024.
APA
Nunes, C. C. P., Mansano, R. D., Zambon, L. da S., & Tabacniks, M. H. (2008). Caracterização de filmes de silício amorfo depositados por sputtering e dopados com fósforo para a fabricação de transistor de filme fino. In Resumo. São Paulo: SBF. Recuperado de http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxxi/sys/resumos/R0829-1.pdf
NLM
Nunes CCP, Mansano RD, Zambon L da S, Tabacniks MH. Caracterização de filmes de silício amorfo depositados por sputtering e dopados com fósforo para a fabricação de transistor de filme fino [Internet]. Resumo. 2008 ;[citado 2024 out. 17 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxxi/sys/resumos/R0829-1.pdf
Vancouver
Nunes CCP, Mansano RD, Zambon L da S, Tabacniks MH. Caracterização de filmes de silício amorfo depositados por sputtering e dopados com fósforo para a fabricação de transistor de filme fino [Internet]. Resumo. 2008 ;[citado 2024 out. 17 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxxi/sys/resumos/R0829-1.pdf
Trabalho de evento-anais periodico
Al thermal diffusion in `alfa´-`Si IND.1-X´`C IND.X´:H Thin Film Studied by XAFS (2007)
Prado, Rogerio Junqueira; Fantini, Márcia Carvalho de Abreu ; Páez Carreño, Marcelo Nelson ; Pereyra, Inés ; Flank, A M
Source: AIP Conference Proceedings. Conference titles: X-Ray Absorption Fine Structure - XAFS 13th International Conference. Unidades: IF, EP
Subjects: FILMES FINOS, DIFRAÇÃO POR RAIOS X
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
PRADO, Rogerio Junqueira et al. Al thermal diffusion in `alfa´-`Si IND.1-X´`C IND.X´:H Thin Film Studied by XAFS. AIP Conference Proceedings. New York: The Institute. Disponível em: http://proceedings.aip.org/getpdf/servlet/GetPDFServlet?filetype=pdf&id=APCPCS000882000001000529000001&idtype=cvips. Acesso em: 17 out. 2024. , 2007
APA
Prado, R. J., Fantini, M. C. de A., Páez Carreño, M. N., Pereyra, I., & Flank, A. M. (2007). Al thermal diffusion in `alfa´-`Si IND.1-X´`C IND.X´:H Thin Film Studied by XAFS. AIP Conference Proceedings. New York: The Institute. Recuperado de http://proceedings.aip.org/getpdf/servlet/GetPDFServlet?filetype=pdf&id=APCPCS000882000001000529000001&idtype=cvips
NLM
Prado RJ, Fantini MC de A, Páez Carreño MN, Pereyra I, Flank AM. Al thermal diffusion in `alfa´-`Si IND.1-X´`C IND.X´:H Thin Film Studied by XAFS [Internet]. AIP Conference Proceedings. 2007 ; 882 529-531.[citado 2024 out. 17 ] Available from: http://proceedings.aip.org/getpdf/servlet/GetPDFServlet?filetype=pdf&id=APCPCS000882000001000529000001&idtype=cvips
Vancouver
Prado RJ, Fantini MC de A, Páez Carreño MN, Pereyra I, Flank AM. Al thermal diffusion in `alfa´-`Si IND.1-X´`C IND.X´:H Thin Film Studied by XAFS [Internet]. AIP Conference Proceedings. 2007 ; 882 529-531.[citado 2024 out. 17 ] Available from: http://proceedings.aip.org/getpdf/servlet/GetPDFServlet?filetype=pdf&id=APCPCS000882000001000529000001&idtype=cvips
Trabalho de evento-resumo
Anisotropia de resistividade elétrica em filmes finos nanoestruturados (2007)
Teixeira, Fernanda de Sá; Mansano, Ronaldo Domingues ; Salvadori, Maria Cecília Barbosa da Silveira; Cattani, Mauro Sérgio Dorsa ; Brown, Ian G
Source: Resumo. Conference titles: Encontro Nacional de Física da Materia Condensada. Unidades: IF, EP
Subjects: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA, FILMES FINOS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
TEIXEIRA, Fernanda de Sá et al. Anisotropia de resistividade elétrica em filmes finos nanoestruturados. 2007, Anais.. São Paulo: SBF, 2007. Disponível em: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxx/sys/resumos/R0230-7.pdf. Acesso em: 17 out. 2024.
APA
Teixeira, F. de S., Mansano, R. D., Salvadori, M. C. B. da S., Cattani, M. S. D., & Brown, I. G. (2007). Anisotropia de resistividade elétrica em filmes finos nanoestruturados. In Resumo. São Paulo: SBF. Recuperado de http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxx/sys/resumos/R0230-7.pdf
NLM
Teixeira F de S, Mansano RD, Salvadori MCB da S, Cattani MSD, Brown IG. Anisotropia de resistividade elétrica em filmes finos nanoestruturados [Internet]. Resumo. 2007 ;[citado 2024 out. 17 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxx/sys/resumos/R0230-7.pdf
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Teixeira F de S, Mansano RD, Salvadori MCB da S, Cattani MSD, Brown IG. Anisotropia de resistividade elétrica em filmes finos nanoestruturados [Internet]. Resumo. 2007 ;[citado 2024 out. 17 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxx/sys/resumos/R0230-7.pdf
Artigo de periodico
Study of the mechanical and structural properties of silicon oxynitride films for optical applications (2006)
Criado, Denise ; Alayo Chávez, Marco Isaías ; Fantini, Márcia Carvalho de Abreu ; Pereyra, Inés
Source: Journal of non-crystalline solids. Unidades: IF, EP
Subjects: DIFRAÇÃO POR RAIOS X, ESTRUTURA DOS SÓLIDOS, FILMES FINOS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
CRIADO, Denise et al. Study of the mechanical and structural properties of silicon oxynitride films for optical applications. Journal of non-crystalline solids, v. 352, n. 23-25, p. 2319-2323, 2006Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.jnoncrysol.2006.03.012. Acesso em: 17 out. 2024.
APA
Criado, D., Alayo Chávez, M. I., Fantini, M. C. de A., & Pereyra, I. (2006). Study of the mechanical and structural properties of silicon oxynitride films for optical applications. Journal of non-crystalline solids, 352( 23-25), 2319-2323. doi:10.1016/j.jnoncrysol.2006.03.012
NLM
Criado D, Alayo Chávez MI, Fantini MC de A, Pereyra I. Study of the mechanical and structural properties of silicon oxynitride films for optical applications [Internet]. Journal of non-crystalline solids. 2006 ; 352( 23-25): 2319-2323.[citado 2024 out. 17 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.jnoncrysol.2006.03.012
Vancouver
Criado D, Alayo Chávez MI, Fantini MC de A, Pereyra I. Study of the mechanical and structural properties of silicon oxynitride films for optical applications [Internet]. Journal of non-crystalline solids. 2006 ; 352( 23-25): 2319-2323.[citado 2024 out. 17 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.jnoncrysol.2006.03.012
Artigo de periodico
Local bonding in PECVD-"SiO IND.X" "N IND.Y" films (2006)
Criado, Denise ; Alayo Chávez, Marco Isaías ; Fantini, Márcia Carvalho de Abreu ; Pereyra, Inés
Source: Journal of Non-Crystalline Solids. Unidades: IF, EP
Subjects: FILMES FINOS, ESPECTROSCOPIA DE RAIO X
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ABNT
CRIADO, Denise et al. Local bonding in PECVD-"SiO IND.X" "N IND.Y" films. Journal of Non-Crystalline Solids, v. 352, n. 9-20, p. 1298-1302, 2006Tradução . . Disponível em: http://www.sciencedirect.com/science?_ob=PublicationURL&_cdi=5594&_pubType=J&_auth=y&_acct=C000049650&_version=1&_urlVersion=0&_userid=972067&md5=214bac5d32eab2194b6eace9325ac20e. Acesso em: 17 out. 2024.
APA
Criado, D., Alayo Chávez, M. I., Fantini, M. C. de A., & Pereyra, I. (2006). Local bonding in PECVD-"SiO IND.X" "N IND.Y" films. Journal of Non-Crystalline Solids, 352( 9-20), 1298-1302. Recuperado de http://www.sciencedirect.com/science?_ob=PublicationURL&_cdi=5594&_pubType=J&_auth=y&_acct=C000049650&_version=1&_urlVersion=0&_userid=972067&md5=214bac5d32eab2194b6eace9325ac20e
NLM
Criado D, Alayo Chávez MI, Fantini MC de A, Pereyra I. Local bonding in PECVD-"SiO IND.X" "N IND.Y" films [Internet]. Journal of Non-Crystalline Solids. 2006 ; 352( 9-20): 1298-1302.[citado 2024 out. 17 ] Available from: http://www.sciencedirect.com/science?_ob=PublicationURL&_cdi=5594&_pubType=J&_auth=y&_acct=C000049650&_version=1&_urlVersion=0&_userid=972067&md5=214bac5d32eab2194b6eace9325ac20e
Vancouver
Criado D, Alayo Chávez MI, Fantini MC de A, Pereyra I. Local bonding in PECVD-"SiO IND.X" "N IND.Y" films [Internet]. Journal of Non-Crystalline Solids. 2006 ; 352( 9-20): 1298-1302.[citado 2024 out. 17 ] Available from: http://www.sciencedirect.com/science?_ob=PublicationURL&_cdi=5594&_pubType=J&_auth=y&_acct=C000049650&_version=1&_urlVersion=0&_userid=972067&md5=214bac5d32eab2194b6eace9325ac20e
Artigo de periodico
Characterization of Si1-xCx:H thin films deposited by PECVD for SiCOI heterojuntion fabrication (2006)
Forhan, Neisy Amparo Escobar; Fantini, Marcia ; Pereyra, Inés
Source: Journal of the Brazilian Chemical Society. Unidades: IF, EP
Subjects: FÍSICO-QUÍMICA, CRISTALOGRAFIA FÍSICA, ESPECTROSCOPIA RAMAN, DIFRAÇÃO POR RAIOS X, ESPECTROSCOPIA INFRAVERMELHA, FILMES FINOS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
FORHAN, Neisy Amparo Escobar e FANTINI, Marcia e PEREYRA, Inés. Characterization of Si1-xCx:H thin films deposited by PECVD for SiCOI heterojuntion fabrication. Journal of the Brazilian Chemical Society, v. 17, n. 6, p. 1158-1162, 2006Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1590/S0103-50532006000600013. Acesso em: 17 out. 2024.
APA
Forhan, N. A. E., Fantini, M., & Pereyra, I. (2006). Characterization of Si1-xCx:H thin films deposited by PECVD for SiCOI heterojuntion fabrication. Journal of the Brazilian Chemical Society, 17( 6), 1158-1162. doi:10.1590/S0103-50532006000600013
NLM
Forhan NAE, Fantini M, Pereyra I. Characterization of Si1-xCx:H thin films deposited by PECVD for SiCOI heterojuntion fabrication [Internet]. Journal of the Brazilian Chemical Society. 2006 ; 17( 6): 1158-1162.[citado 2024 out. 17 ] Available from: https://doi.org/10.1590/S0103-50532006000600013
Vancouver
Forhan NAE, Fantini M, Pereyra I. Characterization of Si1-xCx:H thin films deposited by PECVD for SiCOI heterojuntion fabrication [Internet]. Journal of the Brazilian Chemical Society. 2006 ; 17( 6): 1158-1162.[citado 2024 out. 17 ] Available from: https://doi.org/10.1590/S0103-50532006000600013
Trabalho de evento-resumo
Fabricação, desenvolvimento e interface de micro SQUIDs (2005)
Ortiz, E B; Takeuchi, A Y; Guimarães, A. P.; Favre-Nicolin, E; Sampaio, L; Cernicchiaro, Geraldo R C ; Pojar, Mariana ; Schoenmaker, Jeroen ; Romero, Sérgio Antônio; Santos, A. D.; Seabra, Antonio Carlos
Source: Resumos. Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada. Unidades: IF, EP
Subjects: MATÉRIA CONDENSADA, FILMES FINOS, SUPERCONDUTIVIDADE
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
ORTIZ, E B et al. Fabricação, desenvolvimento e interface de micro SQUIDs. 2005, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física, 2005. Disponível em: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxviii/sys/resumos/R0935-3.pdf. Acesso em: 17 out. 2024.
APA
Ortiz, E. B., Takeuchi, A. Y., Guimarães, A. P., Favre-Nicolin, E., Sampaio, L., Cernicchiaro, G. R. C., et al. (2005). Fabricação, desenvolvimento e interface de micro SQUIDs. In Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física. Recuperado de http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxviii/sys/resumos/R0935-3.pdf
NLM
Ortiz EB, Takeuchi AY, Guimarães AP, Favre-Nicolin E, Sampaio L, Cernicchiaro GRC, Pojar M, Schoenmaker J, Romero SA, Santos AD, Seabra AC. Fabricação, desenvolvimento e interface de micro SQUIDs [Internet]. Resumos. 2005 ;[citado 2024 out. 17 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxviii/sys/resumos/R0935-3.pdf
Vancouver
Ortiz EB, Takeuchi AY, Guimarães AP, Favre-Nicolin E, Sampaio L, Cernicchiaro GRC, Pojar M, Schoenmaker J, Romero SA, Santos AD, Seabra AC. Fabricação, desenvolvimento e interface de micro SQUIDs [Internet]. Resumos. 2005 ;[citado 2024 out. 17 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxviii/sys/resumos/R0935-3.pdf
Trabalho de evento-resumo
Xanes characterization in PECVD-SiOxNy films (2004)
Criado, Denise ; Alayo Chávez, Marco Isaías ; Pereyra, Inés ; Fantini, Márcia Carvalho de Abreu
Source: Program. Conference titles: Encontro da SBPMat. Unidades: IF, EP
Subjects: MATERIAIS, FILMES FINOS, ESPECTROSCOPIA DE RAIO X
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
CRIADO, Denise et al. Xanes characterization in PECVD-SiOxNy films. 2004, Anais.. São Carlos: SBPMat, 2004. Disponível em: http://www.sbpmat.org.br/3meeting/simposio_b.pdf. Acesso em: 17 out. 2024.
APA
Criado, D., Alayo Chávez, M. I., Pereyra, I., & Fantini, M. C. de A. (2004). Xanes characterization in PECVD-SiOxNy films. In Program. São Carlos: SBPMat. Recuperado de http://www.sbpmat.org.br/3meeting/simposio_b.pdf
NLM
Criado D, Alayo Chávez MI, Pereyra I, Fantini MC de A. Xanes characterization in PECVD-SiOxNy films [Internet]. Program. 2004 ;[citado 2024 out. 17 ] Available from: http://www.sbpmat.org.br/3meeting/simposio_b.pdf
Vancouver
Criado D, Alayo Chávez MI, Pereyra I, Fantini MC de A. Xanes characterization in PECVD-SiOxNy films [Internet]. Program. 2004 ;[citado 2024 out. 17 ] Available from: http://www.sbpmat.org.br/3meeting/simposio_b.pdf

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